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屏幕显示波形的更新频次设定

发布时间:2016/3/10 22:33:15 访问次数:541

   在监测模式下运行的Probe,其窗口中显示的波形随着模拟分析的进行而不断得到更新。更新IRF3710S频次取决于图5-4所示Probe Settings对话框内Auto-Update Intervals子框中的选项设置。

   ①Auto:这是系统默认设置。由Probe根据模拟中产生的数据情况,确定更新的频次。

   ②Every[】sec:其中应在【】内设置具体数值,确定每隔多少秒更新一次屏幕波形显示。

   ③Every[】%:其中应在【]内设置具体数值,确定每完咸模拟分析任务的多少百分比,更新一次屏幕显示。

   说明

   ①大多数Probe分析功能都可在监测模式下使用。但如果分析中涉及到变更X轴变量类型,将使Probe暂时离开监测模式,处于常规工作状态,直到X轴变量恢复原先监测模式下的变量类型时,

Probe也随之恢复为监测模式。涉及到变更X轴变量类型的分析功能包括:电路特性值函数计算、电路性能分析、傅里叶变换和X轴变量设置等。

   ②一旦模拟分析结束后,Probe将离开监测运行模式,恢复常规工作状态。

   在监测模式下运行的Probe,其窗口中显示的波形随着模拟分析的进行而不断得到更新。更新IRF3710S频次取决于图5-4所示Probe Settings对话框内Auto-Update Intervals子框中的选项设置。

   ①Auto:这是系统默认设置。由Probe根据模拟中产生的数据情况,确定更新的频次。

   ②Every[】sec:其中应在【】内设置具体数值,确定每隔多少秒更新一次屏幕波形显示。

   ③Every[】%:其中应在【]内设置具体数值,确定每完咸模拟分析任务的多少百分比,更新一次屏幕显示。

   说明

   ①大多数Probe分析功能都可在监测模式下使用。但如果分析中涉及到变更X轴变量类型,将使Probe暂时离开监测模式,处于常规工作状态,直到X轴变量恢复原先监测模式下的变量类型时,

Probe也随之恢复为监测模式。涉及到变更X轴变量类型的分析功能包括:电路特性值函数计算、电路性能分析、傅里叶变换和X轴变量设置等。

   ②一旦模拟分析结束后,Probe将离开监测运行模式,恢复常规工作状态。

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