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SN65LVDS301
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SLLS681 - 2006年2月
表6.典型IC功耗测试模式，
2声道模式
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测试模式：
- [R [7：4 ] ，R [3： 0]， G [ 7：4] ，G [3：0 ]，B [ 7-4 ]，B [ 3：0 ]，0 ，VS， HS ，DE
0x0000001
0x03F03F1
0xBFFBFF1
0x1D71D71
0x4C74C71
0xC45C451
0xA3aA3A5
0x5555553
表7. 3通道模式
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测试模式：
- [R [7：4 ] ，R [3： 0]， G [ 7：4] ，G [3：0 ]，B [ 7-4 ]，B [ 3：0 ]，0 ，VS， HS ，DE
0xFFFFFF1
0x0000001
0xCCCCCC1
0xAAAAAA7
0xF0F0F01
最大功耗测试模式
的最大（或最坏情况）的SN65LVDS301的功耗是使用两个不同的试验中测试
在表中所示的图案。测试模式包括16个30位的发送在1信道模式的话， 8 30位
传输2声道模式字和五个30位传输3通道模式的话。该模式重演
在整个测量。据推测，在RGB输入每一个可能的发送码具有相同的
发生典型设备操作期间的概率。
表8.最差情况下的功耗测试模式
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测试模式：
- [R [7：4 ] ，R [3： 0]， G [ 7：4] ，G [3：0 ]，B [ 7-4 ]，B [ 3：0 ]，0 ，VS， HS ，DE
0xAAAAAA5
0x5555555
表9.最差情况下的功耗测试模式
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测试模式：
- [R [7：4 ] ，R [3： 0]， G [ 7：4] ，G [3：0 ]，B [ 7-4 ]，B [ 3：0 ]，0 ，VS， HS ，DE
0x0000000
0xFFFFFF7
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