K9K1G08R0B
K9K1G08B0B
K9K1G08U0B
输入数据锁存周期
t
CLH
CLE
FL灰内存
ADVANCE
t
CH
CE
t
ALS
ALE
t
WC
WE
t
DS
I / O
0
~
7
t
WH
t
DH
t
DS
t
DH
≈
t
WP
t
WP
t
WP
t
DH
t
DS
≈
嚣0
DIN 1
嚣511
后读串行存取周期
（ CLE = L ， WE = H ， ALE = L）
≈
CE
t
REA
RE
t
RC
t
REH
t
CHZ *
t
REA
t
OH
≈
t
REA
≈
t
RHZ *
I /牛
t
RR
R / B
DOUT
DOUT
t
RHZ *
t
OH
DOUT
注意事项：
转换测量
±200mV
从稳态电压与负载。
这个参数进行采样，而不是100 ％测试。
19
≈
≈
