集成
电路
系统公司
ICS85214
L
OW
S
KEW
, 1-
TO
-5
D
。微分
-
TO
-HSTL F
ANOUT
B
UFFER
测试条件
最低
1
0
38 ％ ×（ V
OH
- V
OL
) + V
OL
0.6
典型
最大
1.4
0.4
60 ％× （V
OH
- V
OL
) + V
OL
1.1
单位
V
V
V
V
T
ABLE
4D 。 HSTL DC
极特
,
V
DD
= 3.3V±5%, V
DDO
= 1.8V ± 0.2V ，T
A
= 0°C
TO
85°C
符号参数
输出高电压;
V
OH
注1
输出低电压;
V
OL
注1
V
OX
V
摇摆
输出电压交叉
峰 - 峰值
输出电压摆幅
注1 ：输出端接50
到地面。
T
ABLE
5. AC - C
极特
,
V
DD
= 3.3V±5%, V
DDO
= 1.8V ± 0.2V ，T
A
= 0°C
TO
85°C
符号
f
最大
t
PD
参数
输出频率
CLK0 ， nCLK0
CLK1
测试条件
最低
典型
最大
700
300
单位
兆赫
兆赫
ns
ps
ps
ps
ps
%
%
传播延迟;注1
输出偏斜;注2： 4
帕吨至帕吨倾斜;注3，注4
输出上升时间
输出下降时间
输出占空比
CLK0 ， nCLK0
≤ 700MHz的
1.0
1.8
30
250
t
SK （ O）
t
SK （PP）的
t
R
t
F
O DC
20 ％至80％
20 ％至80％
200
200
46
700
700
54
CLK1
45
55
在f测量所有参数
最大
除非另有说明。
的周期对周期抖动的输入将等于抖动的输出。票面T不加抖动。
注1 ：无论从差分输入交叉点或V实测
DD
/ 2的差分输出交叉点。
注2 ：定义为输出之间的偏移，在相同的电源电压，并以相等的负载条件。
测量输出差分交叉点。
注3 ：定义为扭曲在不同的设备输出，在相同的电源电压下工作的
并且以相同的负载条件。使用同一类型的每个设备上的输入，输出被测量
在差分交叉点。
注4 ：该参数定义符合JEDEC标准65 。
85214AG
www.icst.com/products/hiperclocks.html
5
REV 。一2003年7月17日
