K9F2808Q0B-DCB0,DIB0
K9F2808U0B-VCB0,VIB0
K9F2808U0B-YCB0,YIB0
K9F2808U0B-DCB0,DIB0
FL灰内存
文档标题
16M ×8位NAND闪存
修订历史
修订历史号
0.0
0.1
0.2
首次发行。
K9F2808U0B ( 3.3V器件)的资格已完成
K9F2808Q0B ( 1.8V器件)
- 改变了典型的读操作电流( ICC1 )从8毫安到5毫安
- 改变了典型的程序操作电流( ICC2 )从8毫安到5毫安
- 改变了典型的擦除操作电流( ICC 3 )从8毫安到5毫安
- 改变了典型的编程时间( TPROG )从200us的到300US
- 改变ALE从100ns到20ns的延迟RE (ID读, TAR1 )
- 改变CLE保持距离为10ns至15ns的时间( tCLH )
- 从为10ns至15ns的改变CE保持时间( TCH)
- 改变ALE持有至10ns的时间为15ns ( TALH )
- 从为10ns至15ns的变化数据保持时间( TDH )
- 改变CE接入的为45nS至60ns的时间( TCEA )
- 改变读周期从50ns的到70ns的时间( TRC)
- 改变写周期从50ns的到70ns的时间( TWC )
- 改变RE交通从为35ns至40ns的时间( TREA )
- 改变稀土高保持时间( tREH定义)从为15ns至20ns的
- 改变了我们的高持有为15ns至20ns的时间(亿千瓦时)
1.设备代码被更改
- TBGA封装的信息: 'B' --> 'D'
前) K9F2808Q0B - BCB0 , BIB0 --> K9F2808Q0B - DCB0 , DIB0
K9F2808U0B - BCB0 , BIB0 --> K9F2808Q0B - DCB0 , DIB0
2. V
IH
,V
IL
K9F2808Q0B ( 1.8装置)的改变
(修改前)
输入高电压
输入低电压,
所有的输入
V
IH
I / O引脚
除了I / O引脚
-
VccQ-0.4
V
CC
-0.4
0
(修改后)
I / O引脚
输入高电压
V
IH
除了I / O引脚
输入低电压,
所有的输入
V
IL
-
V
CC
-0.4
-0.3
-
-
VccQ-0.4
VCCQ
+0.3
VCC
+0.3
0.4
-
-
VCCQ
VCC
0.4
草案日期
可能28'th 2001年
二○○一年六月三十〇日
备注
ADVANCE
2001年7月30日
K9F2808Q0B
:初步
0.3
2001年8月23日
V
IL
注:欲了解更多详细的功能以及规格,包括常见问题解答,请参考三星的Flash网站。
http://www.intl.samsungsemi.com/Memory/Flash/datasheets.html
所附的说明书准备和批准三星电子。 SAMSUNG ELECTRONICS CO 。 , LTD 。保留权利
改变规格。三星电子将评估和回复您的要求和有关设备的问题。如果你有
有任何疑问,请联系三星分支机构靠近你。
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