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衰减最快的电流称为电容电流

发布时间:2019/7/10 21:56:09 访问次数:2944

   外壳的电性能参数包括绝缘电阻、介质耐压、引线电阻、引线电容。H5PS5162FFR-G7C下面详细介绍绝缘电阻、介质耐压、引线电容的测试经验。

   除陶瓷外壳外,大多数外壳的绝缘体是由复合介质构成的,在直流电压作用下,绝缘体会产生多种极化现象。极化开始时电流很大,随着加压时间的增大,电流值下降,这种现象称为吸收现象。在吸收现象中,衰减最快的电流称为电容电流,随时间缓慢变化的电流称为吸收电流,最后不随时间变化的稳定电流是由介质的电导所决定的称为电导电流,也称为漏电流。所以,绝缘电阻施加测量电压后,它的电流特性通常从瞬间最大值以某一变化速率下降到较稳定的较小值,绝缘电阻也从小缓慢增大,最后趋于稳定。在GJB548B-2005方法中通常要求在规定的时间后进行测量,加压时间通常规定为1分钟。在外电场正负极的作用下,绝缘体中的带电粒子会向某一方向移动形成有规律的运动,从而产生电流,电流的大小决定于单位时间内带电粒子到达电极的数目。增加电压,流向电极的带电粒子数将增加,电流增大,因而电流随电压正比增加,服从欧姆定律。当电压加到一定值时,单位时间所能游离的带电粒子都趋向电极使电流饱和。因此,测量电压大小对绝缘电阻的测试有一定的影响,所以GJB548B-200s中规定了6个等级的测试电压。一般随着测试电压加大,绝缘电阻阻值也会降低,测试电压越高,测试的准确度越高,测试值越接近真实值,但也须针对不同的绝缘材料或使用场所采用不同的测试电压。

   当外壳存在缺陷时,在施加试验电压后,必然产生击穿放电或损坏。外壳的介质耐压特性受很多因素的影响,如环境温度、湿度及气压对试验结果有一些影响,很多材料的介电特性和温度有关,一般湿度越高,气压越低就越容易发生击穿现象,所以标准中一般都在温度为15℃~35℃,湿度为⒛%~sO%,气压为86kPa~106kPa下进行测试。试验电压频率、波形、加压速度及持续时间对介质耐压试验也影响较大,在CJJB3ωB-20⒆一般都特别要求有关标准需规定施加电压为直流还是交流,施加持续时间一般为6佻,但是如果材料特殊、施加的电压过大或过小都可以特别规定施加持续时间。如果施加电压过大,可减小时间持续时间。当测量外壳的引线电容时,由于外壳引线一般都较短,不能将其引线直接接到仪器测试端。所以,一般都需要从仪器测试端引出两根测试线测试外壳引线电容。测试时,测试线应尽量短,一般为2.5~5cm,如果引线过长会使测试结果不准确。


   外壳的电性能参数包括绝缘电阻、介质耐压、引线电阻、引线电容。H5PS5162FFR-G7C下面详细介绍绝缘电阻、介质耐压、引线电容的测试经验。

   除陶瓷外壳外,大多数外壳的绝缘体是由复合介质构成的,在直流电压作用下,绝缘体会产生多种极化现象。极化开始时电流很大,随着加压时间的增大,电流值下降,这种现象称为吸收现象。在吸收现象中,衰减最快的电流称为电容电流,随时间缓慢变化的电流称为吸收电流,最后不随时间变化的稳定电流是由介质的电导所决定的称为电导电流,也称为漏电流。所以,绝缘电阻施加测量电压后,它的电流特性通常从瞬间最大值以某一变化速率下降到较稳定的较小值,绝缘电阻也从小缓慢增大,最后趋于稳定。在GJB548B-2005方法中通常要求在规定的时间后进行测量,加压时间通常规定为1分钟。在外电场正负极的作用下,绝缘体中的带电粒子会向某一方向移动形成有规律的运动,从而产生电流,电流的大小决定于单位时间内带电粒子到达电极的数目。增加电压,流向电极的带电粒子数将增加,电流增大,因而电流随电压正比增加,服从欧姆定律。当电压加到一定值时,单位时间所能游离的带电粒子都趋向电极使电流饱和。因此,测量电压大小对绝缘电阻的测试有一定的影响,所以GJB548B-200s中规定了6个等级的测试电压。一般随着测试电压加大,绝缘电阻阻值也会降低,测试电压越高,测试的准确度越高,测试值越接近真实值,但也须针对不同的绝缘材料或使用场所采用不同的测试电压。

   当外壳存在缺陷时,在施加试验电压后,必然产生击穿放电或损坏。外壳的介质耐压特性受很多因素的影响,如环境温度、湿度及气压对试验结果有一些影响,很多材料的介电特性和温度有关,一般湿度越高,气压越低就越容易发生击穿现象,所以标准中一般都在温度为15℃~35℃,湿度为⒛%~sO%,气压为86kPa~106kPa下进行测试。试验电压频率、波形、加压速度及持续时间对介质耐压试验也影响较大,在CJJB3ωB-20⒆一般都特别要求有关标准需规定施加电压为直流还是交流,施加持续时间一般为6佻,但是如果材料特殊、施加的电压过大或过小都可以特别规定施加持续时间。如果施加电压过大,可减小时间持续时间。当测量外壳的引线电容时,由于外壳引线一般都较短,不能将其引线直接接到仪器测试端。所以,一般都需要从仪器测试端引出两根测试线测试外壳引线电容。测试时,测试线应尽量短,一般为2.5~5cm,如果引线过长会使测试结果不准确。


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