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   实际安排测试时间时，由于对卢。和分布函数并不确知，这时可将P。估计得略小一些，这样可将测试点向前移动，然后根据实际试验情况再做适当调整。这样考虑是允许的，因为对于寿命符合指数分布的产品，每次试验统计出的分布与理论上的分布总会有些差异，测试时间稍有不同也是可以的，但总的测试时间的选择原则如前所述，希望在各测试周期内能比较均衡地测到失效产品数，防止某个测试周期内失效过于集中或不必要地增加测试次数。

    所选择的测量参数要能够显示失效机理的发展进程，也就是说，选择那些对失效机理 的发展能起到指示作用的灵敏参数。测量的参数可能不止一个，而是多个，因此在测量时 必须避免各参数的测量方法相互影响，认真确定其先后顺序。选择参数的测方法时，还 必须尽量避免在测量中出现对其样品失效机理的发展起促进、减缓或破坏作用，更不能引 入新的失效机理。

   试验截止时间是寿命试验中的主要难点，它与样品数量及所达到的失效数有关。由于一般电子元器件寿命都非常长，加之试验数据采用统计分析法，故采用截尾试验。对于低应力下的寿命试验，常采用定时截尾试验，即试验达到规定时间停止试验，一般要求截止时间￡为平均寿命的1.6倍以上，如采用1000小时、5000小时或10000小时等；对于高应力下的寿命试验，常采用定数截尾试验，即当累计失效数或累积失效概率达到规定值，一般应在30%、40%或50%以上时停止试验。试验停止时间一经确定，在试验过程中不得变动，以保证统计处理的正确性。

     如前所述，失效标准的制定就是明确判断产品失效的技术指标，其可以是产品完全失效，如击穿、开路、短路、烧毁等，也可以是部分失效，即产品的性能超过某种确定的界限，但没有完全丧失规定功能的失效。一个产品往往有好几项技术指标或性能参数，在寿命试验中规定：只要产品有一项指标或参数超出了标准就判为失效。例如，陶瓷电容器的主要技术指标有电容量的相对变化率等、绝缘电阻R、损耗角正切tan8、耐压等，只要这些指标中有一项超出了规定，就应判为失效。如没有特殊规定，通常都是以产品技术规范中所规定的技术标准作为失效标准的判据。

对于指数分布，肖采用定数截尾试验时，试验时间f与试验样品数卵和所要求达到的 失效概率F(t)一寺，可由下式确定 只要估计出产品在该试验条件下的平均寿命m，即可估计出试验所需时间。