对光电器件标硅的理解

   GB/T15651《半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件》系列标准含3部分:《总则》、《基本额定值和特性》以及《测试方法》。标准文本由3份标准组成:GB/T15651―1995《半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件》; GS8160E36BGT-200

    GB″15651.2―⒛O3《半导体分立器件和集成电路第52部分:光电子器件基本额定值和特性》;

   GB/T15651.3―⒛O3《半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件坝刂试方法》。

   GB/T15651―1995 《半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件》于1995年颁布。GB/T15651―1995等同采用IEC TZI7-5-19” 《半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件》,替代sJ/Z9014.2《半导体器件 分立器件和集成电路第5部分:光电子器件》。GB/T15651―1995共分为4章,其中第ⅡI章被GB/T15651.2―⒛03《半导体分立器件和集成电路第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性》替代,第Ⅳ章被GB/T15651.3―⒛03《半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法》替代。两份标准分别等同采用ⅡC60僻⒎5-2:1997《半导体分立器件和集成电路第52部分:光电子器件基本额定值和特性》(英文版)和IEC60砰⒎5-3:1997《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法》(英文版)。