SN54BCT8373A ， SN74BCT8373A
扫描测试设备
八进制D类锁存器
SCBS044F - 1990年6月 - 修订1996年7月
D
D
D
D
D
D
D
D
德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
八路测试，集成电路
功能上等同于' F373和
在正常功能模式“ BCT373
兼容IEEE标准
1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口和
边界扫描结构
试运行同步到测试
访问端口（TAP ）
实现可选的测试复位信号由
认识一个双高电平电压
（ 10 V ）的TMS引脚
范围
指令集
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明，可选INTEST ， CLAMP ，
和HIGHZ
- 在输入并行信号分析
- 伪随机模式生成
从输出
- 采样输入/输出切换
封装选择包括塑料
小外形（ DW ）封装，陶瓷
芯片载体（ FK ）和标准塑料
和陶瓷300万的DIP （ JT ， NT ）
SN54BCT8373A 。 。 。 JT包装
SN74BCT8373A 。 。 。 DW或NT包装
（ TOP VIEW ）
LE
1Q
2Q
3Q
4Q
GND
5Q
6Q
7Q
8Q
TDO
TMS
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
14
13
OE
1D
2D
3D
4D
5D
V
CC
6D
7D
8D
TDI
TCK
SN54BCT8373A 。 。 。 FK包装
（ TOP VIEW ）
描述
与八进制的“ BCT8373A扫描测试设备
D型锁存器是德州的成员
SCOPE仪器可测性 integrated-
电路的家庭。该系列器件支持IEEE
标准1149.1-1990边界扫描，方便
测试复杂的电路板组件。扫描
访问该测试电路是通过完成
4线测试访问端口（TAP ）接口。
2D
1D
OE
NC
LE
1Q
2Q
5
6
7
8
9
3D
4D
5D
NC
V
CC
6D
7D
4
3 2 1 28 27 26
25
24
23
22
21
20
10
11
19
12 13 14 15 16 17 18
8D
TDI
TCK
NC
TMS
TDO
8Q
NC - 无内部连接
在正常模式中，这些设备在功能上等同于“ F373和' BCT373八D型锁存器。
测试电路可通过在TAP被激活以采取出现在设备中的数据的快照样品
终端或上边界的测试电池进行自测。激活在正常模式下在TAP不影响
的范围进制锁存器的功能操作。
在测试模式下， 进制锁存范围的正常运行被抑制，测试电路被使能
观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路可以执行边界
扫描测试操作，如在IEEE标准1149.1-1990说明。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
SCOPE是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
3Q
4Q
GND
NC
5Q
6Q
7Q
版权
1996年，德州仪器
关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品，生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
1
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扫描测试设备
八进制D类锁存器
SCBS044F - 1990年6月 - 修订1996年7月
描述（续）
四个专用测试端子，用于控制所述测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试
数据输出（TDO ） ，测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ） 。另外，测试电路可以执行
其他测试功能，例如对数据的输入和伪随机模式并行签名分析（PSA）的
代（ PRPG ）从数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
该SN54BCT8373A的特点是操作上的整个军用温度范围 - 55 ° C至125°C 。
该SN74BCT8373A的特点是操作从0℃至70℃。
功能表
（正常模式下，每个锁存器）
输入
OE
L
L
L
H
LE
H
H
L
X
D
H
L
X
X
产量
Q
H
L
Q0
Z
逻辑符号
Φ
扫描
’BCT8373A
TDI
TMS
TCK -IN
TCK -OUT
OE
LE
1D
2D
3D
4D
5D
6D
7D
8D
24
1
23
22
21
20
19
17
16
15
EN
C1
1D
2
3
4
5
7
8
9
10
1Q
2Q
3Q
4Q
5Q
6Q
7Q
8Q
TDO
11
TDO
TDI
TMS
TCK
14
12
13
这个符号是按照ANSI / IEEE标准91-1984和IEC出版617-12 。
显示引脚数都为DW ， JT和NT包。
2
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扫描测试设备
八进制D类锁存器
SCBS044F - 1990年6月 - 修订1996年7月
功能框图
边界扫描寄存器
VCC
OE
24
VCC
LE
1
VCC
1D
23
C1
1D
一个8通道
2
1Q
旁路寄存器
Boundary-控制
注册
VCC
TDI
14
VCC
TMS
12
VCC
TCK
13
龙头
调节器
指令寄存器
VCC
11
TDO
显示引脚数都为DW ， JT和NT包。
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扫描测试设备
八进制D类锁存器
SCBS044F - 1990年6月 - 修订1996年7月
终端功能
终奌站
名字
1D – 8D
GND
LE
OE
1Q – 8Q
TCK
描述
正常功能的数据输入。见正常模式逻辑函数表。内部上拉迫使这些输入为高电平，如果
悬空。
地
正常功能的锁存使能输入。见正常模式逻辑函数表。一个内部上拉迫使LE为高电平，如果
悬空。
正常功能输出使能输入。见正常模式逻辑函数表。一个内部上拉力的OE为高电平
如果悬空。
正常功能的数据输出。见正常模式逻辑函数表。
测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是同步的，以
TCK 。捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。内部上拉的力量
TCK为高电平，如果悬空。
测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是通过移动数据的串行输入
指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。
测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是将数据串行输出
通过指令寄存器或选定的数据寄存器。一个内部上拉力的TDO到高电平时，它是不活跃
并且不从外部源来驱动。
测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS通过TAP指示装置
控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。 TMS引脚还提供了可选的
IEEE标准1149.1-1990的测试复位信号。这是通过识别第三逻辑电平，双高（ VIHH ）来实现，
在TMS 。
电源电压
TDI
TDO
TMS
VCC
4
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SN54BCT8373A ， SN74BCT8373A
扫描测试设备
八进制D类锁存器
SCBS044F - 1990年6月 - 修订1996年7月
测试结构
串行测试信息由4线测试总线，或点击的方式传达，符合IEEE标准
1149.1-1990 。测试说明，测试数据和测试控制信号都沿着这一系列的测试总线传递。该
TAP控制器监视来自测试总线，TCK和TMS两个信号。 TAP控制器提取
同步（ TCK ）和国家控制（ TMS）从测试总线信号，并产生相应的片上
对于测试结构中的装置控制信号。图1示出了TAP控制器的状态图。
TAP控制器是完全同步的TCK信号。输入数据被捕获在TCK的上升沿，并
在TCK的下降沿输出数据的变化。此方案确保数据被捕获的有效期为充分
二分之一的TCK时钟周期。
该功能框图显示了IEEE标准1149.1-1990 4线测试总线和边界扫描
体系结构和测试总线，TAP控制器，并且测试寄存器之间的关系。如图所示，该
器件包含一个8位指令寄存器和三个测试数据寄存器： 18位边界扫描寄存器，
2位的边界控制寄存器，和一个1位旁路寄存器。
测试逻辑复位
TMS = H
TMS = L
TMS = H
运行测试/空闲
TMS = L
选择DR扫描
TMS = L
TMS = H
捕捉-DR
TMS = L
按住Shift -DR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
Exit1-DR
TMS = L
暂停-DR
TMS = L
TMS = H
TMS = L
Exit2-DR
TMS = H
更新DR
TMS = H
TMS = L
TMS = L
Exit2-IR
TMS = H
更新IR
TMS = H
TMS = L
TMS = H
Exit1-IR
TMS = L
暂停-IR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
TMS = H
捕获红外
TMS = L
按住Shift -IR
TMS = L
TMS = H
选择红外扫描
TMS = L
TMS = H
图1. TAP控制器状态图
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5
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