电子系统中静电放电感应效应可分为以下三类：

   (1)硬损坏；

   (2)软损坏；

   (3)暂时混乱。

   硬损坏引起系统硬件的实际损坏（如集成电路损坏）；软损坏影响系统运行（例如改变存储位或程序锁死），但并没有引起物理上的损坏；APT6011B2VFR暂时混乱并不引起损坏，但这种影响是可以察觉到的（例如CRT显示的滚动，或阅读显示的瞬时变化）。

   欧盟的静电放电故障标准(执行标准B)如下：

   测试后设备能够按预定方式继续运行。不允许性能降低或功能丧失。可是测试过程中性能降低是允许的。实际运行状态和存储的数据不允许变化。

   换句话说，暂时混乱是允许的，但是不允许有硬损坏和软损坏。

   设备静电放电抗扰性设计的第一步就是防止直接放电电流流过敏感电路。解决的办法，或者使电路绝缘，或者为放电电流设计一个可选择的通路。

   如果采用绝缘的办法就必须完全绝缘，因为电火花可以通过极窄的空气隙进入，比如键盘上按键周围的缝隙或空气隙。放电也可以通过与针孔一样大小的洞。

   产品放在金属机壳内时，机壳可以作为静电放电电流的一个可选路径。为了有效地转移静电放电电流，远离敏感电路，机壳的所有金属部分必须搭接在一起。如果从导电的角度看机壳是不连续的，那么一部分电流就可能流过内部电路，如图15-8所示。

    图15—8缱隙处没有良好电接触时金属机壳上的静电放电

   静电放电搭接和接地的基本原则是在可能出现静电放电电流的地方是聂低电感多点搭接，而在不可能出现静电放电电流的地方用单点搭接。因此，必须在机壳所有的结点、接缝和连接处保证良好的高频电连续性（多点式）。对于不恰当搭接的机壳，静电放电电流会流过机壳和内部电路之间的寄生电容，放电电流的路径通常是很复杂而又不可预知的。