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BD33C0AWFP , BD50C0AWFP
注意事项
对于使用
1.
技术说明
绝对最大额定值
超过绝对最大额定值(例如,输入电压或者工作温度范围),使用IC的可
导致损坏IC 。假设不应该作出关于IC的状态(例如,短模式或开放
模式)时,这种损坏将受到影响。如果业务价值预计将超过该设备的最大额定值,
考虑添加保护电路(如保险丝),以消除损坏IC的风险。
在这些规范中描述的电特性可能会发生变化,这取决于温度,电源电压,外部
电路和其他条件。因此,一定要检查所有相关因素,包括瞬态特性。
GND电位
GND端子的电位必须在所有工作条件下在系统中的最小电势。
确保没有管脚是在低于GND之间的电压在任何时间,不管瞬态特性。
接地布线图形
当同时使用小信号和大电流接地痕迹,两个接地线应分开走线,但
连接到应用程序内的单个接地电位,以避免变形,在小信号接地
引起的大电流。也确保了外部元件的GND痕迹不会引起变异的GND
电压。电源线和接地线必须尽可能短而粗越好,以减少线路阻抗。
国米脚短裤和安装错误
定向和定位的IC,适用于安装在印刷电路板时要小心。安装不当,可能会导致
中损坏IC 。之间的输出引脚或输出引脚和电源或GND引脚之间的短路(由
焊接不良或异物) ,可能会导致损坏IC 。
运行在强电磁场
在强电磁场使用本产品可能会造成IC误动作。应注意在行使
应用强电磁场可能存在。
应用电路板测试
当一个应用程序板测试集成电路,电容器直接连接到低阻抗针可能使集成电路
向应力。完全每个过程或步骤后,请务必放电电容。该IC的电源应该始终
连接或从在评价过程中的夹具或固定装置中取出之前完全关闭。为了防止
静电放电损坏,接地IC装配在运输和存储过程中使用类似的预防措施。
考虑热
使用热设计,允许足够的余量在光的钯在实际操作条件。
认为电脑不超过实际工作条件下钯。 ( ≧钯PC)
TJMAX :最高结温= 150 ℃以下,Ta:周边温度[ ℃ ]
θJA
:包的氛围[ ℃ / W]的热阻, PD:封装功耗[W] ,
邮编:功耗[W] , VCC:输入电压VO :输出电压, IO:负载,IB :偏置电流
封装功耗
功耗
:钯(W) = (TJMAX - 钽) / θJA
:PC (W ) = (VCC - VO) × IO +的Vcc ×磅
2.
3.
4.
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9.
VCC引脚
插入电容(VO ≧ 5V :电容≧ 1μF ,武\u003c 5V :电容≧ 2.2μF )之间的Vcc和GND引脚。
适当的电容值由应用程序而异。一定要允许有足够余量的输入电平。
电容
IC
陶瓷电容,低ESR电容
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9/12
2011.07 - Rev.A的

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