SCAN921025 / SCAN921226 30-80 MHz的10位BLVDS串行器和解串与IEEE 1149.1
(JTAG)和全速BIST
2001年12月
SCAN921025和SCAN921226
30-80 MHz的10位总线LVDS串行器和解串
符合IEEE 1149.1 ( JTAG)和全速BIST
概述
该SCAN921025变换为10位宽度的并行
LVCMOS / LVTTL数据总线到一个单一的高速巴士
具有嵌入式时钟的LVDS串行数据流。该
SCAN921226接收总线LVDS串行数据流,
其转换回为10位宽的并行数据总线和
恢复并行时钟。
这两款器件均符合IEEE 1149.1标准
边界扫描测试。 IEEE 1149.1功能提供了DE-
签署或通过标准测试访问端口测试工程师访问
(TAP)到背板或电缆互连和能力
验证差分信号的完整性。一对器件也
设有一个全速BIST模式,该模式允许在互连
该串行器和解串器之间nects待验证
在速。
该SCAN921025发射了背板或电缆的数据。
单差分对数据通道,使PCB设计
更容易。此外,减少了电缆,印刷电路板迹线的计数,并
连接器的尺寸大大降低成本。由于一个输出
串行地发送时钟和数据位,它消除了时钟用于─
数据和数据至数据扭曲。在断电管脚节省
电源通过降低电源电流时,不使用任何
装置。在串行的电,您可以选择
激活同步模式或允许解串器
使用同步对随机数据的功能。通过使用
在同步模式中,解串器将建立锁
以在规定的锁定时间的信号。此外,该雇
层状时钟保证了公交车,每12位的过渡
周期。这消除了由于充电传输错误
电缆的条件。此外,您还可以把
SCAN921025输出引脚为三态,实现了高
阻抗状态。该PLL锁定频率之间
30 MHz和80 MHz的。
特点
n
IEEE 1149.1 ( JTAG)标准和全速BIST测试
模式。
n
时钟恢复从PLL锁定随机数据模式。
n
保证过渡的每一个数据传输周期
n
芯片组( TX + Rx)的功耗
& LT ;
600毫瓦(典型值)
@
80兆赫
n
单差分对消除多通道偏移
n
800 Mbps的串行总线LVDS数据速率(在80 MHz时钟)
n
10位并行接口进行1字节的数据加2的控制位
n
同步模式和LOCK指示灯
n
时钟可编程边沿触发
n
在接收器输入阻抗高,当电源关闭
n
总线LVDS串行输出额定负载27Ω
n
小型49引脚BGA封装
方框图
DS200248-1
2001美国国家半导体公司
DS200248
www.national.com
SCAN921025/SCAN921226
方框图
(续)
应用
DS200248-2
功能说明
该SCAN921025和SCAN921226是一个10位串行器
与解串器芯片组设计,在传输数据的昼夜温差
髓鞘背板的时钟速度从30到80 MHz 。该
芯片组还能够驱动数据超五类非屏蔽的
双绞线( UTP )电缆。
该芯片组有三种操作活动状态:完成初始化
化,数据传输,并重新同步;和两个被动
状态:掉电和三态。在除了活性
和被动状态,也有测试模式用于JTAG
接入和高速BIST 。
以下各节描述每个操作和被动
状态和测试模式。
用户的应用决定了SYNC1的控制权,
同步2针。一个建议是直接反馈回路
从锁销。在任何情况下,串行器
这两个SYNC输入后返回停止发送SYNC模式
低。
当解串器检测到的边缘过渡的公交车
LVDS输入,它会尝试锁定到嵌入式时钟
