MSP430F21x2
混合信号微控制器
SLAS578 - 2007年11月
D
低电源电压范围为1.8 V至3.6 V
D
超低功耗:
D
通用串行通信接口
D
D
D
D
D
D
D
D
D
描述
德州仪器(TI) MSP430系列超低功耗微控制器包含几个器件特色
不同组外围设备的针对各种应用。该体系结构,结合五种低功耗
模式,优化以实现更长的电池寿命在便携式测量应用。该设备的特点
功能强大的16位RISC CPU , 16位寄存器和有助于最大码的常数发生器
效率。数字控制振荡器(DCO)允许唤醒从低功耗模式到活动模式中少
比1
μs.
该MSP430F21x2系列是一款超低功耗微控制器,内置两个16位定时器,一个快速10位A / D
转换器具有集成参考和数据传送控制器(DTC) ,比较器,内置的通信
用能力的通用串行通信接口,以及多达24个I / O引脚。
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
I
2
C是恩智浦半导体公司的商标。
产品预览资料涉及产品的形成或
开发设计阶段。特征数据和其他
规格是设计目标。德州仪器公司保留权利,以
变更通知或不通知终止这些产品。
版权
2007年,德州仪器
邮政信箱655303
达拉斯,德克萨斯州75265
1
产品预览
- 主动模式: 200
μA
在1 MHz , 2.2 V
-
- 待机模式: 0.7
μA
-
- 关闭模式( RAM保持) : 0.1
μA
-
超快速唤醒从待机模式
小于1
μs
16位RISC架构,
62.5 ns指令周期时间
基本时钟模块配置:
- 内部频率高达16 MHz的
-
四校准频率
±1%
- 内部超低功耗低频振荡器
-
- 32 kHz晶振
-
- 高频率晶体高达16兆赫
-
- 谐振器
-
- 外部数字时钟源
-
- 外部电阻
-
16位Timer0_A3随着三
捕捉/比较寄存器
16位Timer1_A2随着两
捕捉/比较寄存器
片上比较适用于模拟信号
比较功能或者斜率
模数(A / D)转换
10位200 ksps的A / D转换器,内置
参考,采样和保持,自动扫描,
和数据传送控制器
D
D
D
D
D
- 增强型UART支持自动
-
波特率检测( LIN )
- IrDA编码器和解码器
-
- 同步SPI
-
- I
2
C
-
掉电检测
板载串行编程,
无需外部编程电压需要的,
可编程代码保护通过
安全保险丝
在Flash设备的引导加载程序
片上仿真模块
家庭成员包括:
MSP430F2132
8KB + 256B闪存
512B RAM
MSP430F2122
4KB + 256B闪存
512B RAM
MSP430F2112
2KB + 256B闪存
256B RAM
可提供28引脚TSSOP和32引脚QFN
包(查看可用选项)
对于完整的模块说明,请参阅
MSP430x2xx系列用户指南
(文献编号SLAU144 )
MSP430F21x2
混合信号微控制器
SLAS578 - 2007年11月
引脚名称
私服包
TEST / SBWTCK
DV
CC
P2.5/R
OSC
/CA5
DV
SS
XOUT/P2.7/CA7
XIN/P2.6/CA6
RST / NMI / SBWTDIO
P2.0/ACLK/A0/CA2
P2.1/TAINCLK/SMCLK/A1/CA3
P2.2/TA0_0/A2/CA4/CAOUT
P3.0/UCB0STE/UCA0CLK/A5
P3.1/UCB0SIMO/UCB0SDA
P3.2/UCB0SOMI/UCB0SCL
P3.3/UCB0CLK/UCA0STE
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
P1.7/TA2_0/TDO/TDI
P1.6/TA1_0/TDI/TCLK
