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恩智浦半导体
LPC2939
ARM9微控制器的CAN ，LIN和USB
9.6动态特性：外部静态存储器
表42.外部静态存储器接口动态特性
V
DD （ CORE）
= V
DD （ OSC_PLL ）
; V
DD （ IO ）
= 2.7 V至3.6 V ; V
DDA(ADC3V3)
= 3.0 V至3.6 V ;所有电压都相对于
地面上。
[1]
符号
T
CLCL
t
一（R ） INT
t
一（ W） INT
t
CSLAV
t
OELAV
t
CSLOEL
t
SU（ DQ ）
t
H（ D）
t
CSHOEH
参数
时钟周期时间
内部读取访问时间
内部写访问时间
CS低到地址有效
时间
OE低到地址有效
时间
CS低到OE低电平时间
数据输入/输出设置
时间
数据输入保持时间
CS高到OE高时间
条件
民
8
-
-
5
5
WSTOEN
T
CLCL
-
11
0
-
-
-
-
典型值
-
-
-
2.5
2.5
WSTOEN
T
CLCL
0 + WSTOEN
T
CLCL
16
2.5
0
最大单位
100
ns
20.5纳秒
24.9纳秒
-
-
-
22
5
-
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
读周期参数
t
BLSLBLSH
BLS低到高BLS时间
t
OELOEH
t
BLSLAV
OE低到OE高时间
BLS低到地址有效
时间
CS高BLS的高电平时间
CS低到WE低电平时间
CS低到BLS低电平时间
WE低到数据有效时间
CS低到数据有效时间
WE低到高WE时间
[4]
[3]
[2]
(WST1
WSTOEN 1 ）
-
T
CLCL
(WST1
WSTOEN 1 ）
-
T
CLCL
0 + WSTOEN
T
CLCL
-
写周期参数
t
CSHBLSH
t
CSLWEL
t
CSLBLSL
t
WELDV
t
CSLDV
t
WELWEH
-
-
-
-
0.5
-
-
0
WSTWEN
T
CLCL
0.1
-
-
0.3
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
（ WSTWEN + 0.5）
T
CLCL
-
（ WSTWEN + 0.5）
T
CLCL
-
(WST2
WSTWEN 1 ）
-
T
CLCL
（ WST2 - WSTWEN 2 ）
T
CLCL
-
t
BLSLBLSH
BLS低到高BLS时间
[1]
所有参数都保证在虚拟的结温范围内的设计。预测试是在T进行
AMB
= 85
C
环境
温度对晶圆级。套色产品在T测试
AMB
= 25
C
（最终测试）。这两种预测试和最终测试使用相关
试验条件下，以覆盖指定的温度和电源电压范围。
当字节通道选择信号，用于连接所述写使能输入端（ 8位器件），叔
CSHBLSH
=
0.5
T
CLCL
.
当字节通道选择信号，用于连接所述写使能输入端（ 8位器件），叔
CSLBLSL
= t
CSLWEL
.
对于16位和32位器件。
[2]
[3]
[4]
LPC2939_3
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产品数据表
版本03 - 2010年4月7日
79 99