信息。当解串器锁定到总线LVDS
时钟, LOCK输出将变低。当LOCK为低电平时,该
解串器输出代表输入的总线LVDS数据。
数据传输
初始化之后,将串行器将接受来自输入数据
DIN0 - DIN9 。串行器采用TCLK输入锁存器
输入的数据。该TCLK_R /女引脚选择哪条边的
串行用来选通输入数据。 TCLK_R / F高
选择上升沿的时钟数据和低选择
下降沿。如果其中的SYNC输入高5 * TCLK
周期,在DIN0 - DIN9数据时钟,不论忽略
边缘。
确定后时钟沿来使用,一开始和停止
位,内部追加,帧中的寄存器中的数据位。
起始位始终为高电平,停止位始终为低电平。
起始位和停止位功能的嵌入式时钟位
在串行数据流。
串行传输串行数据和时钟位( 10 + 2
位)从串行数据输出(DO
±
)在TCLK的12倍
频率。例如,如果TCLK为80MHz ,串行速率是
80 ×12 = 960兆比特每秒。由于只有10位是
从输入数据,串行“有效载荷”率是10倍
TCLK频率。例如,如果TCLK = 80兆赫中,对有效
负载数据速率是80×10 = 800 Mbps的。数据源
提供TCLK和必须在30兆赫至80的范围内
MHz的名义。
串行输出( DO
±
)可以驱动一个点 - 对 - 点CON-
nection或在有限的多点或多点的背板。
输出数据传输时使能引脚( DEN )是
高, PWRDN =高, SYNC1和SYNC2低。
当DEN驱动为低电平时,串行输出引脚将进入
三态。
当解串器同步到串行的
LOCK引脚为低电平。解串器锁定在嵌入式
初始化
这两种设备的初始化数据传输之前必须发生
任务开始。初始化指的同步
串行器和解串PLL的本地时钟,这可能
是相同的或不同的。事后,同步
解串器串行发生。
第1步:当你申请V
CC
这两个串行和/或Dese-
rializer ,各自的输出进入三态,和片
电源接通电路,禁止内部电路。当V
CC
达到V
CC
行( 2.5V)在各装置中的锁相环开始锁相
荷兰国际集团到本地时钟。对于串行,本地时钟是
发送时钟(TCLK )由源ASIC或其他提供
装置。为解串器,你必须申请一个本地时钟
该REFCLK引脚。
串行输出保持在三态,而PLL
锁的TCLK 。锁定到TCLK后,串行器
现在已准备好发送的数据或同步模式,这取决于
的SYNC1和SYNC2输入或数据流的水平。
由串行发送的SYNC模式包括六个一
和六个零开关在所述输入时钟速率。
需要注意的是解串器LOCK输出将保持高位
而其锁相环锁定到输入的数据,或到SYNC模式
上的输入。
步骤2:解串器, PLL必须同步到Seri-
串行化器来完成初始化。解串器将锁定
非重复的数据模式。然而,在传输
同步模式使解串器锁定到Seri-
在指定的时间内串行化器的信号。看
图9 。
www.national.com
2
SCAN921025/SCAN921226
数据传输
(续)
时钟,并使用它来恢复序列化的数据。 ROUT数据
是当LOCK为低电平有效。否则ROUT0 - ROUT9是
无效的。
该ROUT0 - ROUT9引脚使用RCLK引脚作为参考
到的数据。在RCLK边缘的极性是由控制
RCLK_R / F输入。看
图13 。
ROUT ( 0-9 ) ,锁和RCLK输出将驱动最多
三CMOS输入门( 15 pF负载)与80 MHz的时钟。
串行数据流。 RMT的图形表示
所示
图1 。
请注意, RMT只适用于位
DIN0-DIN8.
