研究和使用晶体材料时发现，材料内发生的过程和性能与晶体的某些方向（晶向 crystallographic directions）和原子构成的平面（晶面 crystallographic planes）有关。目前，通常用三个或四个指数来表征晶向和晶面，称为密勒指数（miller indices）。标定密勒指数时以晶胞为基础，x, y, z三轴系统的原点o放在晶胞的一个角上，三个轴与晶胞的三个边相重合（如图2.2-1所示）。对斜方、三斜晶系等，三个坐标轴则互相不垂直。

晶向可用点阵中两阵点间的连线或矢量来定义。
三指数晶向可按例2.2-1中所示步骤来进行标定。