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KAD5514P
校准序列上的上升沿启动
RESETN ，如图24.超范围输出
（OR ）为高，一旦RESETN被拉低，并且保持在
这种状态直到校准完成。在OR输出返回
当时正常操作，所以重要的是，该
模拟输入是转换器的满量程范围内
观察的过渡。如果输入是在一个超范围
调理或PIN将保持高位，这将是不可能的
来检测校准周期结束。
尽管RESETN为低电平时，输出时钟
（ CLKOUTP / CLKOUTN ）设置为低。正常运行
输出时钟恢复，在接下来的输入时钟边沿
RESETN后（ CLKP / CLKN ）失效。在250MSPS
标称校准时间为200ms ，而最大
校准时间是550ms 。
CLKN
CLKP
校准
时间
RESETN
SNR CHANGE （ dBFS的）
小于100mV的意志一般是电源电压变化
结果，在更小的SNR变化比0.5dBFS和SFDR
改变小于3dBc 。在该情况下，样品在哪里
速率不是恒定的，最好的结果将在设备获得
校准在最高采样率。减少
由小于80MSPS通常会导致一个采样速率
小于0.5dBFS信噪比的变化和的SFDR变化
比3dBc少。
图25和图26示出了温度对信噪比的影响
并进行SFDR性能与校准的 -
40℃， + 25 ℃， + 85 ℃。每个图显示的变化
SNR / SFDR整个温度范围在单一校准后
-40°C ， + 25 ° C和+ 85°C 。最佳的性能通常是
由用户启动校准的操作来实现
的条件下，如前面所述。但是，可以看出
随温度漂移性能不是很强
在该校准是温度的函数
进行。满级的表现后，将可实现
电校准无关的操作条件。
3
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-40
-15
CAL DONE AT
-40°C
10
35
CAL DONE AT
+25°C
CAL DONE AT
+85°C
校准
BEGINS
ORP
校准
完整
CLKOUTP
图24.时序校准
60
85
用户启动的复位
ADC的校准可以在任何时候通过启动
驾驶RESETN引脚拉低了至少一个时钟
周期。开漏驱动器，具有更小的驱动强度比
0.5毫安建议， RESETN有一个内部高
阻抗拉至OVDD 。由于是开机时的情况
复位后， SDO ， RESETN和DNC引脚必须在
正常状态的校验成功执行。
与变化的KAD5514P的性能变化
在温度，供应电压或取样速率。的程度
这些变化可能需要重新校准，根据
系统的性能要求。最佳的性能会
通过在环境重新校准ADC实现
条件在其中工作。
温度（℃）
图25. SNR性能与温度
15
SFDR CHANGE （ DBC）
10
5
0
-5
-10
-15
-40
CAL DONE AT
+85°C
-15
10
35
温度（℃）
CAL DONE AT
+25°C
60
85
CAL DONE AT
-40°C
图26. SFDR性能与温度
18
FN6804.2
2009年9月10日