断电
当没有数据传输时,您可以使用掉电
状态。该串行器和解串使用掉电
状态,低功耗的睡眠模式,以降低功耗消耗
化。解串器进入掉电时,你开车
PWRDN和REN低。串行进入掉电
当你驾驶PWRDN低。在掉电时, PLL停止
和输入输出三态,即禁用负载电流
租,并降低电源电流为毫安范围内。对
退出掉电,必须推动PWRDN引脚为高电平。
前串行之间有效的数据交换
解串器,则必须重新初始化并重新同步DE-
虎钳给对方。串行初始化需要510
TCLK周期。解串器将初始化和确认LOCK
高,直到锁定到总线LVDS时钟发生。
同步
当解串器PLL锁定到嵌入式时钟
边,解串器LOCK管脚断言低。如果Dese-
rializer失锁,锁销输出会高,
输出(包括RCLK )将进入三态。
用户的系统监视锁销来检测丢失
同步。一旦检测到,则系统可以安排
脉冲序列化SYNC1或SYNC2引脚重新同步。
多个同步方法是可能的。一
建议是使用以提供一个反馈环
LOCK管脚自身来控制序列化的同步请求
( SYNC1和SYNC2 ) 。提供了用于mul-双SYNC引脚
tiple控制在多点应用。发送同步巳
燕鸥重新同步是可取的,当锁定时间
一个特定的时间内是至关重要的。然而,在解串器
可以锁定到随机数据,这将在下面讨论
部分。
三州
该串行器进入三态时, DEN引脚驱动
低。这使得两个驱动器输出引脚( DO +和DO- )到
三态。当你开车DEN高,串行回报
到以前的状态,只要所有其他控制引脚保持
静态( SYNC1 , SYNC2 , PWRDN , TCLK_R / F) 。
当你开车的任引脚为低电平时,解串器进入
三态。因此,接收器的输出引脚
( ROUT0 - ROUT9 )和RCLK将进入三态。该
LOCK输出仍然有效,反映了PLL的状态。
表1中。
随机锁定时间为SCAN921226
80兆赫
最大
意味着
最低
条件:
18
3.0
0.43
PRBS 2 ,V
CC
= 3.3V
15
随机锁定初始化和
同步
初始化和重新同步的方法描述
在各自的部分是建立最快的方法
该串行器和解串器之间的联系。不过,
该SCAN921226而不能够达到锁定到数据流
要求串行发送特殊的同步模式。这
允许SCAN921226在“开环”运行应用程序
系统蒸发散。同样重要的是解串器的支持能力
热插入到正在运行的背板。在开环或
热插入的情况下,我们假定数据流基本上是
随机的。因此,由于锁定时间有所不同,由于数据
流的特性,我们不可能预知确切的锁
时间。但是,请参阅
表1
对于一些普通的随机
锁定在特定条件下次。主要的制约因素
在“无规”锁定时间是初始相位关系BE-
吐温传入的数据并且当REFCLK的Dese-
rializer通电。如在接下来的段落中所描述的
包含在数据流中的数据也可能会影响锁定时间。
如果一个特定的模式是重复的,在解串器,可以输入
“误锁定” - 虚假识别数据模式作为
时钟位。我们指的是这样一种图案为重复
多过渡, RMT 。发生这种情况时,一个以上的
低到高的过渡发生在一个时钟周期中通过多个
周期。发生这种情况时的任何位,除了DIN 9中,被保持在一个
低状态和相邻位被高举,创建0-1
过渡。在最坏的情况下,该解串器能够成为
锁定到该数据模式,而不是时钟。电路
在SCAN921226内可以检测到的可能性
“假锁”的存在。该电路由detect-实现这一
荷兰国际集团用于计时位一个以上的潜在位置。上
检测,该电路将防止输出的锁
成为有效,直到潜在的“假锁”模式
变化。假锁定检测电路,预计该数据将
最终改变,使解串器失去锁
中的数据模式,然后继续搜索在时钟位
3
单位
s
s
s
1 )差值在锁定时间是由于在该数据不同的出发点
图案具有多个部分。
测试模式
除了在IEEE 1149.1测试访问数字TTL
引脚, SCAN921025和SCAN921226有两个指令
系统蒸发散测试LVDS的互连。首先是EXTEST 。
这是在LVDS级别上实现,并仅作为
一个走不走测试(例如丢失电缆) 。第二种方法是
在RUNBIST指令。它是一个'在系统用速度“在互连
NECT考试。它是在大约为33ms一个系统中执行
66MHz的时钟速度。有在RX的BIST两个位
数据寄存器用于PASS / FAIL和TEST_COM-的通知
完整的。山口表示BER (误码率)是bet-
之三十余
-7
.
一个重要的细节是,一旦两个设备都运行 -
BIST指令加载到其各自的指令稳压
存器,两个设备必须移动到4K内的RTI状态
系统时钟(为66MHz 1MHz的这个和TCK的SCLK
允许66 TCK周期) 。这不是一个问题时,既
设备都在同一个扫描链或者LSP ,但是,它可以
与某些多点设备的一个问题。此测试模式
已经仿真验证采用美国国家半导体的SCAN-
STA111.
