AT89C51RD2 / AT89C51ED2 QualPack
在回归分析中最适合的系数为：
T0 = 14.25034317 LN-秒
EA = 1.060043152电子伏特
GAMMA = -3.2454227 LN-仲厘米/ MV
SIGMA = 0.414655753 LN-秒
以调整后的R平方的97.99 ％ 。的固有寿命在使用条件下从该回归计算是
56174年。
结论：
使用上述所确定的系数，时间到达任何累积％破坏程度可估计
考虑到应力的条件。采用105℃和63埃N沟道GATE2氧化物3.3伏，我们可以预期
具有6267平方微米的面积与6174微米主动边缘的电容器的0.01％至约613年失败，
超过十年的技术要求。
测试结果：
AT56.8K有效边TDDB 225C
2,00000E+00
1,00000E+00
0,00000E+00
-1,00000E+00
-2,00000E+00
1,00 1,00 1,00 1,00 1,00 1,00
E+00 E+01 E+02 E+03 E+04 E+05
待定（秒）
AT56.8K有效边TDDB 200C
2,00000E+00
1,00000E+00
0,00000E+00
-1,00000E+00
-2,00000E+00
1,00 1,00 1,00 1,00 1,00 1,00
E+00 E+01 E+02 E+03 E+04 E+05
待定（秒）
AT56.8K有效边TDDB 175
2,00000E+00
1,00000E+00
0,00000E+00
-1,00000E+00
-2,00000E+00
1,00 1,00 1,00 1,00 1,00 1,00
E+00 E+01 E+02 E+03 E+04 E+05
待定（秒）
第0版 - 2003年7月
13
