ADS7822-Q1

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SGLS299 - 2009年3月

12位200 kHz的微功耗采样模拟数字转换器

1

特点

应用

电池供电系统

远程数据采集

隔离数据采集

同时采样，多通道系统

通过汽车应用认证

200 - kHz的采样速率

微功耗：

1.6毫瓦200千赫

0.54毫瓦在75千赫

0.06毫瓦7.5千赫

掉电电流： 3

A

最大

MSOP -8封装

伪差分输入

串行接口

2

描述

该ADS7822是12位采样模数（A / D）转换器，确保的规格在2.7 V至

5.25 V电源电压范围。它需要很少的电力，即使在全200 kHz的速率操作。在较低的

转化率，该设备的高速使其能够花费其大部分时间在省电模式下，该

功耗小于60

W

在7.5千赫兹。

该ADS7822还提供2.0 V工作电压为5 V ，一个同步串行接口，以及一个伪差分

输入。参考电压可以为50毫伏至V的范围内被设置为任何水平

CC

.

超低功耗和小尺寸使得ADS7822非常适合电池供电系统。这也是一个完美的结合

远程数据采集模块，同时多声道系统，以及隔离的数据采集。该

ADS7822可在采用MSOP - 8封装。

特区

控制

V

REF

D

OUT

+ IN

华助会

-IN

S / H放大器

比较

串行

接口

DCLOCK

CS / SHDN

1

2

请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并在得克萨斯州的关键应用程序使用

仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。

所有商标均为其各自所有者的财产。

版权所有 2009年，德州仪器

PRODUCTION数据信息为出版日期。

产品符合占德州条款规范

仪器标准保修。生产加工过程中不

不一定包括所有参数进行测试。

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这个集成电路可以被ESD损坏。德州仪器建议所有集成电路与处理

适当的预防措施。如果不遵守正确的操作和安装程序，可以造成损坏。

ESD损害的范围可以从细微的性能下降，完成设备故障。精密集成电路可能会更

容易受到伤害，因为很小的参数变化可能导致设备不能满足其公布的规格。

订购信息

(1)

T

A

-40 ° C至85°C

(1)

(2)

MSOP - DGK

包

(2)

2500卷

订购型号

ADS7822IDGKRQ1

顶部端标记

OCV

对于最新的封装和订购信息，请参阅封装选项附录本文档的末尾，或见TI

网站：

www.ti.com 。

包装图纸，热数据和符号可在

www.ti.com/packaging 。

绝对最大额定值

(1)

在工作自由空气的温度范围内（除非另有说明）

V

CC

V

IN

T

C

T

J

T

英镑

V

REF

(1)

电源电压

输入电压

外壳温度

结温

储存温度

外部参考电压

模拟输入

逻辑输入

6V

0.3 V到V

CC

+ 0.3 V

0.3 V至6 V

100°C

150°C

125°C

5.5 V

强调超越那些在列

绝对最大额定值

可能对器件造成永久性损坏。这些压力额定值

只和功能在这些或任何其他条件超出下所指示的设备的操作

推荐工作

条件

是不是暗示。在绝对最大额定条件下工作会影响器件的可靠性。

2

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电气特性： + V

CC

= 2.7 V

在-40 ° C至85°C ， + V

CC

= 2.7 V, V

REF

= 2.5 V，F

样品

= 75千赫，而f

CLK

= 16 × f

样品

（除非另有说明）

参数

模拟量输入

满量程输入范围

绝对输入范围

电容

漏电流

系统性能

决议

无失码

积分非线性误差

微分线性误差

偏移误差

增益误差

噪音

电源抑制

采样动态

转换时间

采集时间

(2)

测试条件

+在 - （ -In ）

+ IN - GND

- 在 - GND

民

0

–0.2

–0.2

典型值

最大

V

REF

V

CC

+ 0.2

+1.0

单位

V

V

V

pF

A

位

位

25

±1

12

11

–2

–2

–3

–3

33

82

12

1.5

75

V

IN

= 2.5 V

PP

在1 kHz

V

IN

= 2.5 V

PP

在1 kHz

V

IN

= 2.5 V

PP

在1 kHz

0.05

CS = GND ，女

样品

= 0赫兹

CS = V

CC

在代码710h

f

样品

= 7.5千赫

CS = V

CC

5

5

8

0.8

0.001

CMOS

V

IH

I

IH

= +5

A

I

IL

= +5

A

I

OH

= –250

A

I

OL

= 250

A

直接二进制

2.0

–0.3

2.1

0.4

5.5

0.8

3

40

–82

71

86

V

CC

±0.5

±0.5

+2

+2

+3

+3

最低位

(1)