P1.5/TA0_0/TMS
P1.4/SMCLK/TCK
P1.3/TA2_0
P1.2/TA1_0
P1.1/TA0_0/TA0_1
P1.0/TACLK/ADC10CLK/CAOUT
P2.4/TA2_0/A4/V
REF +
/ VE
REF +
/CA1
P2.3/TA1_0/A3/V
REF-
/ VE
REF-
/CA0
P3.7/TA1_1/A7
P3.6/TA0_1/A6
P3.5/UCA0RXD/UCA0SOMI
P3.4/UCA0TXD/UCA0SIMO
DV
SS
XOUT/P2.7/CA7
XIN/P2.6/CA6
NC
RST / NMI / SBWTDIO
P2.0/ACLK/A0/CA2
P2.1/TAINCLK/SMCLK/A1/CA3
P2.2/TA0_0/A2/CA4/CAOUT
32 31 30 29 28 27 26 25
1
24
2
3
4
5
6
7
23
22
21
20
19
18
P1.3/TA2_0
P1.2/TA1_0
P1.1/TA0_0/TA0_1
P1.0/TACLK/ADC10CLK/CAOUT
NC
P2.4/TA2_0/A4/V
REF +
/ VE
REF +
/CA1
P2.3/TA1_0/A3/V
REF-
/ VE
REF-
/CA0
NC
17
8
9 10 11 12 13 14 15 16
P3.0/UCB0STE/UCA0CLK/A5
P3.1/UCB0SIMO/UCB0SDA
P3.2/UCB0SOMI/UCB0SCL
P3.3/UCB0CLK/UCA0STE
P3.4/UCA0TXD/UCA0SIMO
P3.5/UCA0RXD/UCA0SOMI
P3.6/TA0_1/A6
P3.7/TA1_1/A7
邮政信箱655303
达拉斯,德克萨斯州75265
3
产品预览
引脚名称
,兴业包
P2.5/R
OSC
/CA5
NC
DV
CC
TEST / SBWTCK
P1.7/TA2_0/TDO/TDI
P1.6/TA1_0/TDI/TCLK
P1.5/TA0_0/TMS
P1.4/SMCLK/TCK
MSP430F21x2
混合信号微控制器
SLAS578 - 2007年11月
终端功能
终奌站
名字
P1.0/
TACLK /
21
ADC10CLK/
CAOUT
P1.1/
TA0_0/
TA0_1
P1.2/
TA1_0
P1.3/
TA2_0
P1.4/
SMCLK /
TCK
P1.5/
TA0_0
/ TMS
P1.6/
TA1_0/
TDI / TCLK
P1.7/
TA2_0/
TDO / TDI
P2.0/
ACLK /
A0/
CA2
P2.1/
TAINCLK /
SMCLK /
A1/
CA3
P2.2/
TA0_0/
A2/
CA4/
CAOUT
P2.3/
TA1_0/
A3/
V
REF--
/ VE
REF--
/
CA0
P2.4/
TA2_0/
A4/
V
REF +
/ VE
REF +
/
CA1
9
7
I / O
22
23
24
25
22
23
24
25
I / O
I / O
I / O
I / O
21
I / O
28-PIN
PW
32-PIN
RHB
I / O
描述
通用数字I / O
Timer0_A3 ,时钟信号输入TACLK
Timer1_A2 ,时钟信号输入TACLK
ADC10 ,转换时钟
Comparator_A +输出
通用数字I / O
Timer0_A3 ,捕捉: CCI0A输入,比较: Out0_0输出
Timer1_A2 ,捕捉: CCI0A输入
通用数字I / O
Timer0_A3 ,捕捉: CCI1A输入,比较: Out1_0输出
通用数字I / O
Timer0_A3 ,捕捉: CCI2A输入,比较: Out2_0输出
通用数字I / O
