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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符F型号页 > 首字符F的型号第369页 > FQP32N12V2
FQP32N12V2/FQPF32N12V2
QFET
FQP32N12V2/FQPF32N12V2
120V N沟道MOSFET
概述
这些N沟道增强型功率场效应
晶体管采用飞兆半导体专有的,
平面条形, DMOS技术。
这种先进的技术已特别针对
最大限度地减少通态电阻,优越的开关
性能,并能承受高能量脉冲
雪崩和减刑模式。这些装置是公
适合用于DC到DC转换器, sychronous整流,
和其他应用最低的Rds(on )是必需的。
特点
32 A, 120 V ,R
DS ( ON)
= 0.05 @V
GS
= 10 V
低栅极电荷(典型的41 NC)
低的Crss (典型值70 pF的)
快速开关
100%的雪崩测试
改进的dv / dt能力
D
!
G
!
g DS的
TO-220
FQP系列
GD S
TO-220F
FQPF系列
!
S
绝对最大额定值
符号
V
DSS
I
D
I
DM
V
GSS
E
AS
I
AR
E
AR
dv / dt的
P
D
T
J
, T
英镑
T
L
T
C
= 25 ° C除非另有说明
参数
漏源电压
- 连续(T
C
= 25°C)
漏电流
- 连续(T
C
= 100°C)
漏电流
- 脉冲
(注1 )
FQP32N12V2
120
32
23
128
FQPF32N12V2
32 *
23 *
128 *
±
30
439
32
15
4.5
单位
V
A
A
A
V
mJ
A
mJ
V / ns的
W
W / ℃,
°C
°C
栅源电压
单脉冲雪崩能量
雪崩电流
重复性雪崩能量
峰值二极管恢复的dv / dt
功率耗散(T
C
= 25°C)
(注2 )
(注1 )
(注1 )
(注3)
- 减免上述25℃
工作和存储温度范围
最大无铅焊接温度的目的,
8分之1 & QUOT ;从案例5秒
150
1
-55到+175
300
50
0.33
*漏电流受最高结温。
热特性
符号
R
θJC
R
θJS
R
θJA
参数
热阻,结到外壳
热电阻,凯斯到水槽典型。
热阻,结到环境
FQP32N12V2
1.0
40
62.5
FQPF32N12V2
3.0
--
62.5
单位
° C / W
° C / W
° C / W
2003仙童半导体公司
版本A 2003年12月
FQP32N12V2/FQPF32N12V2
电气特性
符号
参数
T
C
= 25 ° C除非另有说明
测试条件
典型值
最大
单位
开关特性
BV
DSS
ΔBV
DSS
/
T
J
I
DSS
I
GSSF
I
GSSR
漏源击穿电压
击穿电压温度
系数
零栅极电压漏极电流
门体漏电流,正向
门体漏电流,反向
V
GS
= 0 V,I
D
= 250
A
I
D
= 250
A,
参考25 ℃下
V
DS
= 120 V, V
GS
= 0 V
V
DS
= 96 V,T
C
= 150°C
V
GS
= 30 V, V
DS
= 0 V
V
GS
= -30 V, V
DS
= 0 V
120
--
--
--
--
--
--
0.14
--
--
--
--
--
--
1
10
100
-100
V
V /°C的
A
A
nA
nA
基本特征
V
GS ( TH)
R
DS ( ON)
g
FS
栅极阈值电压
静态漏源
导通电阻
正向跨导
V
DS
= V
GS
, I
D
= 250
A
V
GS
= 10 V,I
D
= 16 A
V
DS
= 40 V,I
D
= 16 A
(注4 )
2.0
--
--
--
0.043
25
4.0
0.05
--
V
S
动态特性
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
输入电容
输出电容
反向传输电容
V
DS
= 25 V, V
GS
= 0 V,
F = 1.0 MHz的
--
--
--
1430
310
70
1860
405
90
pF
pF
pF
