可变栅极驱动在瞬态期间或之外只能改变每次开关事件的一次单驱动参数，设计的有源驱动在开关瞬态期间，可激活0.12 Ω~64 Ω间的任意上拉或下拉栅极驱动输出电阻，且达到6.7 GHz的有效电阻更新率，开环有源栅极驱动能保持低开关损耗，减少过冲、振荡和EMI。

一般的分立式驱动电路分立元件多，电路结构较复杂，导致保护也复杂，从而可靠性变差。实际应用中大多采用集成驱动电路。集成式驱动电路主要由驱动芯片和其他元件组成，而在GaN FET的集成驱动中，常用的驱动芯片有LM5113[17-22]、UCC27611[9，21]、UCC21520[23]等。

LM5113是专为驱动同步buck或半桥配置的高端和低端增强型GaN FET而设计的驱动芯片。该芯片采用自举技术生成高端偏置电压，并在内部将其箝位在5.2 V，防止栅极电压超过GaN FET 的最大栅源电压额定值。

制造商: Analog Devices Inc.

产品种类: 数字隔离器

RoHS: 详细信息

安装风格: SMD/SMT

封装 / 箱体: SOIC-8

系列: ADUM3201

通道数量: 2 Channel

极性: Unidirectional

绝缘电压: 2.5 kVrms

隔离类型: Magnetic Coupling

数据速率: 10 Mb/s

传播延迟时间: 45 ns

电源电压-最大: 5.5 V

电源电压-最小: 2.7 V

工作电源电流: 7.7 mA

最小工作温度: - 40 C

最大工作温度: + 85 C

封装: Cut Tape

封装: MouseReel

封装: Reel

产品: Digital Isolators

类型: General Purpose

商标: Analog Devices

最大下降时间: 2.5 ns (Typ)

最大上升时间: 2.5 ns (Typ)

工作电源电压: 5.5 V

产品类型: Digital Isolators

脉冲宽度: 100 ns

工厂包装数量: 1000

子类别: Interface ICs

单位重量: 540 mg

测量单元(SMU)模块，即使在由于长电缆和复杂的测试设置而产生高负载电容时，其仍能执行低电流测量。许多主要测试应用都面临着这一挑战，如LCD显示器制造和卡盘上的纳米FET器件测试。

被测器件本身电容很小的情况下，许多低电流测量应用中所需要的测试设置也会增加SMU输出端的电容。当测试连接电容太大时，最终的低电流测量结果可能会变得不稳定。为解决这些挑战，新模块在提供电压和测量电流时，支持的电缆长度和连接电容都要超过传统SMU。

4201-SMU和4211-SMU是为采用长电缆、开关矩阵、通过栅极接触卡盘及其他夹具的测试装置专门设计的。这就让研究人员和制造测试工程师节省了大量的时间和成本，而这些时间和成本本来可以花费在故障排除和重新配置测试设置上。

(素材：chinaaet和ttic.如涉版权请联系删除）