SMCLK信号输出
测试时钟输入器件编程和测试
26
26
I / O
27
27
I / O
通用数字I / O
Timer0_A3 ,比较: Out1_0输出
在编程和测试的JTAG测试数据输入或测试时钟输入
通用数字I / O
Timer0_A3 ,比较: Out2_0输出
在编程和测试的JTAG测试数据输出端或测试数据输入
通用数字I / O
ACLK信号输出
ADC10模拟输入A0
Comparator_A +输入
通用数字I / O
SMCLK信号输出
Timer0_A3 ,时钟信号输入TACLK
Timer1_A2 ,时钟信号输入TACLK
ADC10模拟输入A1
Comparator_A +输入
通用数字I / O
Timer0_A3 ,捕捉: CCI0B输入,比较: Out0_0输出
ADC10模拟输入A2
Comparator_A +输入
Comparator_A +输出
通用数字I / O
Timer0_A3 ,比较: Out1_0输出
ADC10模拟输入A3
负参考
Comparator_A +输入
通用数字I / O
Timer0_A3 ,比较: Out2_0输出
ADC10模拟输入A4
正参考
Comparator_A +输入
28
28
I / O
8
6
I / O
10
8
I / O
19
18
I / O
20
19
I / O
邮政信箱655303
达拉斯,德克萨斯州75265
5
产品预览
通用数字I / O
Timer0_A3 ,比较: Out0_0输出
JTAG测试模式选择,用于器件编程和测试输入端
MSP430F21x2
www.ti.com
SLAS578J
–
2007年11月
–
经修订的2012年1月
混合信号微控制器
1
特点
低电源电压范围: 1.8 V至3.6 V
超低功耗
–
主动模式: 250
A
在1 MHz , 2.2 V
–
待机模式: 0.7
A
–
关闭模式( RAM保持) : 0.1
A
超快速唤醒从待机模式
小于1
s
16位RISC架构, 62.5 ns指令
周期
基本时钟模块配置
–
内部频率高达16 MHz的
四校准频率
±1%
–
内部超低功耗低频
振荡器
–
32 kHz晶振
–
高频率( HF)的晶体高达16兆赫
–
谐振器
–
外部数字时钟源
–
外部电阻
16位Timer0_A3 3个捕获/比较
注册
16位Timer1_A2有了两个捕捉/比较
注册
片上比较适用于模拟信号
比较功能或者斜率模数转换
( A / D)转换
10位200 ksps的A / D转换器,内置
参考,采样和保持,自动扫描,并
数据传送控制器
通用串行通信接口
–
增强型UART支持自动波特率
检测( LIN )
–
IrDA编码器和解码器
–
同步SPI
–
I
2
C
掉电检测
板载串行编程,无需外部
编程所需的电压,可编程
代码保护通过安全保险丝
引导加载程序
片上仿真模块
家庭成员包括:
–
MSP430F2132
–
8KB + 256B闪存
–
512B RAM
–
MSP430F2122
–
4KB + 256B闪存
–
512B RAM
–
MSP430F2112
–
2KB + 256B闪存
–
256B RAM
采用28引脚TSSOP ( PW)和32引脚
QFN ( RHB或RTV )封装(参见
表1)
对于完整的模块说明,请参阅
MSP430x2xx系列用户指南
文学
数
SLAU144
2
描述
德州仪器(TI) MSP430 系列超低功耗微控制器包含几个器件特色
不同组外围设备的针对各种应用。该体系结构,结合五种低功耗
模式,优化以实现更长的电池寿命在便携式测量应用。该器件具有一个
强大的16位RISC CPU , 16位寄存器和有助于获得最大编码效率的常数发生器。
数字控制振荡器(DCO)允许唤醒从低功耗模式到活动模式,在不到1
s.