开关特性
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
Q
g
Q
gs
Q
gd
导通延迟时间
开启上升时间
打开-O FF延迟时间
关断下降时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
V
DS
= 96 V,I
D
= 32 A,
V
GS
= 10 V
(注4,5)
V
DD
= 60 V,I
D
= 32 A,
R
G
= 25
(注4,5)
--
--
--
--
--
--
--
16
190
114
158
41
8
18
42
390
238
326
53
--
--
ns
ns
ns
ns
nC
nC
nC
漏源二极管的特性和最大额定值
I
S
I
SM
V
SD
t
rr
Q
rr
最大连续漏源二极管的正向电流
最大脉冲漏源二极管的正向电流
V
GS
= 0 V,I
S
= 32 A
漏源二极管的正向电压
反向恢复时间
反向恢复电荷
V
GS
= 0 V,I
S
= 32 A,
dI
F
/ DT = 100 A / μs的
(注4 )
--
--
--
--
--
--
--
--
123
0.54
32
128
1.4
--
--
A
A
V
ns
C
注意事项:
1.重复额定值:脉冲宽度有限的最高结温
2, L = 0.5mH ,我
AS
= 32A ,V
DD
= 50V ,R
G
= 25
,
起始物为
J
= 25°C
3. I
SD
32A , di / dt的
200A / μs的,V
DD
BV
DSS ,
起始物为
J
= 25°C
4.脉冲测试:脉冲宽度
300μS ,占空比
2%
5.基本上是独立工作温度
2003仙童半导体公司
版本A 2003年12月
FQP32N12V2/FQPF32N12V2
典型特征
10
2
I
D
,漏电流[ A]
I
D
,漏电流[ A]
V
GS
15.0 V
10.0 V
8.0 V
7.0 V
6.0 V
5.5 V
5.0 V
底部: 4.5 V
上图:
10
2
175 C
1
o
10
25 C
-55 C
o
o
10
1
10
0
注意事项:
1. 250μ s脉冲测试
2. T
C
= 25℃
注意事项:
1. V
DS
= 40V
2. 250μ s脉冲测试
10
-1
10
0
10
0
10
1
10
-1
2
4
6
8
10
V
DS
,漏源电压[V]
V
GS
,栅源电压[V]
图1.区域特征
图2.传输特性
160
140
10
2
R
DS ( ON)
[mΩ ],
漏源导通电阻
I
DR
,反向漏电流[ A]
120
100
80
60
V
GS
= 10V
10
1
175
10
0
25
V
GS
= 20V
40
20
0
0
20
40
60
80
100
120
注:t
J
= 25℃
注意事项:
1. V
GS
= 0V
2. 250μ s脉冲测试
10
-1
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
1.4
1.6
I
D
,漏电流[ A]
V
SD
,源极 - 漏极电压[ V]
图3.导通电阻变化VS
漏电流和栅极电压
图4.体二极管正向电压
变化与源电流
和温度
12
3500
C
国际空间站
= C
gs
+ C
gd
(C
ds
=短路)
C
OSS
= C
ds
+ C
gd
C
RSS
= C
gd
3000
10
V
DS
= 30V
V
DS
= 60V
2500
V
GS
,栅源电压[V]
8
V
DS
= 96V
电容[ pF的]
2000
C
国际空间站
C
OSS
注意事项;
1. V
GS
= 0 V
2. F = 1 MHz的
6
1500
4
1000
C
RSS
500
2
注:我
D
= 32A
0
-1
10
10
0
10
1
0
0
10
20
30
40
50
V
DS
,漏源电压[V]
Q
G
,总栅极电荷[ NC ]
图5.电容特性
图6.栅极电荷特性
2003仙童半导体公司
版本A 2003年12月
FQP32N12V2/FQPF32N12V2
典型特征
(续)
1.2
3.0
2.5
BV
DSS
(归一化)
漏源击穿电压
1.1