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SCAN921025/SCAN921226
订购信息
NSID
SCAN921025SLC
SCAN921226SLC
功能
串行器
解串器
包
SLC49a
SLC49a
DS200248-24
DIN0保持为低电平, DIN1高举创建一个RMT模式
DS200248-25
DIN4持有低DIN5高举创建一个RMT模式
DS200248-26
DIN8持有低DIN9高举创建一个RMT模式
看到的总线LVDS串行输出图1. RMT模式
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4
SCAN921025/SCAN921226
绝对最大额定值
(注1 )
电源电压(V
CC
)
-0.3V至+ 4V
LVCMOS / LVTTL输入
电压
-0.3V到(V
CC
+0.3V)
LVCMOS / LVTTL输出
电压
-0.3V到(V
CC
+0.3V)
总线LVDS接收器输入
电压
-0.3V至+ 3.9V
总线LVDS驱动器输出
电压
-0.3V至+ 3.9V
总线LVDS输出短路
电路持续时间
10mS
结温
+150C
储存温度
-65 ° C至+ 150°C
焊接温度
(焊接, 4秒)
+220C
最大封装功耗容量
@
25°C套餐:
49L BGA
1.47 W
套餐降额:
49L BGA
θ
ja
ESD额定值
HBM
MM
11.8毫瓦/ C以上
+25C
85C/W
& GT ;
2kV
& GT ;
250V
推荐工作
条件
民
电源电压(V
CC
)
经营自由的空气
温度(T
A
)
接收器输入范围
电源噪声电压
(V
CC
)
3.0
40
0
喃
3.3
+25
最大
3.6
+85
2.4
单位
V
C
V
100毫伏
P-P
电气特性
在推荐,除非另有规定工作电源和温度范围内。
符号
V
IH
V
IL
V
CL
I
IN
参数
高电平输入电压
低电平输入电压
输入钳位电压
输入电流
I
CL
= -18毫安
V
IN
= 0V或3.6V
10
条件
民
2.0
GND
-0.86
典型值
最大
V
CC
0.8
1.5
+10
单位
V
V
V
A
串行器LVCMOS / LVTTL DC规格(适用于DIN0-9 , TCLK , PWRDN , TCLK_R /楼SYNC1 , SYNC2 , DEN )
±
1
解串器LVCMOS / LVTTL DC规格(适用于针PWRDN , RCLK_R /楼REN , REFCLK =输入,适用于
销ROUT , RCLK , LOCK =输出)
V
IH
V
IL
V
CL
I
IN
V
OH
V
OL
I
OS
I
OS
I
OZ
V
OD
V
OD
V
OS
V
OS
I
OS
I
OZ
I
OX
高电平输入电压
低电平输入电压
输入钳位电压
输入电流
高电平输出电压
低电平输出电压
输出短路电流
输出短路电流,
TDO输出
三态输出电流
输出电压差
(DO +) - ( DO- )
输出电压差
不平衡
失调电压
偏移电压不平衡
输出短路电流
三态输出电流
关闭电源输出电流
D0 = 0V , DIN =高, PWRDN和DEN = 2.4V
PWRDN或DEN = 0.8V , DO = 0V或VCC
VCC = 0V , DO = 0V或3.6V
10
20
1.05
1.1
4.8
56
PWRDN或REN = 0.8V ,V
OUT
= 0V或VCC
RL = 27Ω ,
图17
I
CL
= -18毫安
V
IN
= 0V或3.6V
I
OH
= -9毫安
I
OL
= 9毫安
VOUT = 0V
10
2.2
