飞利浦半导体
产品数据
带可调延时低有效的系统复位
NE56632-XX
描述
该NE56632 - XX是一个家庭低电平的，上电复位的
酒店内的精度阈值电压检测
±1.5%
和超
通常3.0的低工作电源电流
A.
它包括一个复位
延迟是用户可调节的外部电容。
数的检测阈值电压可在1.9V ， 2.0V下
2.7 V ， 2.8 V， 2.9 V， 3.0 V， 3.1 V， 4.2 V， 4.3 V， 4.4 V， 4.5 V和4.6 V.
其他的阈值从100 mV的步提供要求
1.9 V至4.6 V.
凭借其超低电源电流和高精度电压阈值
探测能力， NE56632 - XX是非常适合于各种
电池供电的应用，如逻辑电路和复位电路
微处理器，电压检测和电平检测。它是在可
的SOT23-5封装。
特点
高精度阈值检测电压： V
S
±1.5%
超低工作电流： 3
A
典型值。
内置滞后电压： 50 mV的典型。
检测阈值电压： 1.9 V ， 2.0 V， 2.7 V ， 2.8 V， 2.9 V，
3.0 V， 3.1 V， 4.2 V， 4.3 V， 4.4 V， 4.5 V和4.6 V.
应用
重设微处理器和逻辑电路
电压检测电路
电池电压检测电路
对备用电池检测电路
复位输出：低电平有效，集电极开路
其他检测阈值电压可应要求提供
从1.9 V至4.6 V. 100 mV的步
大型低复位输出电流： 30毫安典型。
上电复位延迟时间可调外部电容：
200
s
200毫秒
与V重置断言
CC
下降到0.65 V
简化的系统框图
到V
CC
R
PU
重置
终奌站
CPU的
4
5
NE56632-XX
1
2
3
C
D
SL01605
图1.简化的系统框图。
2002年03月25日
2
853–2329 27919
飞利浦半导体
产品数据
带可调延时低有效的系统复位
NE56632-XX
订购信息
类型编号
NE56632-XXD
包
名字
SOT23-5 / SOT25 （ SO5 ）
描述
塑料小外形封装; 5线索（见尺寸图）
温度
范围
-20至+75
°C
注意：
该器件具有12个电压输出选择，通过对XX表示
在“键入数字” 。
XX
19
20
27
28
29
30
31
42
43
44
45
46
电压（典型值）
1.9 V
2.0 V
2.7 V
2.8 V
2.9 V
3.0 V
3.1 V
4.2 V
4.3 V
4.4 V
4.5 V
4.6 V
部件号标记
包装上标有四个字母的代码。前三个字母
指定的产品。第四个字母，用“X” ，代表的是一个日期
跟踪代码。
产品型号
NE56632-19D
NE56632-20D
NE56632-27D
NE56632-28D
NE56632-29D
NE56632-30D
NE56632-31D
NE56632-42D
NE56632-43D
NE56632-44D
NE56632-45D
NE56632-46D
记号
AKZx
阿拉善
ALBx
ALCx
ALDx
ALEX
ALFx
ALGx
ALHx
ALJx
ALKx
ALLx
引脚配置
引脚说明
针
符号
TC
子
GND
V
OUT
V
CC
描述
延迟时间控制;设置与外部
电容。
基材。连接到地（GND ） 。
地面上。负电源。
复位输出电压。低电平有效。
正电源电压;检测阈值
电压输入。
1
2
3
TC
1
5
V
CC
子
2
NE56632-XX
GND
3
4
V
OUT
4
5
SL01604
图2.引脚配置。
最大额定值
符号
V
CC
T
AMB
T
英镑
P
电源电压
工作环境温度
储存温度
功耗
参数
分钟。
–0.3
–20
–40
–
马克斯。
+10
+75
+125
150
单位
V
°C
°C
mW
2002年03月25日
3
飞利浦半导体
产品数据
带可调延时低有效的系统复位
NE56632-XX
电气特性
T
AMB
= 25
°C,
除非另有规定ED 。
符号
V
S
参数
检测阈值
条件
V
CC
