电容器的失效机理是多种多样的，它与材料、结构、制造工艺、性能、使用环境、工作应力条件等有着极其密切的关系，下面就电容器的主要失效机理，结合产品类型分别做一些分析。HZICSN74LV214X0G

   (1)潮湿引起电容器电参数漂移失效

   对于非密封的固体介质电容器，潮温是引起电参数漂移失效的主要原因。这是因为水分子具有很强的渗透和扩散能力，而水的介质系数很大（介电常数为80），损耗很大，从而导致电容器的电气性能急剧恶化，如绝缘电阻及耐压强度下降，介质损耗角正切值和电容

量增加。特别是当环境温度升高时，水分子的渗透和扩散能力增强，因此，高温高湿环境对电容器的电气性能影响更为显著，从而导致产品失效率增加，可靠性降低。但是，潮湿对电容器的电性能影响一般是可逆的，即潮气去除后电性能可以恢复，只有在高湿和电压作用下发生电解作用后才不可逆。

   潮气对电容器的影响主要有两种方式：一种是以水膜状态附着在产品表面上，另一种是渗透到介质材料内部或表面上。当电容器表面涂覆的漆层不是疏水性材料或介质材料存在缝隙、微孔等缺陷时，其影响更加显著。

   (2)陶瓷电容器、独石电容器和云母电容器的银离子迁移    ‘。

   以金属银为电极的陶瓷电容器、独石电容器和云母电容器在高湿度环境下，当加电负荷时，由于表面凝聚有水膜，水分能通过微孔和隙缝进入电容器发生电解而产生(OH)_1，在电场和氢氧根离子的作用下离解生成银离子(Ag+1)，银离子和氢氧根离子结合生成氢氧化银，氢氧化氧又分解成氧化银和水。这种反应促便银离子从阳极向阴极，并在阴极边界上形成金属银。由于银离子迁移，形成树枝状“导电枝”，构成一低阻通道，并依靠水膜形成导电通路，导致漏电增大，并最终使极板间短路。当电容器的内电极不采用银而采用钯(Pd)时，如果水不纯，含有氯离子(Cl-l)，钯也会沿此特殊通道迁移.