GND
15
-15
10
2.0
GND
0.62
V
CC
0.8
1.5
+15
V
CC
0.5
85
-100
+10
V
V
V
A
V
V
mA
mA
A
±
1
3.0
0.25
47
-70
±
0.1
串行器LVDS总线直流规格(适用于引脚DO +和DO- )
200
290
35
1.3
35
90
+10
+25
mV
mV
V
mV
mA
A
A
±
1
±
1
5
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(JTAG)和全速BIST
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30-80 MHz的10位总线LVDS串行器和解串
符合IEEE 1149.1 ( JTAG)和全速BIST
概述
该SCAN921025变换为10位宽度的并行
LVCMOS / LVTTL数据总线到一个单一的高速巴士
具有嵌入式时钟的LVDS串行数据流。该
SCAN921226接收总线LVDS串行数据流,
其转换回为10位宽的并行数据总线和
恢复并行时钟。
这两款器件均符合IEEE 1149.1标准
边界扫描测试。 IEEE 1149.1功能提供了DE-
签署或通过标准测试访问端口测试工程师访问
(TAP)到背板或电缆互连和能力
验证差分信号的完整性。一对器件也
设有一个全速BIST模式,该模式允许在互连
该串行器和解串器之间nects待验证
在速。
该SCAN921025发射了背板或电缆的数据。
单差分对数据通道,使PCB设计
更容易。此外,减少了电缆,印刷电路板迹线的计数,并
连接器的尺寸大大降低成本。由于一个输出
串行地发送时钟和数据位,它消除了时钟用于─
数据和数据至数据扭曲。在断电管脚节省
电源通过降低电源电流时,不使用任何
装置。在串行的电,您可以选择
激活同步模式或允许解串器
使用同步对随机数据的功能。通过使用
在同步模式中,解串器将建立锁
以在规定的锁定时间的信号。此外,该雇
层状时钟保证了公交车,每12位的过渡
周期。这消除了由于充电传输错误
电缆的条件。此外,您还可以把
SCAN921025输出引脚为三态,实现了高
阻抗状态。该PLL锁定频率之间
30 MHz和80 MHz的。
特点
n
IEEE 1149.1 ( JTAG)标准和全速BIST测试
模式。
n
时钟恢复从PLL锁定随机数据模式。
n
保证过渡的每一个数据传输周期
n
芯片组( TX + Rx)的功耗
& LT ;
600毫瓦(典型值)
@
80兆赫
n
单差分对消除多通道偏移
n
800 Mbps的串行总线LVDS数据速率(在80 MHz时钟)
n
10位并行接口进行1字节的数据加2的控制位
n
同步模式和LOCK指示灯
n
时钟可编程边沿触发
n
在接收器输入阻抗高,当电源关闭
n
总线LVDS串行输出额定负载27Ω
n
小型49引脚BGA封装
方框图
DS200248-1
2001美国国家半导体公司
DS200248
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方框图
(续)
应用
DS200248-2
功能说明
该SCAN921025和SCAN921226是一个10位串行器
与解串器芯片组设计,在传输数据的昼夜温差
髓鞘背板的时钟速度从30到80 MHz 。该
芯片组还能够驱动数据超五类非屏蔽的
双绞线( UTP )电缆。
该芯片组有三种操作活动状态:完成初始化
化,数据传输,并重新同步;和两个被动
状态:掉电和三态。在除了活性
和被动状态,也有测试模式用于JTAG
接入和高速BIST 。
以下各节描述每个操作和被动
状态和测试模式。
用户的应用决定了SYNC1的控制权,