= HIGH到LOW ;
L
= 4.7kΩ的; S1 = ON;
V
OL
≤
0.4 V;
04V
测试电路1 （图27）
-XX
46
45
44
43
42
31
30
29
28
27
20
19
V
HYS
V
S
/T
V
OL
I
LO
I
CCL
I
CCH
t
PLH
t
PHL
V
OPL
I
OL1
I
OL2
滞后电压
检测阈值电压
温度COEF网络cient
低电平输出电压
输出漏电流
电源电流（时间）
电源电流（OFF时）
低到高的延迟时间
高到低的延迟时间
最小工作
阈值电压
输出电流（ON时间1 ）
输出电流（ON时间2 ）
R
L
= 4.7kΩ的; V
CC
=低到高到低的; S1 = ON;试验
电路1 （图27）
R
L
= 4.7kΩ的;牛逼
AMB
= –20
°C
+75
°C;
S1 = ON;
测试电路1 （图27）
V
CC1
= V
秒（分钟）
- 0.05 V ;
L
= 4.7kΩ的; S1 = ON;
测试电路1 （图27）
V
CC1
= V
CC2
= 10 V ; S2 = ON;测试电路1 （图27）
V
CC1
= V
秒（分钟）
- 0.05 V ;
L
=
∞;
测试电路1 （图27）
V
CC1
= V
S（典型值）
/0.85; R
L
=
∞;
测试电路1 （图27）
C
L
= 100 pF的;
L
= 4.7kΩ的;
D
= 10 nF的（注1 ）
C
L
= 100 pF的;
L
= 4.7kΩ的;
D
= 10nF的（注2）
R
L
= 4.7kΩ的; V
OL
≤
0.4 V ; S1 = ON;
测试电路1 （图27）
V
O
= 0.4 V ;
L
= 0; V
CC1
= V
秒（分钟）
– 0.05 V;
V
CC2
= 0.4 V ; S2 = ON;测试电路1 （图27）
V
O
= 0.4 V ;
L
= 0; V
CC1
= V
秒（分钟）
– 0.05 V;
T
AMB
= –20
°C
+75
°C;
S2 = ON;
测试电路1 （图27）
分钟。
4.531
4.432
4.334
4.235
4.137
3.053
2.955
2.856
2.758
2.659
1.970
1.871
25
–
–
–
–
–
–
–
–
5
3
典型值。
4.600
4.500
4.400
4.300
4.200
3.100
3.000
2.900
2.800
2.700
2.000
1.900
50
±0.01
0.2
–
5.0
3.0
（注3）
（注3）
0.65
–
–
马克斯。
4.669
4.568
4.466
4.365
4.263
3.147
3.045
2.944
2.842
2.741
2.030
1.929
100
–
0.4
±0.1
9.0
5.0
–
–
0.80
–
–
单位
V
V
V
V
V
V
V
V
V
V
V
V
mV
%/°C
V
A
A
A
ms
s
V
mA
mA
注意事项：
1. t
PLH
: V
CC
= (V
S（典型值）
- 0.4 V）至（Ⅴ
S（典型值）
+ 0.4 V） ;吨
PLH
为解除延迟时间（测定电路2 ，图28） 。
2. t
PHL
: V
CC
= (V
S（典型值）
+0.4 V）至（Ⅴ
S（典型值）
- 0.4 V） ;吨
PHL
是断言延迟时间（测定电路2 ，图28） 。
3.见表1 。
表1. NE56632 -XX系列典型的延迟时间
–XX
46
45
44
43
42
31
30
29
28
27
20
19
t
PLH
195毫秒
190毫秒
185毫秒
180毫秒
175毫秒
120毫秒
115毫秒
110毫秒
105毫秒
100毫秒
65毫秒
60毫秒
t
PHL
140
s
140
s
140
s
140
s
140
s
120
s
120
s
120
s
100
s
100
s
100
s
100
s
2002年03月25日
4
QQ：2880707522 复制
