逻辑门电路测试

   1．验证TTL与非门和CMOS或门的逻辑功能。

   2．掌握TTL与非门和CMOS或门的参数意义及测试方法。

   3．熟悉数字电路实验箱的使用方法。

   一、实验原理

   逻辑门电路是指能完成一些基本逻辑功能的电子电路，是构成数字电路的基本单元电路。N341256SJ-12-TE12逻辑门电路的测试主要包括功能测试和参数测试。

   1．TTL与非门

   图2.1.1为TTL中速与非门74LS20的引脚图，内部共集成了2个与非门。

   表2.1.1为74LS20与非门的逻辑功能表，其逻辑功能为“有O出1，全1出0”。74LS20中的每个与非门的逻辑表达式是Y-面反面。

   (1)空载导通电源电流/CCL：是指所有输入端悬空，与非门工作在导通状态，输出端空载时电源供给的电流。

   /CCL的大小标志着门电路空载导通功耗PON的大小，

   (2)空载截止电源电流/CCH：是指输入端接低电平，状态，输出端空载时电源供给的电流。