当产品性能和可靠性优良的元器件经定级试验合格后，可继续进行升级试验，升级NC7S08L6X试验的数据可以将定级试验和维持试验的样品进行延长试验，以及为升级试验新投入的样品进行试验所获得数据累积而得到。其试验程序如下：

   1)确定待升级的失效率等级（一般比原定的等级高一级）、置信度、允许失效数C，置信度和允许失效数选定后，试验过程中不得更换；

   2)根据失效率等级、置信度和失效数，由表3. 20和表3.21查出所需的总试验元件小时数T。；

   3)根据总试验元件小时数确定延长试验的时间和为升级试验需投入的样品数和试验时间；

   4)按规定条件（额定或加速）进行试验，直到累计的元件小时数达到T。为止；

   5)将试验中出现的元器件总失效数r与允许失效数C比较，若≤C，则升级试验合格，转入维持试验；若r>C，则升级试验不合格，应重新进行定级试验，确定其失效率等级。

   上述试验中，允许失效数C如何选择？从表3. 20和表3.21可知，要达到同一鉴定目的，可以选择不同的C。例如，在表3. 20中，定级试验中鉴定5级失效率的产品，若选C为O，对应的L为0. 0916×106元件小时，若选C为1时，L为0. 0202×106无件小时，等等。可以看出，若C越大，则总元件小时数L越大，因而需要增加试验时间和试验样品数，使试验费用增加。但从另一方面说，对于选取不同C和L的方案，产品通过鉴定的概率是不同的，如对应于a为5%，即以95%的概率通过5级定级的产品实际失效率如表3.23所示。