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模拟数字转换器230
产品特点230
操作232
启动转换232
预分频和转换时序233
改变通道或基准选择235
ADC噪声抑制器236
ADC转换结果241
JTAG接口和片上调试系统246
产品特点246
概述246
测试访问端口 - TAP 246
TAP控制器248
采用边界扫描链249
使用片上调试系统249
片上调试专用的JTAG指令250
片/ O存储器251调试相关的寄存器我
使用JTAG编程能力251
参考书目251
IEEE 1149.1 ( JTAG )边界扫描252
产品特点252
系统概述252
数据寄存器252
边界扫描的JTAG指254
边界扫描寄存器相关的I / O内存255
边界扫描链255
ATmega128的边界扫描顺序266
边界扫描描述语言文件272
支持引导装入程序 - 同时读 - 写自编程273
Boot Loader的特点273
应用程序和Boot Loader的Flash区273
同时读 - 写和非同时读 - 写Flash区273
Boot Loader锁定位275
进入Boot Loader程序276
中寻址Flash在自编程278
自编程闪存279
存储器编程286
程序和数据存储器锁定位286
熔丝位287
签名字节289
标定字节289
并行编程参数,引脚映射及命令290
并行编程292
iv
ATmega128
2467S–AVR–07/09

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