不仅如此,再仔细分析一下图276所示的情况,金属屏蔽外壳的增加,还使开关电源内部电路噪声的耦合关系发生了什么变化。以开关电源PCB中开关信号所在点(高dI//dr)与开关电源输入电源线之间的耦合关系为例,在无金属屏蔽外壳时,其间耦合关系原理如图2。刀所示, EDD10161BBH-6ETS-F在这种情况下,只要PCB布局布线合理,图2.刀中开关电源PCB中开关信号所在点与开关电源输人电源线之间的寄生电容C出,Cψ均比较小(一般在零点几皮法);而当存在金属外壳时,由于金属板的存在,使开关电源PCB中开关信号所在点(高dIr/dr)与开关电源输入电源线之间的寄生电容等于图2.78中开关电源PCB中开关信号所在点(高dydf)与金属外壳之间的寄生电容C′⒌与开关电源输入电源线之间的与金属外壳之间的寄生电容C′叼的串联。由于开关电源PCB中开关信号所在点(高d〃/d莎)与开关电源输人电源线到金属板的距离(几厘米)要比到参考接地板的距离(1m左右)近很多,使得C′⒏C′s2要远远大于CsI、Cs2。即开关电源PCB中开关信号所在点(高d〃d苫)与开关电源输人电源线之间的耦合大大加重,流入电源输入线的共模电流大大增加,辐射也大大增加。这就是本案例中出现金属屏蔽外壳反而导致辐射发射测试失败的原因。当金属外壳与PCB中的0Ⅴ相连后,虽然图2.78所示的寄生电容C′M、C′s2依然存在,但是C′⒌、C′汾互连点上的电位为零,导致来自于C′"共模电流不会继续往C′s2流动,从而减小了流向开关电源输人电缆 的共模电流,降低辐射发射。