100个器件样本贴装偏差频次分布
发布时间:2012/9/25 19:21:58 访问次数:799
美国、西欧数字机床精度测N450CH26试标准中常采用数理统计学的方法,即以贴片质量的特性分布描述贴片机的贴片精度,它可用平均值(u)与标准偏差来表征。具体做法是:选定某个样本器件(有条件时以玻璃平板取代PCB),沿X轴(或y轴)贴装一定数量的器件,并记录器件与X/Y中心位置的偏差值,在收集大量数据后可对AX/Ay进行统计分析,最终确定贴片机的贴片精度,可参见11.4.2节中有关IPC-11850贴片机验收标准。在统计分析中首先利用直方图对数据进行加工整理,找出其统计规律,即分析数据分布的形态以便对其总体的分布特征进行统计推断。通常采集的数据不应小于50个,现举例如下。
在PCB标准样板上沿X轴线贴装100个1608片式电容样本。从数据中找出最大值和最小值(/max=300.0,Smi=200.0),数据称为数据的散布范围,记为B,采集数据在B内变动,B=(300,200),确定数据的大致分组数K的取值范围如表11.1所示。
计算各组上、下限,首先确定第一组下限值,应使S包含在第一组中,再计算各组中心值,数据整理后分别归并到各区组,清点各区组偏差器件的频次数,总频次数应与计量总数据相等,如表11.2所示。
从表11.2中可清楚地看出偏差测量值的集聚和离散趋势。为直观地表示贴装偏差分布情况,根据表11.2的数据绘出直方图,如图11.47所示。
在图11.47中,横坐标为贴装偏差值X,纵坐标为发生频次数。直方图中间高两边低,左右对称,这种分布规律称为正态分布,即正常状态下的分布。
美国、西欧数字机床精度测N450CH26试标准中常采用数理统计学的方法,即以贴片质量的特性分布描述贴片机的贴片精度,它可用平均值(u)与标准偏差来表征。具体做法是:选定某个样本器件(有条件时以玻璃平板取代PCB),沿X轴(或y轴)贴装一定数量的器件,并记录器件与X/Y中心位置的偏差值,在收集大量数据后可对AX/Ay进行统计分析,最终确定贴片机的贴片精度,可参见11.4.2节中有关IPC-11850贴片机验收标准。在统计分析中首先利用直方图对数据进行加工整理,找出其统计规律,即分析数据分布的形态以便对其总体的分布特征进行统计推断。通常采集的数据不应小于50个,现举例如下。
在PCB标准样板上沿X轴线贴装100个1608片式电容样本。从数据中找出最大值和最小值(/max=300.0,Smi=200.0),数据称为数据的散布范围,记为B,采集数据在B内变动,B=(300,200),确定数据的大致分组数K的取值范围如表11.1所示。
计算各组上、下限,首先确定第一组下限值,应使S包含在第一组中,再计算各组中心值,数据整理后分别归并到各区组,清点各区组偏差器件的频次数,总频次数应与计量总数据相等,如表11.2所示。
从表11.2中可清楚地看出偏差测量值的集聚和离散趋势。为直观地表示贴装偏差分布情况,根据表11.2的数据绘出直方图,如图11.47所示。
在图11.47中,横坐标为贴装偏差值X,纵坐标为发生频次数。直方图中间高两边低,左右对称,这种分布规律称为正态分布,即正常状态下的分布。
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