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功能说明
1 1所述的采样数据比较
在ADC0852和ADC0854利用一个采样数据的COM
parator结构比较之间的模拟差
选定''
a
''和' '
b
''输入到8位可编程
门槛
这个比较器由一个CMOS反相器的一个电容
tively耦合输入(图
4
),模拟开关连接
两个比较器的输入电容和也CON组
NECT变频器的输入和输出该设备的作用
现在有一个差分输入对的比较需要
两个周期一个用于调零比较器,而另一个用于
作比较
在第一周期(图
4a
) 1的输入开关和invert-
呃的反馈开关闭合在此区间输入
电容器(C )充电到所连接的输入(V1)以下的
逆变器的偏置电压(V
B
约1 2伏)在第二
周期(图
4b
)这两个开关都打开,而
现在其他( V2 )输入的开关闭合,输入电容
减去所述第二输入端和它的存储的电压
差是由逆变器的开环增益放大的
C
变频器的输入(V
B
')变为V
B
b
(V1
b
V2)
C
a
C
S
输出将变为高电平或低电平,取决于V的标志
B
’-
V
B
图4采样数据比较




TL 5521 - 8
V
0
e
V
B
V基于C
e
V
1
–V
B
C
S
e
流浪输入节点帽
V
B
e
变频器的输入偏置电压
图4a归零阶段

V
B
b
V
B
e
(V
2
b
V
1
)

V
0
e
TL 5521 - 9
C
C
a
C
S
CV
2
b
CV
1
C
a
C
S

V
0
是依赖于V
2
b
V
1
图4b相比较
b
A
V
0
e
b
A
C
1
a
C
2
a
C
S
e
b
A
C
1
(V
2
b
V
1
)
a
C
2
(V
4
b
V
3
)
D
Q
1
a
D
Q
2
C
1
a
C
2
a
C
S
比较器读取V
TH
从内部DAC差异
TL 5521 - 14
图4c多个差分输入
9

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