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低温共烧陶瓷——一种理想的微波材料

发布时间:2008/6/5 0:00:00 访问次数:410

李 泊1, 潘凤娥2
1. 河北半导体研究所, 河北 石家庄 050051;2. 青岛远洋船员学院机电系, 山东 青岛 266071 )
摘要:重点介绍了目前ltcc技术状态,mcm封装技术的发展,及低温陶瓷性能。使用au, ag, cu等较低电阻率金属材料作导电材料,可以极大地降低插入损耗,并且介电常数比高温共烧陶瓷(htcc) 低,因此可以提高微波信号传输速率,减小信号延迟时间。在提高材料性能方面提出了一些建议和方法。

关键词:低温共烧陶瓷;插损;延迟时间;微波性能

中图分类号:tb34 文献标识码: a 文章编号:1003-353x(2003)11-0071-05

1 引言

在陶瓷基片多芯片组件(mcm-c)的基板制造及封装中,al2o3瓷已得到了成功使用,但随着工作频率的增加,组件对材料的物理及电性能的要求不断提高,al 2o3微波性能已影响了它在高速数字电路及高频微波电路信号中的传输,而低温共烧陶瓷(ltcc)已成为微波mcm理想材料。

mcm技术领域主要集中在不同的封装技术上,如叠层多芯片组件(mcm-l)技术、淀积薄膜多芯片组件技术(mcm-d)和陶瓷多芯片组件技术。另外,近几年发展起来的三维(3d)多芯片组件技术也得到相当关注。

ltcc技术是陶瓷领域的一个分支,在高频微波以及高速数字电路方面具有一定的优点。

2 ltcc技术简介

ltcc的工艺设备及流程与高温共烧陶瓷(htcc)没有太大的区别,它的工艺流程如图1。不同之处主要有:陶瓷粉配料不同,采用的金属化材料不同,在烧结气氛上控制更为方便,烧结温度更低等。

浆料的组分包括粘结剂、溶剂、增塑剂及润湿剂等。在选择粘结剂时需重点考虑的是粘结剂系统的热解行为。粘结剂种类较多,如聚乙烯醇缩丁醛(pvb)、聚甲基丙烯醇酸甲脂(pmma)等,但不管选用哪一种都要求在排胶期间(常在220~450℃)能干净地分解完,尽可能减少残余碳的存在。如果碳含量超过100ppm,将会严重影响介质的击穿电压,甚至影响基板的致密度和抗弯强度。

陶瓷粉的比例是决定材料物理性能及电性能的关键因素[1]。为了使材料具有不同的性能,其配比也是不一样的,主要有硼硅酸玻璃/填充物系统、玻璃/氧化铝系统、玻璃/莫来石系统等。其中的添加剂主要是用来改善陶瓷的抗弯强度、热导率等,但要求填充物在烧结时能与玻璃形成较好的浸润。表1 是kyocea公司的硼硅酸玻璃陶瓷组分及相对应的材料介电常数 [2]。

另外,对于玻璃/氧化铝系统,为了降低介电常数,在氧化铝中加入低介电常数的玻璃成分,它们的比例大约是50︰50。ibm公司的玻璃/陶瓷组分如表2 [3]。

现许多公司都以卷的形式提供商用ltcc生瓷流延片,并提供与之收缩率和材料相匹配的金属化膏。一些公司材料性能如表3。

一旦各层金属化线条和层间互连小孔金属化都作好了,用合适的模具定位并按顺序叠起来,在一定的温度和压力下进行层压,形成一个整体,然后在800~900℃下进行共烧形成致密的完整的基板或管壳。 由于元器件直接安装在管壳表面(不是安装在分离的陶瓷基板上,然后还需安装在一个标准的管壳内与外引线键合),因此减小了额外的引线键合并提高了可靠性,对于mcm应用是很理想的。

在烧结过程中,流延带在x和 y轴方向有12%~16%在z轴有15%左右的收缩率。假如有对应的金属化和较好的工艺稳定性,收缩率是可以达到一致的,但是对于有的系统,要求制作时需要较小的收缩率误差。烧结气氛一般不需像aln ,al2o3那样严格控制,除非金属化是采用需要保护的cu等材料,因此成本较低,工艺简单。

