微型模块
可靠性
产品资质和持续的可靠性
监测是通过ST执行。主要步骤
列于表8和表9 。
表8.包装相关测试
TEST
1
2
3
4
5
描述
几何
视觉检测
温度循环
盐雾
接触腐蚀
耐湿性
振动电机
测量
法
ST规格
康迪特离子
监控/批号
5
AQL = 0.040
5
15
7
lptd
准则
（注1 ）
0/45
0/315
0/45
0/15
0/32
ST规格呼出/批号
MIL-STD-883
方法1010
MIL-STD-883
方法1009
MIL-STD-883
方法1004
ISO / IEC 10373
-40
°C
150
°C,
100次
35
°C,
5 ％的NaCl ，24小时
85
°C,
85 ％的HR偏5.5 V ，
168小时
6
1倍频程/分，加速度达
10 G（重复20次）
20
在25测量内存检查
°C
长边：偏转2厘米
空方：偏转1厘米
每分钟30次弯曲
最大位移15 °
±1°
1000扭转，每分钟30扭转
适用于长边只
20
0/11
7
弯曲性能
ISO / IEC 7816-1
0/11
8
扭力特性
ISO / IEC 7816-1
20
0/11
注： 1，符号
M / N
意思是：如果超过拒收整批
m
设备从样品失败
n
设备。例如， 0/45指
从大量的拍摄，与整幅45设备样品只接受每一位45样品的设备通过了测试。
表9.产品相关测试
TEST
1
2
描述
寿命试验
静电放电
静电放电
3
4
数据保留，
储存温度
写/擦除周期
法
MIL-STD-883
方法1005
MIL-STD-883
方法3015
MIL-STD-883
方法3015
MIL-STD-883
方法1005
ST规格
康迪特离子
140
°C,
6 V ， 504小时测量
25内存检查
°C
人体模型：
1.5 kΩ的， 100 pF的，
±
5000 V
3
不适用
lptd
准则
0/76
0/9
0/9
0/45
0/32
机器型号： 0
,
200 pF的，
±
200 V N / A
在25测量内存检查
°C
150
°C,
1000小时无偏见
5
在25测量内存检查
°C
100,000次
200 PPM /
1024字节/
1000周期
15
15
15
5
6
7
磁场，存储器
查
X射线，内存检查
UV灯，内存检查
ISO IEC 10373
ISO IEC 10373
ISO IEC 10373
79,500 /米
70千伏， 0.1灰色
15 W.S /厘米
2
，最大30分钟
1/25
1/25
1/25
5/13
