该系列标准给出了如下产品的标准:

   半导体发射器件:包括发光二极管、红外发光二极管、激光二极管和激光二极管组件;半导体光电探测器:包括光电二极管和光电晶体管;半导体光敏元器件:包括光敏电阻和光导元件;GS8160Z18BGT-150

   内部工作机理与光学辐射有关的半导体器件:包括光耦合器。

   GB/T15651―1995给出了半导体光电子器件的基本概念和一般术语,GB/T15651.2―⒛03给出了各类光电子器件的基本额定值和特性,GB/T15651,3-20O~s给出了半导体发射器件、光电探测器和光电耦合器这三类典型光电子器件特性或额定值的测试方法。在使用该标

准进行测试时,应注意以下事项:

   (1)测试条件和环境要求应符合产品详细规范的规定;

   (2)测试用仪器的量程应满足测试要求,且具有规定的精度,并经计量鉴定合格;

   (3)测试时按测试框图连接测试仪器,并按操作要求进行预热;

   (4)测试时应带手套操作,保证光学元件表面清洁;

   (5)测试期间,要排除外界环境的机械振动及电磁干扰对测试结果的影响。综上所述,该标准比较全面地介绍了光电子器件参数的测试方法。