该MSP430F21x2系列是一款超低功耗微控制器,内置两个16位定时器,一个快速10位A / D
转换器具有集成参考和数据传送控制器(DTC) ,比较器,内置的通信
用能力的通用串行通信接口,以及多达24个I / O引脚。
1
2
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并在得克萨斯州的关键应用程序使用
仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
MSP430是德州仪器的商标。
版权
2007-2012年,德州仪器
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
MSP430F21x2
SLAS578J
–
2007年11月
–
经修订的2012年1月
www.ti.com
这个集成电路可以被ESD损坏。德州仪器建议所有集成电路与处理
适当的预防措施。如果不遵守正确的操作和安装程序,可以造成损坏。
ESD损害的范围可以从细微的性能下降,完成设备故障。精密集成电路可能会更
容易受到伤害,因为很小的参数变化可能导致设备不能满足其公布的规格。
表1.可选项
T
A
包装设备
(1) (2)
塑料28引脚TSSOP ( PW )
MSP430F2112IPW
-40 ° C至85°C
MSP430F2122IPW
MSP430F2132IPW
MSP430F2112TPW
-40 ° C至105℃
MSP430F2122TPW
MSP430F2132TPW
(1)
(2)
塑料32引脚QFN ( RHB )
MSP430F2112IRHB
MSP430F2122IRHB
MSP430F2132IRHB
MSP430F2112TRHB
MSP430F2122TRHB
MSP430F2132TRHB
塑料32引脚QFN ( RTV )
MSP430F2112IRTV
MSP430F2122IRTV
MSP430F2132IRTV
MSP430F2112TRTV
MSP430F2122TRTV
MSP430F2132TRTV
对于最新的封装和订购信息,请参阅封装选项附录本文档的末尾,或见TI
网站:
www.ti.com 。
包装图纸,热数据和符号可在
www.ti.com/packaging 。
开发工具支持
所有的MSP430微控制器包含一个嵌入式仿真模块( EEM ),允许高级调试
和编程通过易于使用的开发工具。推荐使用的硬件选项包括:
调试和编程接口
–
MSP- FET430UIF ( USB )
–
MSP- FET430PIF (并口)
调试和编程接口与目标板
–
MSP- FET430U28 ( PW包)
生产编程器
–
MSP-GANG430
2
提交文档反馈
版权
2007-2012年,德州仪器
MSP430F21x2
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SLAS578J
–
2007年11月
–
经修订的2012年1月
器件的引脚, PW包
TEST / SBWTCK
DV
CC
P2.5/R
OSC
/CA5
DV
SS
XOUT/P2.7/CA7
XIN/P2.6/CA6
RST / NMI / SBWTDIO
P2.0/ACLK/A0/CA2
P2.1/TAINCLK/SMCLK/A1/CA3
P2.2/TA0.0/A2/CA4/CAOUT
P3.0/UCB0STE/UCA0CLK/A5
P3.1/UCB0SIMO/UCB0SDA
P3.2/UCB0SOMI/UCB0SCL
P3.3/UCB0CLK/UCA0STE
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
P1.7/TA0.2/TDO/TDI
P1.6/TA0.1/TDI/TCLK
P1.5/TA0.0/TMS
P1.4/SMCLK/TCK
P1.3/TA0.2
P1.2/TA0.1
P1.1/TA0.0/TA1.0
P1.0/TACLK/ADC10CLK/CAOUT
P2.4/TA0.2/A4/V
REF +
/ VE
REF +
/CA1
P2.3/TA0.1/A3/V
REF-
/ VE
REF-
/CA0
P3.7/TA1.1/A7
P3.6/TA1.0/A6
P3.5/UCA0RXD/UCA0SOMI
P3.4/UCA0TXD/UCA0SIMO
器件的引脚, RHB或RTV包
P2.5/R
OSC
/CA5
NC
DV
CC
TEST / SBWTCK
P1.7/TA0.2/TDO/TDI
