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2SK2719
东芝场效应晶体管
硅N沟道MOS型( π - MOSIII )
2SK2719
斩波稳压器, DC-DC转换器和电机驱动器
应用
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
= 3.7
(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 2.6 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(最大值) (Ⅴ
DS
= 720 V)
增强型: V
th
= 2.0~4.0 V (V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
DC
漏电流
(注1 )
脉冲
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
(注3)
通道温度
存储温度范围
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
900
900
±30
3
A
9
125
295
3
12.5
150
55~150
W
mJ
A
mJ
°C
°C
单位
V
V
V
1.门
2.漏极(散热片)
3.源
JEDEC
JEITA
东芝
SC-65
2-16C1B
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复性雪崩能量
重4.6克(典型值)
注意:
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
1.0
50.0
单位
° C / W
° C / W
注1 :确保通道温度不超过150 ℃。
注2 : V
DD
=
25 V ,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
58
μH,
R
G
=
25
Ω,
I
AR
=
45 A
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最高结温
此晶体管是静电感应装置。请谨慎操作。
1
2006-11-10
2SK2719
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
10 V
V
GS
0V
4.7
Ω
V
DS
=
25 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±30
V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±10 μA,
V
DS
=
0 V
V
DS
=
720 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
1.5 A
V
DS
=
20 V,I
D
=
1.5 A
±30
900
2.0
0.65
V
OUT
55
ns
30
典型值。
3.7
2.6
750
10
70
15
最大
±10
100
4.0
4.3
单位
μA
V
μA
V
V
Ω
S
pF
pF
pF
I
D
=
1.5 A
R
L
=
133
Ω
开启时间
开关时间
下降时间
t
on
t
f
V
DD
200 V
& LT ;
1%, t
w
=
10
μs
=
打开-O FF时间
总栅极电荷
(栅极 - 源极加上栅极 - 漏极)
栅极 - 源电荷
栅 - 漏极( “米勒” )费
t
关闭
110
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
400 V, V
GS
=
10 V,I
D
=
3 A
25
13
12
nC
nC
nC
源极 - 漏极二极管额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏电流反向
(注1 )
脉冲漏极电流反向
(注1 )
二极管的正向电压
反向恢复时间
反向恢复电荷
符号
I
DR
测试条件
典型值。
最大
3
单位
A
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
I
DR
=
3 A,V
GS
=
0 V
I
DR
=
3 A,V
GS
=
0 V
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
1100
7.5
9
1.9
A
V
ns
μC
记号
东芝
K2719
产品型号(或缩写代码)
LOT号
A线指示
铅(Pb ) - 免费包或
铅(Pb ) -free完成。
2
2006-11-10
2SK2719
I
D
– V
DS
5
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
5
8
10
6
5.25
4
5.5
10
I
D
– V
DS
8
6
5.75
3
5.5
2
5.25
5
1
VGS
=
4 V
VGS
=
4.5 V
0
0
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
4
漏电流I
D
(A)
3
5
2
4.75
4.5
1
0
0
4
8
12
16
20
漏电流I
D
(A)
10
20
30
40
50
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
6
常见的来源
VDS
=
20 V
脉冲测试
25
V
DS
– V
GS
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
V
DS
(V)
漏源电压
5
Tc
= 55°C
25
20
漏电流I
D
(A)
4
15
3
ID
=
3 A
100
10
1.5
5
0.8
2
1
0
0
2
4
6
8
10
12
0
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
Y
fs
– I
D
(S)
10
5
3
100
0.1
0.5
0.3
常见的来源
VDS
=
20 V
脉冲测试
0.1
0.1
0.3
1
3
10
30
Tc
= 55°C
25
30
常见的来源
Tc
=
25°C
VGS
=
10 V
脉冲测试
R
DS ( ON)
– I
D
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(Ω)
正向转移导纳
Y
fs
10
5
3
1
0.5
0.1
0.3
1
3
10
30
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2006-11-10
2SK2719
R
DS ( ON)
TC =
(Ω)
20
常见的来源
VGS
=
10 V
脉冲测试
10
5
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
I
DR
– V
DS
漏源电阻R
DS ( ON)
(A)
反向漏电流I
DR
ID
=
3 A
1.5
0.8
16
3
1
0.5
0.3
10
0.1
0.05
0.03
5
1
VGS
=
0,
1
V
3
12
8
4
0
80
40
0
40
80
120
160
0.01
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
壳温度( ° C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
2000
1000
500
300
西塞
5
V
th
TC =
常见的来源
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
脉冲测试
V
th
(V)
栅极阈值电压
100
4
(PF )
电容C
3
100
科斯
50
30
常见的来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
脉冲测试
0.3
1
3
10
30
2
10
5
0.1
CRSS
1
0
80
40
0
40
80
120
160
漏源电压
V
DS
(V)
壳温度( ° C)
P
D
TC =
150
500
动态输入/输出特性
常见的来源
Tc
=
25°C
ID
=
3 A
脉冲测试
VDS
300
200
200
400
8
VDD
=
100 V
12
20
漏极功耗P
D
(W)
V
DS
(V)
400
16
100
漏源电压
50
100
VGS
4
0
0
40
80
120
160
0
0
8
16
24
32
0
40
壳温度( ° C)
总栅极电荷Q
g
( NC )
4
2006-11-10
栅源电压
V
GS
(V)
2SK2719
r
th
– t
w
3
归瞬态热阻抗
r
日(T )
/R
TH( CH-C )
1
0.5
0.3
=
0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.03
0.01
0.01
0.005
0.003
10
μ
100
μ
1m
10 m
100 m
0.05
0.02
单脉冲
PDM
t
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
1.0°C/W
1
10
脉冲宽度
t
w
(s)
安全工作区
30
ID MAX(脉冲) *
500
E
AS
– T
ch
雪崩能量E
AS
(兆焦耳)
10
100
μs*
400
3
ID MAX(连续)
1毫秒*
漏电流I
D
(A)
300
1
0.5
0.3
直流操作
Tc
=
25°C
200
100
0.1
0.05
0.03
*:
单一不重复的脉冲
Tc
=
25°C
曲线必须是线性降额
同的温度升高。
3
10
30
100
0
25
50
75
100
125
150
通道温度(初始)T
ch
(°C)
VDSS最大
300
1000
0.01
1
漏源电压
V
DS
(V)
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
90 V,L
=
60 MH
电波表
1
2
B
VDSS
Ε
AS
=
·L ·I·
B
2
VDSS
V
DD
5
2006-11-10
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    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

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