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LTC2265-14/
LTC2264-14/LTC2263-14
应用信息
数字输出是
随机
通过施加的排除
LSB的和所有其他之间西伯或逻辑运算
数据输出位。到解码，反向操作
申请的异或操作之间施加
LSB的其他所有位。帧中继和DCO输出
不受影响。输出随机函数发生器是由连续启用
编程模式控制寄存器A1 。
数字输出测试图形
以允许在电路测试的数字接口的
A / D ，有一个测试模式，迫使A / D转换数据输出
（ D13 - D0）所有通道为已知值。数码
输出测试模式由串行编程启用
模式控制寄存器A3和A4 。当启用时，
测试模式覆盖所有其他格式模式： 2的
补充和随机数发生器。
输出禁用
数字输出可以通过串行编程停用
模式控制寄存器A2 。当前驱动器的全数字化
输出，包括DCO和FR ，被禁止以节省电力
或启用在线测试。当禁用，共同
每对输出的模式变为高阻抗，但
差分阻抗保持较低水平。
睡眠和打盹模式
A / D转换可放置在睡眠或打盹模式，以节省
力。在睡眠模式下，整个芯片断电，
导致1mW的功率消耗。睡眠模式
通过模式控制寄存器A1启用（串行编程
明模式），或通过SDI（并行编程模式）。
所需的时间从睡眠模式中恢复
取决于对V旁路电容的大小
REF
,
REFH和REFL 。对于图8中所建议的值，则
2MS经过A / D将趋于稳定。
在打盹模式下的A / D通道的任意组合可
断电而内部参考电路和
PLL保持活跃，从而实现更快的唤醒比睡眠
模式。从休眠模式中恢复至少需要100
时钟周期。如果应用程序需要非常精确的DC
沉淀，再追加为50μs应该允许这样的
片内基准可以从轻微的温度定居
SCK
移位引起的供电电流的A / D的变化
叶打盹模式。打盹模式由模式控制启用
在串行编程模式寄存器A1 。
器件编程模式
该LTC2265-14 / LTC2264-14 /的操作模式
LTC2263-14可以通过一个并行编程
接口或一个简单的串行接口。串行接口
有更多的灵活性，并可以设定所有可用的模式。
并行接口较为有限，只能计划
一些较常用的模式。
并行编程模式
使用并行编程模式， PAR / SER应
连接到V
DD
。该
CS ，
SCK ， SDI和SDO引脚是二进制
逻辑输入，设定一定的操作模式。这些引脚
可以连接到V
DD
或接地，或驱动由1.8V，2.5V或
3.3V CMOS逻辑。当作为输入使用时，SDO应
通过一个1K串联电阻驱动。表3示出了
通过模式设置
CS ，
SCK ， SDI和SDO 。
表3.并行编程模式控制位（ PAR / SER = V
DD
)
针
CS
描述
2巷/ 1 -里选择位
0 = 2车道， 16位序列号输出模式
1 = 1巷， 14位序列号输出模式
LVDS当前选择位
0 = 3.5毫安LVDS电流模式
1 = 1.75毫安LVDS电流模式
SDI
掉电控制位
0 =正常运行
1 =睡眠模式
SDO
内部端接选择位
0 =内部终端禁用
1 =内部启用终端
串行编程模式
要使用串行编程模式， PAR / SER应
接地。该
CS ，
SCK ， SDI和SDO引脚变为
串行接口，编程A / D模式控制
寄存器。数据被写入一个寄存器具有16位串行
字。数据也可以从寄存器读回以验证
其内容。
22654314f
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