最低位

最低位

最低位

μVRMS

dB

CLK周期

CLK周期

千赫

dB

dB

dB

V

G

G

A

A

A

吞吐率

动态特性

总谐波失真

SINAD

无杂散动态范围

参考输出

电压范围

阻力

漏电流

数字输入/输出

逻辑系列

V

IL

V

OH

V

OL

数据格式

(1)

(2)

V

V

V

V

逻辑电平

LSB表示最低有效位。随着V

REF

等于2.5 V， 1 LSB为0.61毫伏。

未经生产测试

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电气特性： + V

CC

= 2.7 V （续）

在-40 ° C至85°C ， + V

CC

= 2.7 V, V

REF

= 2.5 V，F

样品

= 75千赫，而f

CLK

= 16 × f

样品

（除非另有说明）

参数

电源要求

指定的性能

V

CC

请参阅注释

见注

静态电流

掉电电流

温度范围

指定的性能

(3)

(4)

(5)

(6)

–40

85

°C

(3)

测试条件

民

2.7

2.0

2.7

典型值

最大

3.6

2.7

3.6

单位

V

V

V

A

A

A

和

(4)

(4)

f

样品

= 7.5千赫

(5) (6)

f

样品

= 75千赫

CS = V

CC

(6)

20

200

325

10

该ADS7822的最大时钟速率小于1.2兆赫这个电源电压范围。

见

典型特征

了解更多信息。

f

CLK

= 1.2 MHz时， CS = V

CC

为145个时钟周期，每160 。

见

功耗

部分有关较低采样率的更多信息。

4

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电气特性： + V

CC

= 5 V

在-40 ° C至85°C ， + V

CC

= 5 V, V

REF

= 5 V，F

样品

= 200千赫，而f

CLK

= 16 × f

样品

（除非另有说明）

参数

模拟量输入

满量程输入范围

绝对输入范围

电容

漏电流

系统性能

决议

无失码

积分非线性误差

微分线性误差

偏移误差

增益误差

噪音

电源抑制

采样动态

转换时间

采集时间

(2)

测试条件

+在 - （ -In ）

+ IN - GND

- 在 - GND

民

0

–0.2

–0.2

典型值

最大

V

REF

V

CC

+ 0.2

+1.0

单位

V

V

V

pF

A

位

位

25

±1

12

11

–2

±0.8

–3

–4

33

70

12

1.5

200

V

IN

= 5 V

PP

在10 kHz

V

IN

= 5 V

PP

在10 kHz

V

IN

= 5 V

PP

在10 kHz

0.05

CS = GND ，女

样品

= 0赫兹

CS = V

CC

在代码710h

f

样品

± 12.5千赫

CS = V

CC

5

5

40

2.5

0.001

CMOS

V

IH

I

IH

= +5

A

I

IL

= +5

A

I

OH

= –250

A

I

OL

= 250

A

直接二进制

指定的性能

f

样品

= 200千赫

CS = V

CC

–40

4.75

320

5.25

550

10

85

3.0

–0.3

3.5

0.4

5.5

0.8

3

100

–78

71

79

V

CC

+3

+4

+2

最低位

(1)

最低位

最低位

最低位

μVRMS

dB

CLK周期

CLK周期

千赫

dB

dB

dB

V

G

G

A

A

A

吞吐率

动态特性

总谐波失真

SINAD

无杂散动态范围

参考输出

电压范围

阻力

漏电流

数字输入/输出

逻辑系列

V

IL

V

OH

V

OL

数据格式

电源要求

V

CC

静态电流

掉电电流

温度范围

指定的性能

(1)

(2)

V

V

V

V

逻辑电平

V

A

A

°C

LSB表示最低有效位。随着V

REF

等于5 V ， 1 LSB为1.22毫伏。

未经生产测试

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