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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符2型号页 > 首字符2的型号第406页 > 25C040XT-I/P
不建议用于新设计 -
请使用25AA040A或25LC040A 。
25AA040/25LC040/25C040
4K SPI总线串行EEPROM
器件选型表
部分
25AA040
25LC040
25C040
V
CC
范围
1.8-5.5V
2.5-5.5V
4.5-5.5V
马克斯。时钟
频率
1兆赫
2兆赫
3兆赫
温度。
范围
I
I
I,E
通信设备可以通过暂停
HOLD引脚( HOLD ) 。当设备被暂停,跃迁
在其输入上系统蒸发散将被忽略,除
片选,允许主机优先级更高
中断。而且,写入操作的装置,可
通过将写保护引脚(WP )禁用。
封装类型
PDIP
CS
SO
1
8
V
CC
HOLD
SCK
SI
2
3
4
25XX040
产品特点:
低功耗CMOS技术:
- 写电流:3 mA,典型值
- 读电流: 500
μA,
典型
- 待机电流: 500 nA的典型
512 ×8位的组织
16字节页
写周期时间: 5 ms以下。
自定时擦除和写入周期
块写保护:
- 无保护, 1/4,1/2或所有阵列
内置写保护:
- 电源开/关数据保护电路
- 写使能锁存器
- 写保护引脚
连续读
高可靠性:
- 耐力: 100万次
- 数据保存: > 200年
- ESD保护: > 4000V
8引脚PDIP , SOIC和TSSOP封装
温度范围内支持:
- 工业级(I ) :
-40 ° C至+ 85°C
- 汽车( E) ( 25C040 ) :
-40°C至+ 125°C
7
6
5
WP
V
SS
SOIC
CS
SO
WP
V
SS
1
8
V
CC
HOLD
SCK
SI
2
3
4
25XX040
1
2
3
4
7
6
5
TSSOP
25XX040
HOLD
V
CC
CS
SO
8
7
6
5
SCK
SI
V
SS
WP
框图
状态
注册
高压发生器
I / O控制
逻辑
描述:
Microchip Technology Inc.的25AA040 / 25LC040 /
25C040 ( 25xx040
*
)是4千位串行电
可擦除PROM 。该存储器是通过一个简单的访问
串行外设接口(SPI )兼容的串行总线。
所需的总线信号的时钟输入(SCK)加
在(SI)的单独的数据输入和数据输出( SO)线。访问
该装置是通过在芯片的控制选择(CS)的
输入。
* 25XX040使用本文档中作为一个通用的零件号
为25AA040 / 25LC040 / 25C040设备。
内存
控制
逻辑
EEPROM
ARRAY
XDEC
页面
锁存器
SI
SO
CS
SCK
HOLD
WP
V
CC
V
SS
Y译码
感测放大器。
R / W控制
2006年Microchip的科技公司
DS21204E第1页
25AA040/25LC040/25C040
1.0
电气特性
绝对最大额定值
()
V
CC
.............................................................................................................................................................................7.0V
所有输入和输出w.r.t. V
SS
.......................................................................................................... -0.6V到V
CC
+1.0V
储存温度.................................................................................................................................-65°C至150℃下
在偏置环境温度...............................................................................................................-65°C至125℃的
所有引脚的ESD保护......................................................................................................................................... 4 KV
注意:
条件超过上述“绝对最大额定值”,可能会造成永久性损坏
装置。这只是额定和器件运行在超过或任何其他条件超出上述
本说明书中的操作列表表示是不是暗示。暴露在极限条件下的
时间会影响器件的可靠性长时间
表1-1:
DC特性
工业级(I ) :
T
A
= -40 ° C至+ 85°C V
CC
= 1.8V至5.5V
汽车( E) :T已
A
= -40 ° C至+ 125°C V
CC
= 4.5V至5.5V ( 25C040只)
分钟。
2.0
0.7 V
CC
-0.3
-0.3
V
CC
-0.5
马克斯。
V
CC
+1
V
CC
+1
0.8
0.3 V
CC
0.4
0.2
±1
±1
7
单位
V
V
V
V
V
V
V
μA
μA
pF
测试条件
V
CC
2.7V
(注)
V
CC
& LT ; 2.7V
(注)
V
CC
2.7V
(注)
V
CC
& LT ; 2.7V
(注)
I
OL
= 2.1毫安
I
OL
= 1.0毫安, V
CC
& LT ; 2.5V
I
OH
=-400
μA
CS = V
CC
, V
IN
= V
SS TO
V
CC
CS = V
CC
, V
OUT
= V
SS TO
V
CC
T
A
= 25°C , CLK = 1.0 MHz时,
V
CC
= 5.0V
(注)
V
CC
= 5.5V ; F
CLK
= 3.0 MHz的; SO =打开
V
CC
= 2.5V ; F
CLK
= 2.0 MHz的; SO =打开
V
CC
= 5.5V
