在当今监管的环境中，电磁兼容(EMC)工程在把电子产品推向市场的过程中起着重要的作用。通常，一个产品的功能特性在产品上市的时间表中不是主要的问题；主要问题是通过必需的EMC测试。

    控制数字系统发射的成本效益与设计复杂的数字逻辑一样麻烦，一样困难。OMIT-SH-124LM发射控制从一开始就应该作为一个设计问题对待，而且在整个设计过程中它应得到必要的工程资源。

   这一章模拟了辐射发射，并概述了辐射依赖的参数。根据信号的电特性和系统的物理特性，也给出了预测辐射发射的方法。了解影响辐射的参数将有助于开发使其最小化的技术。

   来自数字电子器件的辐射会以差模和共模的方式出现。如图12-1所示，差模辐射是电路正常工作的结果，是电流流过电路导体形成的环路产生的。这些环路作为小环形天线主要辐射磁场。虽然这些信号环路对于电路工作是必需的，但为了使辐射最小化，它们的尺寸和面积在设计过程中必须被控制。

   然而，共模辐射是电路的寄生现象，是导线上不希望出现的压降产生的。流经接地阻抗的差模电流在数字逻辑接地系统中产生一个压降。因而当电缆连接到系统上时，被共模地电位驱动，形成天线．辐射以电场为主，如图12-2所示。因为这些寄生阻抗不是有意设计到系统中的或显示在文件中的，所以共模辐射往往更难于理解和控制。在设计过程中，提出处理共模发射问题的方法这一步必须做到。