【AnaSem模拟半导体ICVDD系列½电压, ½功耗,±1%高精度电压检】,IC型号VDD301MCTA,VDD301MCTA PDF资料,VDD301MCTA经销商,ic,电子元器件-51电子网

AnaSem

模拟半导体IC

VDD

系列

½电压, ½功耗,

±1%

高精度电压检测

CMOS

电压检测器（内½延迟电路）

牧师C09-09

ANASEM INC 。

..........模拟世界的未来

牧师C09-09

AnaSem

VDD

系列

概述

VDD系列乃用于½电压范围的½功耗，高检测精度的内½延迟电路电压

检测器.

VDD系列达成的检测精度是以集成电路内以温度系数调整的高准

确率参考电压值来½基准。本集成电路采用最新的CMOS生产技术和激

光微调技术，与精锐的生产监控。因为内½有延迟电路，延迟检测时间

不需配合外围元件便可以原厂设定之延迟时间范围来选择。

产品规格书

安纳森半导½

½电压, ½功耗,

±1%

高精度电压检测内½延迟电路

CMOS

电压检测器

无卤素

RoHS指令

符合标准

特点

1.8V 6.0V （可选择用0.1V的步骤）

检测电压范围

··································································

0.7V~6.0V

工½电压范围

··································································

高精度电压检测

····················································· ±1% (V

DET

=1.8V~6.0V)

Typ. 20ppm/°C (V

DET

=1.8V~6.0V)

电压检测温度特征

··································································

S / 10 50毫秒， M / 50 200毫秒，L / 80 400毫秒

延迟时间选择

·························································································

CMOS和N沟道开漏

输出类别

·························································································

½功耗

··································································典型值。 0.6μA （V

=1.5V)

–40°C

工½温度范围

·································································· ~ +85°C

SOT- 23 （ 400毫瓦）， SON - 4 （ 400毫瓦）

小型封装

·························································································

应用范围

微型处理器的从设程序

各类系统的开动从设

电池充电检测

各类系统备用电源，电池开关控制

电池寿½检测

延迟电路设计

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½电压, ½功耗,

±1%

高精度电压检测内½延迟电路

CMOS

电压检测器

牧师C09-09

VDD

系列

产品型号定义

VDD

设计版本

IC内部から

输出½式

A：T

OPR

= –40°C ~ +85°C

T： SOT - 23

N： SON - 4

C： CMOS式输出

N : N-沟道式输出

S： 10毫秒 50毫秒

M： 50毫秒 200毫秒

L： 80毫秒 400毫秒

1 : ±1%

18 ~ 60 :

在1.8V

~ 6.0V检测电压范围内以

0.1V间隔设定检测电压

例如） 18： 1.8V

30 : 3.0V

延迟时间

电压检测精度

检测电压

PIN脚排½ / IC封装记号 (SOT-23)

Pin脚排½

½½.

记号

OUT

输出

接地

电压输入

解说

A B C D E

F F F F

标识特定网络阳离子

OUT

½½

记号

或

18~60

S，M

或

厂方设定

输出模式

检测电压

解说

(顶视图)

延迟时间选择

版本

生产批号

..........模拟世界的未来

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½电压, ½功耗,

±1%

高精度电压检测内½延迟电路

CMOS

电压检测器

牧师C09-09

VDD

系列

PIN脚排½ / IC封装记号 (SON-4)

Pin脚排½

½½

IC内部から

½½

记号

OUT

电压输出

电压输入

解说

A B C D E

F F F F

不接

(开电路)

接地

OUT

记号

或

18~60

S，M

或

厂方设定

输出模式

检测电压

解说

（ TOP VIEW ）

延迟时间选择

版本

生产批号

典型应用电路

CMOS出力の

N-沟道式输出

OUT

100K

OUT

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½电压, ½功耗,

±1%

高精度电压检测内½延迟电路

CMOS

电压检测器

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VDD

系列

IC内部へ

CMOS出力の

N-沟道式输出

电压

参考

延迟

电路

OUT

电压

参考

延迟电路

OUT

VSS

绝对最大工½范围值

项目

电压输入范围

输出电流

电压输出范围

功率耗散

※1)

符号

OUT

SOT-23

SON-4

OPR

英镑

规格

–0.3 ~ +7.0

–0.3 ~ V

+0.3

400 （在PCB ）

–40 ~ +85

–55 ~ +125

单½

°C

工½温度范围

储存温度范围

注:

※1)

功率耗散规格是依照IC已上PCB板的条件来定

PCB板的尺寸为50毫米×50 × 1.6毫米。

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