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SN65LVDS301
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SLLS681 - 2006年2月
参数测量信息（续）
功耗测试
表4
示出了示例的测试图案字。
表4.示例测试图案字
字
1
7
0
1
1
1
1
1
C
0
0
0
0
- [R [7：4 ] ，R [3： 0]， G [ 7：4] ，G [3：0 ]，B [ 7-4 ]，B [ 3：0 ]，0 ，VS， HS ，DE
0x7C3E1E7
3
1
1
1
1
E
B6
0
1
0
0
1
B5
0
B4
1
B3
1
B2
1
E
B1
1
B0
0
0
0
1
7
HS VS DE
1
1
R7 R6 R5 R4 R3 R2 R1 R0 G7 G6 G5 G4 G3 G2 G1 G0 B7
典型的IC功耗测试模式
典型功耗测试模式包括16个30位发送1通道模式的话，八
30位传输的双通道模式的话，并在3通道模式5 30位传输的话。这一方式反复进行
本身在整个测量。据推测，在RGB输入每一个可能的发送码具有
发生典型设备操作期间相同的概率。
表5.典型的IC功耗测试模式，
1通道模式
字
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
测试模式：
- [R [7：4 ] ，R [3： 0]， G [ 7：4] ，G [3：0 ]，B [ 7-4 ]，B [ 3：0 ]，0 ，VS， HS ，DE
0x0000007
0xFFF0007
0x01FFF47
0xF0E07F7
0x7C3E1E7
0xE707C37
0xE1CE6C7
0xF1B9237
0x91BB347
0xD4CCC67
0xAD53377
0xACB2207
0xAAB2697
0x5556957
0xAAAAAB3
0xAAAAAA5
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