同步2针。一个建议是直接反馈回路
从锁销。在任何情况下,串行器
这两个SYNC输入后返回停止发送SYNC模式
低。
当解串器检测到的边缘过渡的公交车
LVDS输入,它会尝试锁定到嵌入式时钟
信息。当解串器锁定到总线LVDS
时钟, LOCK输出将变低。当LOCK为低电平时,该
解串器输出代表输入的总线LVDS数据。
数据传输
初始化之后,将串行器将接受来自输入数据
DIN0 - DIN9 。串行器采用TCLK输入锁存器
输入的数据。该TCLK_R /女引脚选择哪条边的
串行用来选通输入数据。 TCLK_R / F高
选择上升沿的时钟数据和低选择
下降沿。如果其中的SYNC输入高5 * TCLK
周期,在DIN0 - DIN9数据时钟,不论忽略
边缘。
确定后时钟沿来使用,一开始和停止
位,内部追加,帧中的寄存器中的数据位。
起始位始终为高电平,停止位始终为低电平。
起始位和停止位功能的嵌入式时钟位
在串行数据流。
串行传输串行数据和时钟位( 10 + 2
位)从串行数据输出(DO
±
)在TCLK的12倍
频率。例如,如果TCLK为80MHz ,串行速率是
80 ×12 = 960兆比特每秒。由于只有10位是
从输入数据,串行“有效载荷”率是10倍
TCLK频率。例如,如果TCLK = 80兆赫中,对有效
负载数据速率是80×10 = 800 Mbps的。数据源
提供TCLK和必须在30兆赫至80的范围内
MHz的名义。
串行输出( DO
±
)可以驱动一个点 - 对 - 点CON-
nection或在有限的多点或多点的背板。
输出数据传输时使能引脚( DEN )是
高, PWRDN =高, SYNC1和SYNC2低。
当DEN驱动为低电平时,串行输出引脚将进入
三态。
当解串器同步到串行的
LOCK引脚为低电平。解串器锁定在嵌入式
初始化
这两种设备的初始化数据传输之前必须发生
任务开始。初始化指的同步
串行器和解串PLL的本地时钟,这可能
是相同的或不同的。事后,同步
解串器串行发生。
第1步:当你申请V
CC
这两个串行和/或Dese-
rializer ,各自的输出进入三态,和片
电源接通电路,禁止内部电路。当V
CC
达到V
CC
行( 2.5V)在各装置中的锁相环开始锁相
荷兰国际集团到本地时钟。对于串行,本地时钟是
发送时钟(TCLK )由源ASIC或其他提供
装置。为解串器,你必须申请一个本地时钟
该REFCLK引脚。
串行输出保持在三态,而PLL
锁的TCLK 。锁定到TCLK后,串行器
现在已准备好发送的数据或同步模式,这取决于
的SYNC1和SYNC2输入或数据流的水平。
由串行发送的SYNC模式包括六个一
和六个零开关在所述输入时钟速率。
需要注意的是解串器LOCK输出将保持高位
而其锁相环锁定到输入的数据,或到SYNC模式
上的输入。
步骤2:解串器, PLL必须同步到Seri-
串行化器来完成初始化。解串器将锁定
非重复的数据模式。然而,在传输
同步模式使解串器锁定到Seri-
在指定的时间内串行化器的信号。看
图9 。
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2
SCAN921025/SCAN921226
数据传输
(续)
时钟,并使用它来恢复序列化的数据。 ROUT数据
是当LOCK为低电平有效。否则ROUT0 - ROUT9是
无效的。
该ROUT0 - ROUT9引脚使用RCLK引脚作为参考
到的数据。在RCLK边缘的极性是由控制
RCLK_R / F输入。看
图13 。
ROUT ( 0-9 ) ,锁和RCLK输出将驱动最多
三CMOS输入门( 15 pF负载)与80 MHz的时钟。
串行数据流。 RMT的图形表示
所示
图1 。
请注意, RMT只适用于位
DIN0-DIN8.