P1.6/TA0.1/TDI/TCLK
P1.5/TA0.0/TMS
P1.4/SMCLK/TCK
DV
SS
XOUT/P2.7/CA7
XIN/P2.6/CA6
NC
RST / NMI / SBWTDIO
P2.0/ACLK/A0/CA2
P2.1/TAINCLK/SMCLK/A1/CA3
P2.2/TA0.0/A2/CA4/CAOUT
32 31 30 29 28 27 26 25
1
24
2
3
4
5
6
7
8
23
22
21
20
19
18
17
9 10 11 12 13 14 15 16
P1.3/TA0.2
P1.2/TA0.1
P1.1/TA0.0/TA1.0
P1.0/TACLK/ADC10CLK/CAOUT
NC
P2.4/TA0.2/A4/V
REF +
/ VE
REF +
/CA1
P2.3/TA0.1/A3/V
REF-
/ VE
REF-
/CA0
NC
P3.0/UCB0STE/UCA0CLK/A5
P3.1/UCB0SIMO/UCB0SDA
P3.2/UCB0SOMI/UCB0SCL
P3.3/UCB0CLK/UCA0STE
P3.4/UCA0TXD/UCA0SIMO
P3.5/UCA0RXD/UCA0SOMI
P3.6/TA1.0/A6
P3.7/TA1.1/A7
版权
2007-2012年,德州仪器
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MSP430F21x2
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–
2007年11月
–
经修订的2012年1月
表2.端子功能
终奌站
号
名字
PW
RHB ,
RTV
通用数字I / O引脚
Timer0_A3 ,时钟信号输入TACLK
P1.0/TACLK/ADC10CLK/CAOUT
21
21
I / O
Timer1_A2 ,时钟信号输入TACLK
ADC10 ,转换时钟
Comparator_A +输出
通用数字I / O引脚
P1.1/TA0.0/TA1.0
22
22
I / O
Timer0_A3 ,捕捉: CCI0A输入,比较:横向连线Out0输出
Timer1_A2 ,捕捉: CCI0A输入
P1.2/TA0.1
P1.3/TA0.2
23
24
23
24
I / O
I / O
通用数字I / O引脚
Timer0_A3 ,捕捉: CCI1A输入,比较:输出1输出
通用数字I / O引脚
Timer0_A3 ,捕捉: CCI2A输入,比较:输出2输出
通用数字I / O引脚
P1.4/SMCLK/TCK
25
25
I / O
SMCLK信号输出
测试时钟输入器件编程和测试
通用数字I / O引脚
P1.5/TA0.0/TMS
26
26
I / O
Timer0_A3 ,比较:横向连线Out0输出
JTAG测试模式选择,用于器件编程和测试输入端
通用数字I / O引脚
P1.6/TA0.1/TDI/TCLK
27
27
I / O
Timer0_A3 ,比较:输出1输出
设计一个测试的JTAG测试数据输入或测试时钟输入
通用数字I / O引脚
P1.7/TA0.2/TDO/TDI
28
28
I / O
Timer0_A3 ,比较:输出2输出
设计一个测试的JTAG测试数据输出端或测试数据输入
通用数字I / O引脚
P2.0/ACLK/A0/CA2
8
6
I / O
ACLK信号输出
ADC10模拟输入A0
Comparator_A +输入
通用数字I / O引脚
SMCLK信号输出
P2.1/TAINCLK/SMCLK/A1/CA3
9
7
I / O
Timer0_A3 ,时钟信号输入TACLK
Timer1_A2 ,时钟信号输入TACLK
ADC10模拟输入A1
Comparator_A +输入
通用数字I / O引脚
Timer0_A3 ,捕捉: CCI0B输入,比较:横向连线Out0输出
P2.2/TA0.0/A2/CA4/CAOUT
10
8
I / O
ADC10模拟输入A2
Comparator_A +输入
Comparator_A +输出
通用数字I / O引脚
P2.3/TA0.1/A3/V
REF-
/ VE
REF-
/CA0
19
18
I / O
Timer0_A3 ,比较:输出1输出
ADC10模拟输入A3 /负基准
Comparator_A +输入
I / O
描述
版权
2007-2012年,德州仪器
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