V
CC
= 2.5V
CS = V
CC
= 5.5V ,输入连接到V
CC
or
V
SS
CS = V
CC
= 2.5V ,输入连接到V
CC
or
V
SS
DC特性
参数。
D001
D002
D003
D004
D005
D006
D007
D008
D009
D010
符号。
V
IH1
V
IH2
V
IL1
V
IL2
V
OL
V
OL
V
OH
I
LI
I
LO
C
INT
特征
高级别输入
电压
低电平输入
电压
低电平输出
电压
高电平的输出
电压
输入漏电流
输出漏
当前
内部电容
(所有输入和
输出)
D011
D012
D013
I
CC
阅读工作电流
I
CC
I
CCS
待机电流
1
500
5
3
5
1
mA
μA
mA
mA
μA
μA
注意:
此参数是周期性采样,而不是100 %测试。
DS21204E第2页
2006年Microchip的科技公司
25AA040/25LC040/25C040
表1-2:
AC特性
工业级(I ) :
汽车( E) :
T
A
= -40 ° C至+ 85°C
T
A
= -40 ° C至+ 125°C
V
CC
= 1.8V至5.5V
V
CC
= 4.5V至5.5V ( 25C040只)
AC特性
PARAM
1
符号。
F
CLK
特征
时钟频率
分钟。
100
250
500
150
250
475
500
30
50
50
50
100
100
150
230
475
150
230
475
50
50
0
100
100
200
100
100
200
100
150
200
100
150
200
1M
马克斯。
3
2
1
2
2
150
230
475
200
250
500
5
单位
兆赫
兆赫
兆赫
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
μs
μs
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ms
东/西
周期
测试条件
V
CC
= 4.5V至5.5V
V
CC
= 2.5V至4.5V
V
CC
= 1.8V至2.5V
V
CC
= 4.5V至5.5V
V
CC
= 2.5V至4.5V
V
CC
= 1.8V至2.5V
V
CC
= 4.5V至5.5V
V
CC
= 2.5V至4.5V
V
CC
= 1.8V至2.5V
V
CC
= 4.5V至5.5V
V
CC
= 2.5V至4.5V
V
CC
= 1.8V至2.5V
V
CC
= 4.5V至5.5V
V
CC
= 2.5V至4.5V
V
CC
= 1.8V至2.5V
(注1 )
(注1 )
V
CC
= 4.5V至5.5V
V
CC
= 2.5V至4.5V
V
CC
= 1.8V至2.5V
V
CC
= 4.5V至5.5V
V
CC
= 2.5V至4.5V
V
CC
= 1.8V至2.5V
V
CC
= 4.5V至5.5V
V
CC
= 2.5V至4.5V
V
CC
= 1.8V至2.5V
(注1 )
V
CC
= 4.5V至5.5V
(注1 )
V
CC
= 2.5V至4.5V
(注1 )
V
CC
= 1.8V至2.5V
(注1 )
V
CC
= 4.5V至5.5V
V
CC
= 2.5V至4.5V
V
CC
= 1.8V至2.5V
V
CC
= 4.5V至5.5V
V
CC
= 2.5V至4.5V
V
CC
= 1.8V至2.5V
V
CC
= 4.5V至5.5V
(注1 )
V
CC
= 2.5V至4.5V
(注1 )
V
CC
= 1.8V至2.5V
(注1 )
V
CC
= 4.5V至5.5V
V
CC
= 2.5V至4.5V
V
CC
= 1.8V至2.5V
(注2 )
2
T
CSS
CS建立时间
3
T
CSH
CS保持时间
4
5
T
惩教署
T
SU
CS禁用时间
数据建立时间
6
T
HD
数据保持时间
7
8
9
T
R
T
F
T
HI
CLK上升时间
CLK下降时间
时钟高电平时间
10
T
LO
时钟低电平时间
11
12
13
T
CLD
T
CLE
T
V
时钟延迟时间
时钟使能时间
时钟输出低电平有效。
14
15
T
HO
T
DIS
输出保持时间
输出禁止时间
16
T
HS
HOLD建立时间
17
T
HH
HOLD保持时间
18
T
HZ
HOLD低到输出高阻
19
T
HV
高举到输出有效
20
21
T
WC
注1 :
2:
内部写周期时间
耐力
此参数是周期性采样,而不是100 %测试。
该参数没有进行测试,但性能可以保证。对于在特定应用中估计耐用性,请
请教这可以从我们的网站上获得的Total Endurance模型: www.microchip.com 。
2006年Microchip的科技公司
DS21204E第3页
25AA040/25LC040/25C040
图1-1:
CS
16
SCK
18
SO
n+2
n+1
n
高阻抗
19
n
5
n
n-1
n-1
17
16
17
保持时间
不在乎
SI
HOLD
n+2
n+1
n
图1-2:
串行输入时序
4
CS
2
模式1,1
SCK模式0,0
5
SI
6
在LSB
7
8
3
12
11
在MSB
SO
高阻抗
图1-3:
串行输出时序
CS
9
SCK
13
14
SO
MSB OUT
15
ISB出
10
3
模式1,1
模式0,0
SI
不在乎
DS21204E第4页
2006年Microchip的科技公司
25AA040/25LC040/25C040
表1-3:
AC波形:
V
LO
= 0.2V
V
HI
= V
CC
- 0.2V
V
HI
= 4.0V
输入
产量
注1 :
对于V
CC
4.0V
2:
对于V
CC
& GT ; 4.0V
(注1 )
(注2 )
SO
0.5 V
CC
0.5 V
CC
1.8 KΩ
100 pF的
2.25 KΩ
AC测试条件
图1-4:
AC测试电路交流
V
CC
定时测量参考电平
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    电话:0755-82780082
    联系人:杨小姐
    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

    25C040XT-I/P
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