R
DS ( ON)
(归一化)
漏源导通电阻
2.0
1.0
1.5
1.0
注意事项:
1. V
GS
= 10 V
2. I
D
= 16 A
0.9
注意事项:
1. V
GS
= 0 V
2. I
D
= 250
μ
A
0.5
0.8
-100
-50
0
50
100
o
150
200
0.0
-100
-50
0
50
100
o
150
200
T
J
,结温[C]
T
J
,结温[C]
图7.击穿电压变化
与温度
图8.导通电阻变化
与温度
10
3
10
在这一领域
由R有限公司
DS ( ON)
3
在这一领域
由R有限公司
DS ( ON)
10
2
100
s
10
2
I
D
,漏电流[ A]
I
D
,漏电流[ A]
1毫秒
10毫秒
DC
100
s
1毫秒
10毫秒
DC
10
1
10
1
10
0
注意事项:
1. T
C
= 25 C
2. T
J
= 175 C
3.单脉冲
o
o
10
0
注意事项:
1. T
C
= 25 C
2. T
J
= 175 C
3.单脉冲
o
o
10
-1
10
0
10
1
10
2
10
-1
10
0
10
1
10
2
V
DS
,漏源电压[V]
V
DS
,漏源电压[V]
图9-1 。最大安全工作区
对于FQP32N12V2
图9-2 。最大安全工作区
对于FQPF32N12V2
35
30
25
I
D
,漏电流[ A]
20
15
10
5
0
25
50
75
100
125
150
175
T
C
,外壳温度[
]
图10.最大漏极电流
VS外壳温度
2003仙童半导体公司
版本A 2003年12月
FQP32N12V2/FQPF32N12V2
典型特征
(续)
Z
θ
(T )和T H的é R M一l研究(E S) P 0:N发E
10
0
D = 0 .5
0 .2
10
-1
0 .1
0 .0 5
0 .0 2
0 .0 1
N 2 O TE S:
1 . Z
θ
J·C
= 1 .0
/ W M A X 。
(t)
2 。 ü TY F A C到R,D = T
1
/t
2
3 . T
JM
- T
C
= P
D M
* Z
θ
J·C
(t)
P
DM
t
1
S IN克乐P ü LS ê
JC
10
-2
t
2
10
-5
10
-4
10
-3
10
-2
10
-1
10
0
10
1
t
1
,S单方W AVE P ü LS E D市建局TIO N [秒]
图11-1 。瞬态热响应曲线FQP32N12V2
Z
θ
(T )和T H的é R M一l研究(E S) P 0:N发E
D = 0 .5
10
0
0 .2
0 .1
0 .0 5
10
-1
N 2 O TE S:
1 . Z
θ
J·C
= 3 .0
/ W M A X 。
(t)
2 。 ü TY F A C到R,D = T
1
/t
2
3 . T
JM
- T
C
= P
D M
* Z
θ
J·C
(t)
0 .0 2
0 .0 1
S IN克乐P ü LS ê
JC
P
DM
t
1
t
2
10
-2
10
-5
10
-4
10
-3
10
-2
10
-1
10
0
10
1
t
1
,S单方W AVE P ü LS E D市建局TIO N [秒]
图11-2 。瞬态热响应曲线FQPF32N12V2
2003仙童半导体公司
版本A 2003年12月
FQP32N12V2/FQPF32N12V2
QFET
FQP32N12V2/FQPF32N12V2
120V N沟道MOSFET
概述
这些N沟道增强型功率场效应
晶体管采用飞兆半导体专有的,
平面条形, DMOS技术。
这种先进的技术已特别针对
最大限度地减少通态电阻,优越的开关
性能,并能承受高能量脉冲
雪崩和减刑模式。这些装置是公
适合用于DC到DC转换器, sychronous整流,
和其他应用最低的Rds(on )是必需的。
特点
32 A, 120 V ,R
DS ( ON)
= 0.05 @V
GS
= 10 V
低栅极电荷(典型的41 NC)
低的Crss (典型值70 pF的)
快速开关
100%的雪崩测试
改进的dv / dt能力
D
!
G
!
g DS的
TO-220
FQP系列
GD S
TO-220F
FQPF系列
!
