VI-2NX-EZ芯片测试程序是基于自动测试系统自带软件开发的针对芯片测试规范的一套代码 [3] ，是整个芯片量产测试的重要环节。开发初期需要与相关设计工程师一起确定测试项目及测试结果范围，然后制定测试计划，根据测试计划编写测试代码，校验代码是否正确。当测试程序校准无误后，需要用样片进行逐项调试，直到所有测试项目全部通过。最后测试多个不同批次的芯片，记录一些测试值，根据统计学方法计算出这些项目测试值的平均范围，以此确定测试程序的最终测试结果范围。

此芯片的测试项目如下：

开短路测试

漏电流测试

工作电流的每种状态测试

数字部分相关的DFT测试，包括SCAN,ATPG各种芯片内部寄存器链

射频部分功耗测试

LDO/SMPS模块测试

射频LB/HB 发射功率参数测试

射频LB/HB接收灵敏度等参数测试

射频LB/HB接收ADC code、SNR、THD测试

PLL LB/HB测试

X-TAL 测试

一颗双频Wi-Fi芯片量产测试开发的流程及相关技术问题。实际生产中开发的过程会更加具体，一般一款芯片的开发周期大概是1年左右，从设计、流片，到验证量产，测试工程师都应该全程参与，这样才能提高开发效率。开发成功后还需要一些工程批次的不断验证，来找到测试程序限值与芯片设计要求之间的平衡点，以此来提升芯片量产测试良率。同时也可以通过量产测试发现设计及制造过程中产生的缺陷，不断修改设计及制造参数，最后使芯片的量产良率达到一个较高的水平。

深圳市斌能达电子科技有限公司http://jkic888.51dzw.com/

(素材来源：21IC和ttic和eechina.如涉版权请联系删除。特别感谢）