断电
当没有数据传输时,您可以使用掉电
状态。该串行器和解串使用掉电
状态,低功耗的睡眠模式,以降低功耗消耗
化。解串器进入掉电时,你开车
PWRDN和REN低。串行进入掉电
当你驾驶PWRDN低。在掉电时, PLL停止
和输入输出三态,即禁用负载电流
租,并降低电源电流为毫安范围内。对
退出掉电,必须推动PWRDN引脚为高电平。
前串行之间有效的数据交换
解串器,则必须重新初始化并重新同步DE-
虎钳给对方。串行初始化需要510
TCLK周期。解串器将初始化和确认LOCK
高,直到锁定到总线LVDS时钟发生。
同步
当解串器PLL锁定到嵌入式时钟
边,解串器LOCK管脚断言低。如果Dese-
rializer失锁,锁销输出会高,
输出(包括RCLK )将进入三态。
用户的系统监视锁销来检测丢失
同步。一旦检测到,则系统可以安排
脉冲序列化SYNC1或SYNC2引脚重新同步。
多个同步方法是可能的。一
建议是使用以提供一个反馈环
LOCK管脚自身来控制序列化的同步请求
( SYNC1和SYNC2 ) 。提供了用于mul-双SYNC引脚
tiple控制在多点应用。发送同步巳
燕鸥重新同步是可取的,当锁定时间
一个特定的时间内是至关重要的。然而,在解串器
可以锁定到随机数据,这将在下面讨论
部分。
三州
该串行器进入三态时, DEN引脚驱动
低。这使得两个驱动器输出引脚( DO +和DO- )到
三态。当你开车DEN高,串行回报
到以前的状态,只要所有其他控制引脚保持
静态( SYNC1 , SYNC2 , PWRDN , TCLK_R / F) 。
当你开车的任引脚为低电平时,解串器进入
三态。因此,接收器的输出引脚
( ROUT0 - ROUT9 )和RCLK将进入三态。该
LOCK输出仍然有效,反映了PLL的状态。
表1中。
随机锁定时间为SCAN921226
80兆赫
最大
意味着
最低
条件:
18
3.0
0.43
PRBS 2 ,V
CC
= 3.3V
15
随机锁定初始化和
同步
初始化和重新同步的方法描述
在各自的部分是建立最快的方法
该串行器和解串器之间的联系。不过,
该SCAN921226而不能够达到锁定到数据流
要求串行发送特殊的同步模式。这
允许SCAN921226在“开环”运行应用程序
系统蒸发散。同样重要的是解串器的支持能力
热插入到正在运行的背板。在开环或
热插入的情况下,我们假定数据流基本上是
随机的。因此,由于锁定时间有所不同,由于数据
流的特性,我们不可能预知确切的锁
时间。但是,请参阅
表1
对于一些普通的随机
锁定在特定条件下次。主要的制约因素
在“无规”锁定时间是初始相位关系BE-
吐温传入的数据并且当REFCLK的Dese-
rializer通电。如在接下来的段落中所描述的
包含在数据流中的数据也可能会影响锁定时间。
如果一个特定的模式是重复的,在解串器,可以输入
“误锁定” - 虚假识别数据模式作为
时钟位。我们指的是这样一种图案为重复
多过渡, RMT 。发生这种情况时,一个以上的
低到高的过渡发生在一个时钟周期中通过多个
周期。发生这种情况时的任何位,除了DIN 9中,被保持在一个
低状态和相邻位被高举,创建0-1
过渡。在最坏的情况下,该解串器能够成为
锁定到该数据模式,而不是时钟。电路
在SCAN921226内可以检测到的可能性
“假锁”的存在。该电路由detect-实现这一
荷兰国际集团用于计时位一个以上的潜在位置。上
检测,该电路将防止输出的锁
成为有效,直到潜在的“假锁”模式
变化。假锁定检测电路,预计该数据将
最终改变,使解串器失去锁
中的数据模式,然后继续搜索在时钟位
3
单位
s
s
s
1 )差值在锁定时间是由于在该数据不同的出发点
图案具有多个部分。
测试模式
除了在IEEE 1149.1测试访问数字TTL
引脚, SCAN921025和SCAN921226有两个指令
系统蒸发散测试LVDS的互连。首先是EXTEST 。
这是在LVDS级别上实现,并仅作为
一个走不走测试(例如丢失电缆) 。第二种方法是
在RUNBIST指令。它是一个'在系统用速度“在互连
NECT考试。它是在大约为33ms一个系统中执行
66MHz的时钟速度。有在RX的BIST两个位
数据寄存器用于PASS / FAIL和TEST_COM-的通知
完整的。山口表示BER (误码率)是bet-
之三十余
-7
.
一个重要的细节是,一旦两个设备都运行 -
BIST指令加载到其各自的指令稳压
存器,两个设备必须移动到4K内的RTI状态
系统时钟(为66MHz 1MHz的这个和TCK的SCLK
允许66 TCK周期) 。这不是一个问题时,既
设备都在同一个扫描链或者LSP ,但是,它可以
与某些多点设备的一个问题。此测试模式
已经仿真验证采用美国国家半导体的SCAN-
STA111.