S
绝对最大额定值
符号
V
DSS
I
D
I
DM
V
GSS
E
AS
I
AR
E
AR
dv / dt的
P
D
T
J
, T
英镑
T
L
T
C
= 25 ° C除非另有说明
参数
漏源电压
- 连续(T
C
= 25°C)
漏电流
- 连续(T
C
= 100°C)
漏电流
- 脉冲
(注1 )
FQP32N12V2
120
32
23
128
FQPF32N12V2
32 *
23 *
128 *
±
30
439
32
15
4.5
单位
V
A
A
A
V
mJ
A
mJ
V / ns的
W
W / ℃,
°C
°C
栅源电压
单脉冲雪崩能量
雪崩电流
重复性雪崩能量
峰值二极管恢复的dv / dt
功率耗散(T
C
= 25°C)
(注2 )
(注1 )
(注1 )
(注3)
- 减免上述25℃
工作和存储温度范围
最大无铅焊接温度的目的,
8分之1 & QUOT ;从案例5秒
150
1
-55到+175
300
50
0.33
*漏电流受最高结温。
热特性
符号
R
θJC
R
θJS
R
θJA
参数
热阻,结到外壳
热电阻,凯斯到水槽典型。
热阻,结到环境
FQP32N12V2
1.0
40
62.5
FQPF32N12V2
3.0
--
62.5
单位
° C / W
° C / W
° C / W
2003仙童半导体公司
版本A 2003年12月
FQP32N12V2/FQPF32N12V2
电气特性
符号
参数
T
C
= 25 ° C除非另有说明
测试条件
典型值
最大
单位
开关特性
BV
DSS
ΔBV
DSS
/
T
J
I
DSS
I
GSSF
I
GSSR
漏源击穿电压
击穿电压温度
系数
零栅极电压漏极电流
门体漏电流,正向
门体漏电流,反向
V
GS
= 0 V,I
D
= 250
A
I
D
= 250
A,
参考25 ℃下
V
DS
= 120 V, V
GS
= 0 V
V
DS
= 96 V,T
C
= 150°C
V
GS
= 30 V, V
DS
= 0 V
V
GS
= -30 V, V
DS
= 0 V
120
--
--
--
--
--
--
0.14
--
--
--
--
--
--
1
10
100
-100
V
V /°C的
A
A
nA
nA
基本特征
V
GS ( TH)
R
DS ( ON)
g
FS
栅极阈值电压
静态漏源
导通电阻
正向跨导
V
DS
= V
GS
, I
D
= 250
A
V
GS
= 10 V,I
D
= 16 A
V
DS
= 40 V,I
D
= 16 A
(注4 )
2.0
--
--
--
0.043
25
4.0
0.05
--
V
S
动态特性
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
输入电容
输出电容
反向传输电容
V
DS
= 25 V, V
GS
= 0 V,
F = 1.0 MHz的
--
--
--
1430
310
70
1860
405
90
pF
pF
pF
开关特性
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
Q
g
Q
gs
Q
gd
导通延迟时间
开启上升时间
打开-O FF延迟时间
关断下降时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
V
DS
= 96 V,I
D
= 32 A,
V
GS
= 10 V
(注4,5)
V
DD
= 60 V,I
D
= 32 A,
R
G
= 25
(注4,5)
--
--
--
--
--
--
--
16
190
114
158
41
8
18
42
390
238
326
53
--
--
ns
ns
ns
ns
nC
nC
nC
漏源二极管的特性和最大额定值
I
S
I
SM
V
SD
t
rr
Q
rr
最大连续漏源二极管的正向电流
最大脉冲漏源二极管的正向电流
V
GS
= 0 V,I
S
= 32 A
漏源二极管的正向电压
反向恢复时间
反向恢复电荷
V
GS
= 0 V,I
S
= 32 A,
dI
F
/ DT = 100 A / μs的
(注4 )
--
--
--
--
--
--
--
--
123
0.54
32
128
1.4
--
--
A
A
V
ns
C
注意事项:
1.重复额定值:脉冲宽度有限的最高结温
2, L = 0.5mH ,我
AS
= 32A ,V
DD
= 50V ,R
G
= 25
,
起始物为
J
= 25°C
3. I
SD
32A , di / dt的
200A / μs的,V
DD
BV
DSS ,
起始物为
J
= 25°C
4.脉冲测试:脉冲宽度
300μS ,占空比
2%
5.基本上是独立工作温度
2003仙童半导体公司
版本A 2003年12月
FQP32N12V2/FQPF32N12V2
典型特征
10
2
I
D
,漏电流[ A]
I
D
,漏电流[ A]
V
GS
15.0 V
10.0 V
8.0 V
7.0 V
6.0 V
5.5 V
5.0 V
底部: 4.5 V
上图:
10
2
175 C
1
o
10
25 C
-55 C
o
o
10
1
10
0
注意事项:
1. 250μ s脉冲测试
2. T
C
= 25℃
注意事项:
1. V
DS
= 40V
2. 250μ s脉冲测试
10
-1
