科利登新推高速串行总线集成测试解决方案
发布时间:2008/6/3 0:00:00 访问次数:357
sapphire d-6432dft设备是首款用于高速串行总线的集成测试解决方案，在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号，以及扫描/功能性测试和dc参数测量。d-6432dft的密度比同类产品高出4倍，可为制造商提供突破性的可测性设计(dft)方法，助其降低高速半导体器件的总体成本并缩短上市时间。
sapphire d-6432dft有效地应用了创新的远端环路技术，既具有可测性设计的灵活性，又有功能测试所具备的深层诊断能力。通过将待测器件置于高性价比的智能测试设备通道中，延长了反馈路径，也首次实现了高速总线在生产级的测试。与以往那种投资多台设备测试少量通道的碎片式方法不同，d-6432dft集成了广泛的功能，可在单台设备上测试多达16个通道。其优势包括：
每一通道通过集成电路实现同时的、并行的抖动注入和抖动测量，并不需要附加设备
电压和时间域中的全封闭眼图测试
除了极低成本的差分测试，还集成了用于扫描/功能性测试的400/800mbps数据子系统
增加了解决信号完整性问题的灵敏度覆盖检测
接收器和发送器通道可用来为内核逻辑和协议堆栈提供测试向量
用于全面dc参数测试的器件管脚存取
sapphire d-6432dft设备现已投放市场。
sapphire d-6432dft设备是首款用于高速串行总线的集成测试解决方案，在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号，以及扫描/功能性测试和dc参数测量。d-6432dft的密度比同类产品高出4倍，可为制造商提供突破性的可测性设计(dft)方法，助其降低高速半导体器件的总体成本并缩短上市时间。
sapphire d-6432dft有效地应用了创新的远端环路技术，既具有可测性设计的灵活性，又有功能测试所具备的深层诊断能力。通过将待测器件置于高性价比的智能测试设备通道中，延长了反馈路径，也首次实现了高速总线在生产级的测试。与以往那种投资多台设备测试少量通道的碎片式方法不同，d-6432dft集成了广泛的功能，可在单台设备上测试多达16个通道。其优势包括：
每一通道通过集成电路实现同时的、并行的抖动注入和抖动测量，并不需要附加设备
电压和时间域中的全封闭眼图测试
除了极低成本的差分测试，还集成了用于扫描/功能性测试的400/800mbps数据子系统
增加了解决信号完整性问题的灵敏度覆盖检测
接收器和发送器通道可用来为内核逻辑和协议堆栈提供测试向量
用于全面dc参数测试的器件管脚存取
sapphire d-6432dft设备现已投放市场。
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