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SCAN921025/SCAN921226
订购信息
NSID
SCAN921025SLC
SCAN921226SLC
功能
串行器
解串器
包
SLC49a
SLC49a
DS200248-24
DIN0保持为低电平, DIN1高举创建一个RMT模式
DS200248-25
DIN4持有低DIN5高举创建一个RMT模式
DS200248-26
DIN8持有低DIN9高举创建一个RMT模式
看到的总线LVDS串行输出图1. RMT模式
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4
SCAN921025/SCAN921226
绝对最大额定值
(注1 )
电源电压(V
CC
)
-0.3V至+ 4V
LVCMOS / LVTTL输入
电压
-0.3V到(V
CC
+0.3V)
LVCMOS / LVTTL输出
电压
-0.3V到(V
CC
+0.3V)
总线LVDS接收器输入
电压
-0.3V至+ 3.9V
总线LVDS驱动器输出
电压
-0.3V至+ 3.9V
总线LVDS输出短路
电路持续时间
10mS
结温
+150C
储存温度
-65 ° C至+ 150°C
焊接温度
(焊接, 4秒)
+220C
最大封装功耗容量
@
25°C套餐:
49L BGA
1.47 W
套餐降额:
49L BGA
θ
ja
ESD额定值
HBM
MM
11.8毫瓦/ C以上
+25C
85C/W
& GT ;
2kV
& GT ;
250V
推荐工作
条件
民
电源电压(V
CC
)
经营自由的空气
温度(T
A
)
接收器输入范围
电源噪声电压
(V
CC
)
3.0
40
0
喃
3.3
+25
最大
3.6
+85
2.4
单位
V
C
V
100毫伏
P-P
电气特性
在推荐,除非另有规定工作电源和温度范围内。
符号
V
IH
V
IL
V
CL
I
IN
参数
高电平输入电压
低电平输入电压
输入钳位电压
输入电流
I
CL
= -18毫安
V
IN
= 0V或3.6V
10
条件
民
2.0
GND
-0.86
典型值
最大
V
CC
0.8
1.5
+10
单位
V
V
V
A
串行器LVCMOS / LVTTL DC规格(适用于DIN0-9 , TCLK , PWRDN , TCLK_R /楼SYNC1 , SYNC2 , DEN )
±
1
解串器LVCMOS / LVTTL DC规格(适用于针PWRDN , RCLK_R /楼REN , REFCLK =输入,适用于
销ROUT , RCLK , LOCK =输出)
V
IH
V
IL
V
CL
I
IN
V
OH
V
OL
I
OS
I
OS
I
OZ
V
OD
V
OD
V
OS
V
OS
I
OS
I
OZ
I
OX
高电平输入电压
低电平输入电压
输入钳位电压
输入电流
高电平输出电压
低电平输出电压
输出短路电流
输出短路电流,
TDO输出
三态输出电流
输出电压差
(DO +) - ( DO- )
输出电压差
不平衡
失调电压
偏移电压不平衡
输出短路电流
三态输出电流
关闭电源输出电流
D0 = 0V , DIN =高, PWRDN和DEN = 2.4V
PWRDN或DEN = 0.8V , DO = 0V或VCC
VCC = 0V , DO = 0V或3.6V
10
20
1.05
1.1
4.8
56
PWRDN或REN = 0.8V ,V
OUT
= 0V或VCC
RL = 27Ω ,
图17
I
CL
= -18毫安
V
IN
= 0V或3.6V
I
OH
= -9毫安
I
OL
= 9毫安
VOUT = 0V
10
2.2
GND
15
-15
10
2.0
GND
0.62
V
CC
0.8
1.5
+15
V
CC
0.5
85
-100
+10
V
V
V
A
V
V
mA
mA
A
±
1
3.0
0.25
47
-70
±
0.1
串行器LVDS总线直流规格(适用于引脚DO +和DO- )
200
290
35
1.3
35
90
+10
+25
mV
mV
V
mV
mA
A
A
±
1
±
1
5
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