10
0
10
0
10
1
10
-1
2
4
6
8
10
V
DS
,漏源电压[V]
V
GS
,栅源电压[V]
图1.区域特征
图2.传输特性
160
140
10
2
R
DS ( ON)
[mΩ ],
漏源导通电阻
I
DR
,反向漏电流[ A]
120
100
80
60
V
GS
= 10V
10
1
175
10
0
25
V
GS
= 20V
40
20
0
0
20
40
60
80
100
120
注:t
J
= 25℃
注意事项:
1. V
GS
= 0V
2. 250μ s脉冲测试
10
-1
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
1.4
1.6
I
D
,漏电流[ A]
V
SD
,源极 - 漏极电压[ V]
图3.导通电阻变化VS
漏电流和栅极电压
图4.体二极管正向电压
变化与源电流
和温度
12
3500
C
国际空间站
= C
gs
+ C
gd
(C
ds
=短路)
C
OSS
= C
ds
+ C
gd
C
RSS
= C
gd
3000
10
V
DS
= 30V
V
DS
= 60V
2500
V
GS
,栅源电压[V]
8
V
DS
= 96V
电容[ pF的]
2000
C
国际空间站
C
OSS
注意事项;
1. V
GS
= 0 V
2. F = 1 MHz的
6
1500
4
1000
C
RSS
500
2
注:我
D
= 32A
0
-1
10
10
0
10
1
0
0
10
20
30
40
50
V
DS
,漏源电压[V]
Q
G
,总栅极电荷[ NC ]
图5.电容特性
图6.栅极电荷特性
2003仙童半导体公司
版本A 2003年12月
FQP32N12V2/FQPF32N12V2
典型特征
(续)
1.2
3.0
2.5
BV
DSS
(归一化)
漏源击穿电压
1.1
R
DS ( ON)
(归一化)
漏源导通电阻
2.0
1.0
1.5
1.0
注意事项:
1. V
GS
= 10 V
2. I
D
= 16 A
0.9
注意事项:
1. V
GS
= 0 V
2. I
D
= 250
μ
A
0.5
0.8
-100
-50
0
50
100
o
150
200
0.0
-100
-50
0
50
100
o
150
200
T
J
,结温[C]
T
J
,结温[C]
图7.击穿电压变化
与温度
图8.导通电阻变化
与温度
10
3
10
在这一领域
由R有限公司
DS ( ON)
3
在这一领域
由R有限公司
DS ( ON)
10
2
100
s
10
2
I
D
,漏电流[ A]
I
D
,漏电流[ A]
1毫秒
10毫秒
DC
100
s
1毫秒
10毫秒
DC
10
1
10
1
10
0
注意事项:
1. T
C
= 25 C
2. T
J
= 175 C
3.单脉冲
o
o
10
0
注意事项:
1. T
C
= 25 C
2. T
J
= 175 C
3.单脉冲
o
o
10
-1
10
0
10
1
10
2
10
-1
10
0
10
1
10
2
V
DS
,漏源电压[V]
V
DS
,漏源电压[V]
图9-1 。最大安全工作区
对于FQP32N12V2
图9-2 。最大安全工作区
对于FQPF32N12V2
35
30
25
I
D
,漏电流[ A]
20
15
10
5
0
25
50
75
100
125
150
175
T
C
,外壳温度[
]
图10.最大漏极电流
VS外壳温度
2003仙童半导体公司
版本A 2003年12月
FQP32N12V2/FQPF32N12V2
典型特征
(续)
Z
θ
(T )和T H的é R M一l研究(E S) P 0:N发E
10
0
D = 0 .5
0 .2
10
-1
0 .1
0 .0 5
0 .0 2
0 .0 1
N 2 O TE S:
1 . Z
θ
J·C
= 1 .0
/ W M A X 。
(t)
2 。 ü TY F A C到R,D = T
1
/t
2
3 . T
JM
- T
C
= P
D M
* Z
θ
J·C
(t)
P
DM
t
1
S IN克乐P ü LS ê
JC
10
-2
t
2
10
-5
10
-4
10
-3
10
-2
10
-1
10
0
10
1
t
1
,S单方W AVE P ü LS E D市建局TIO N [秒]
图11-1 。瞬态热响应曲线FQP32N12V2
Z
θ
(T )和T H的é R M一l研究(E S) P 0:N发E
D = 0 .5
10
0
0 .2
0 .1
0 .0 5
10
-1
N 2 O TE S:
1 . Z
θ
J·C
= 3 .0
/ W M A X 。
(t)
2 。 ü TY F A C到R,D = T
1
/t
2
3 . T
JM
- T
C
= P
D M
* Z
θ
J·C
(t)
0 .0 2
0 .0 1
S IN克乐P ü LS ê
JC
P
DM
t
1
t
2
10
-2
10
-5
10
-4
10
-3
10
-2
10
-1
10
0
10
1
t
1
,S单方W AVE P ü LS E D市建局TIO N [秒]
图11-2 。瞬态热响应曲线FQPF32N12V2
2003仙童半导体公司
版本A 2003年12月
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