3 低温共烧陶瓷材料的特点

3.1 可制作精细线条和线间距

在ltcc技术中,厚膜印刷工艺很容易达到 0.15mm,并且0.1mm的线条和间距也已做到并得到应用。假如需要更细

李 泊1, 潘凤娥2
1. 河北半导体研究所, 河北 石家庄 050051;2. 青岛远洋船员学院机电系, 山东 青岛 266071 )
摘要:重点介绍了目前ltcc技术状态,mcm封装技术的发展,及低温陶瓷性能。使用au, ag, cu等较低电阻率金属材料作导电材料,可以极大地降低插入损耗,并且介电常数比高温共烧陶瓷(htcc) 低,因此可以提高微波信号传输速率,减小信号延迟时间。在提高材料性能方面提出了一些建议和方法。

关键词:低温共烧陶瓷;插损;延迟时间;微波性能

中图分类号:tb34 文献标识码: a 文章编号:1003-353x(2003)11-0071-05

1 引言

在陶瓷基片多芯片组件(mcm-c)的基板制造及封装中,al2o3瓷已得到了成功使用,但随着工作频率的增加,组件对材料的物理及电性能的要求不断提高,al 2o3微波性能已影响了它在高速数字电路及高频微波电路信号中的传输,而低温共烧陶瓷(ltcc)已成为微波mcm理想材料。

mcm技术领域主要集中在不同的封装技术上,如叠层多芯片组件(mcm-l)技术、淀积薄膜多芯片组件技术(mcm-d)和陶瓷多芯片组件技术。另外,近几年发展起来的三维(3d)多芯片组件技术也得到相当关注。

ltcc技术是陶瓷领域的一个分支,在高频微波以及高速数字电路方面具有一定的优点。

2 ltcc技术简介

ltcc的工艺设备及流程与高温共烧陶瓷(htcc)没有太大的区别,它的工艺流程如图1。不同之处主要有:陶瓷粉配料不同,采用的金属化材料不同,在烧结气氛上控制更为方便,烧结温度更低等。

浆料的组分包括粘结剂、溶剂、增塑剂及润湿剂等。在选择粘结剂时需重点考虑的是粘结剂系统的热解行为。粘结剂种类较多,如聚乙烯醇缩丁醛(pvb)、聚甲基丙烯醇酸甲脂(pmma)等,但不管选用哪一种都要求在排胶期间(常在220~450℃)能干净地分解完,尽可能减少残余碳的存在。如果碳含量超过100ppm,将会严重影响介质的击穿电压,甚至影响基板的致密度和抗弯强度。

陶瓷粉的比例是决定材料物理性能及电性能的关键因素[1]。为了使材料具有不同的性能,其配比也是不一样的,主要有硼硅酸玻璃/填充物系统、玻璃/氧化铝系统、玻璃/莫来石系统等。其中的添加剂主要是用来改善陶瓷的抗弯强度、热导率等,但要求填充物在烧结时能与玻璃形成较好的浸润。表1 是kyocea公司的硼硅酸玻璃陶瓷组分及相对应的材料介电常数 [2]。

另外,对于玻璃/氧化铝系统,为了降低介电常数,在氧化铝中加入低介电常数的玻璃成分,它们的比例大约是50︰50。ibm公司的玻璃/陶瓷组分如表2 [3]。

现许多公司都以卷的形式提供商用ltcc生瓷流延片,并提供与之收缩率和材料相匹配的金属化膏。一些公司材料性能如表3。

一旦各层金属化线条和层间互连小孔金属化都作好了,用合适的模具定位并按顺序叠起来,在一定的温度和压力下进行层压,形成一个整体,然后在800~900℃下进行共烧形成致密的完整的基板或管壳。 由于元器件直接安装在管壳表面(不是安装在分离的陶瓷基板上,然后还需安装在一个标准的管壳内与外引线键合),因此减小了额外的引线键合并提高了可靠性,对于mcm应用是很理想的。

在烧结过程中,流延带在x和 y轴方向有12%~16%在z轴有15%左右的收缩率。假如有对应的金属化和较好的工艺稳定性,收缩率是可以达到一致的,但是对于有的系统,要求制作时需要较小的收缩率误差。烧结气氛一般不需像aln ,al2o3那样严格控制,除非金属化是采用需要保护的cu等材料,因此成本较低,工艺简单。

3 低温共烧陶瓷材料的特点

3.1 可制作精细线条和线间距

在ltcc技术中,厚膜印刷工艺很容易达到 0.15mm,并且0.1mm的线条和间距也已做到并得到应用。假如需要更细

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