器件EMC特性和软件对系统EMC性能的影响不可小视

   【现象描述】HCF40106BEY

   某E茹通信接口产品,对机框铝型材横梁和El通信接口板的面板上的SMB连接器外壳进行接触放电6kV的ESD放电测试时,El通信链路立即中断且不能自动恢复,软件复位EI芯片和手动复位整个产品均不起作用,需拔插该通信接口板,并使软件重新加载后链路才能恢

复。同时,该产品的电源端口进行E「r/B测试时,当测试电压为±1kⅤ时,测试中出现的现象与静电测试时相同。ESD测试和EFT/B测试时的设备连接图如图7.1所示。产品的El通信接口的输人/输出分别与E1误码表的输人/输出口相连,以模拟该产品的正常通信工作

情况。

   【原因分析】

   该产品中通信接口板中的EI接口芯片是Dm154,为了研究问题的根源,继续做了如下两种配置的试验,并测量了其中的El传输信号:

   (1)修改程序及一些简单的硬件连接,使E1信号经过接口芯片DS2154后不再经过其他器件,直接环回,信号流向如图7.2所示。重新进行测试;并同时测量EI接口芯片Dm154控制电路侧的信号,如图7.2中的A点。

   测试中测量A点的E1信号波形。正常的情况下,El误码表上接收的数据正常(9B,000000…,DF,000000・・、9B,000000・・・),在A测试点的波形如图7.3所示(由于测试时 需要接很长的线出来测,所以信号质量不是很好)。当对横梁静电放电6kⅤ时,E1误码表上接收的数据(9B,OO00000・¨O001,DF,OO0…OO01)出现异常,即在帧的最后一个比特变为1,在A测试点的波形如图7.4所示。此时,重新初始化Dm154的所有寄存器,也不能恢复,就连复位整个产品都不能重新恢复。

   图73 正常波形(各通道分别是帧头、2M、数据、时钟配线的帧头)

   (2)再做一些简单的硬件连接,使E1信号从SMB接口连接器进人产品后,再进入接口芯片DS2154之前将输'△/输出信号短接,即在接口芯片DS2154之间就实现环回,原理如图7.5所示。再进行ESD测试,放电时E1误码表上接收的数据是正常的。以上试验表明,问题出在Dm154芯片上。