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双大马士革铜工艺

发布时间:2015/11/9 19:40:02 访问次数:3542

   在20世纪90年代,IBM公司引入铜基的大马士革工艺而取代铝的金属化12、AD8001ARTZ-REEL7铜金属化引入关注点之一是铜可以用来作为金属塞材料,产生将金属间电阻降到最小的单一金属系统。

   随着集成电路达到几百兆赫兹的速度,铝金属化遇到r性能的阻碍。信号必须以足够快的速度通过金属系统,才能防止程序延误。同样,更大的芯片需要更长、更细的金属导线,这就使金属连线系统的电阻变得更大。随着接触孔数量增加,铝和硅表面之间的小接触电阻加起来变得非常重大。虽然铝提供了可以工作电阻,它也很难淀积在具有(10:1)深宽比的通孑L中。直到今天,人们已经使用了阻挡层金属方案、堆叠金属和难熔金属来降低铝金属系统的电阻。由于0. 25斗Q.cm(或更小)的器件的需要,人们不得不尝试着减少附加电阻,这使人们的兴趣重新转向了铜这种导体。与铝3.1斗Q.cm的电阻率相比,铜的电阻率仅为1.7肛Q.cm.导电性比铝优良。同时,铜本身就具有抗电迁移的能力,而且能够在低温F进行淀积。铜也能够作为塞材料使用。铜能够通过CVD、溅射、化学镀、电镀等方法进行淀积。除了缺乏学习曲线,其缺点包括刻蚀问题、铜还易刮伤、腐蚀,还需要隔离金属来防止铜进入硅片之中。尽管如此,IBM还有紧随其后的Motorola,都在1998年就宣布了基于铜技术的器件制造的可行性‘3,现在所有的电路都采用铜金属化和低k介质技术开发..要益处是提高性能和减少要求的金属层数。

       


   在20世纪90年代,IBM公司引入铜基的大马士革工艺而取代铝的金属化12、AD8001ARTZ-REEL7铜金属化引入关注点之一是铜可以用来作为金属塞材料,产生将金属间电阻降到最小的单一金属系统。

   随着集成电路达到几百兆赫兹的速度,铝金属化遇到r性能的阻碍。信号必须以足够快的速度通过金属系统,才能防止程序延误。同样,更大的芯片需要更长、更细的金属导线,这就使金属连线系统的电阻变得更大。随着接触孔数量增加,铝和硅表面之间的小接触电阻加起来变得非常重大。虽然铝提供了可以工作电阻,它也很难淀积在具有(10:1)深宽比的通孑L中。直到今天,人们已经使用了阻挡层金属方案、堆叠金属和难熔金属来降低铝金属系统的电阻。由于0. 25斗Q.cm(或更小)的器件的需要,人们不得不尝试着减少附加电阻,这使人们的兴趣重新转向了铜这种导体。与铝3.1斗Q.cm的电阻率相比,铜的电阻率仅为1.7肛Q.cm.导电性比铝优良。同时,铜本身就具有抗电迁移的能力,而且能够在低温F进行淀积。铜也能够作为塞材料使用。铜能够通过CVD、溅射、化学镀、电镀等方法进行淀积。除了缺乏学习曲线,其缺点包括刻蚀问题、铜还易刮伤、腐蚀,还需要隔离金属来防止铜进入硅片之中。尽管如此,IBM还有紧随其后的Motorola,都在1998年就宣布了基于铜技术的器件制造的可行性‘3,现在所有的电路都采用铜金属化和低k介质技术开发..要益处是提高性能和减少要求的金属层数。

       


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