应力强度模型主要用来模拟机械设备的损坏，而反应论模型则用来模拟化学反应等导致的失效。 它是指电子元器件的劣化和损坏等失效，是在原子、分子这样的级别上随时间发生的变化引起的。

例如，由于电气、机械、热和化学等多方面的应力所引起物质内部各种变化，如平衡状态的变化、材料组分的变化、晶体结构的变化、结合力的变化、裂纹的发展等，都是造成元器件失效的原因。

而支配这些失效进程的，是氧化、析出、电解、扩散、蒸发、磨损和疲劳等失效机理。这些变化或反应的速度决定于应力的种类和大小。

任意要素失效都会导致产品发生故障,从功能上均可以认为这属于咒个要素的串联系统。

因此，可以利用其功能上等价的模型——串联模型来计算产品的可靠度或失效率。若从产品怎样损坏的观点来看，串联模型恰是链条的可靠度模型。构成链条的各个环只要有一个断了，链条就断了，而这些环中的最弱者（即寿命最短者）决定了链酌寿命。

退化反应到达最终退化状态前要跨越几个能量势垒。也就是说，整个退化反应往往由几个连续过程组成，产品寿命分布（如早期失效期、偶然失效期、耗损失效期）有关，可以从本质上来加以理解。

失效机理的基础上，为制定产品加速寿命试验和筛选试验方案提供依据，并对产品质量做出非破坏性预测和可靠性的短期保证；

根据失效物理所涉及的内容，只有从物理、化学的微观分子结构上来进行观察，才能从根本上掌握工作条件、环境应力及时间对产品性能的劣化或失效所产生的影响，以便为元器件本身的改良、研制提供可靠的依据。

电枢线圈在转子转动时,切割磁力线,产生交流电动势,每个电枢线圈的两端按规定顺序连接在换向器上。

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