汽车的eX系列FPGA
边界扫描测试（BST）
所有的EX设备都符合IEEE 1149.1标准。 EX设备报价
通过提供卓越的诊断和测试能力
边界扫描测试（ BST ）和探测能力。
这些功能是通过专门的测试控制
引脚（ TMS ， TDI ， TCK ， TDO和TRST ） 。的功能
每个引脚由两个可用的模式定义，专用
和灵活，并在描述
表1-3 。
在
专用测试模式下，TCK， TDI和TDO专用
销，并且不能用作普通的I / O操作。在灵活的方式
（默认模式） ， TMS应设置高通过上拉
高达10 kΩ的电阻。 TMS可以拉为低电平启动
该测试序列。
表1-3
边界扫描引脚功能
专用的测试模式
灵活的模式
灵活的模式
在弹性模式， TDI，TCK和TDO可以用作
无论是用户I / O或JTAG输入引脚。内部
在TMS和TDI引脚电阻是灵活的禁用
JTAG模式，和一个外部10 k上拉电阻到V
CCI
is
TMS管脚必需的。
要选择灵活的模式，用户需要取消选中
"Reserve JTAG"箱"Device选择Wizard"在
Actel的Designer软件。 TDI ， TCK的功能，
和TDO引脚由BST TAP控制器控制。该
TAP控制器接收两个控制输入; TMS和TCK 。
上电时， TAP控制器进入Test-逻辑电
复位状态。在这种状态下， TDI ，TCK和作为TDO功能
用户I / O 。在TDI ，TCK和TDO引脚转换
从用户I / O为BST引脚时， TMS引脚为低电平
TCK的第一个上升沿。在TDI ，TCK和TDO引脚
返回到用户I / TMS时保持高至少五O的
TCK周期。
表1-4
描述
该
不同
CON组fi guration
的BST销的要求以及它们在功能上
不同的模式。
表1-4
边界扫描引脚配置和
功能
设计师
"Reserve JTAG"
选择
检查
选中
选中
TAP控制器
状态
任何
测试逻辑复位
以外的任何测试 -
逻辑复位
TCK ， TDI ， TDO有专门的TCK ， TDI ， TDO是灵活的，
BST引脚
可以用作I / O的
不需要上拉电阻器的使用10 k的上拉电阻
TMS和TDI
在TMS
专用的测试模式
在专用模式下，所有的JTAG管脚被保留用于BST ;
设计师不能把它们作为普通的I / O 。内部
上拉电阻上都TMS自动启用
和TDI管脚，和TMS引脚将用作在定义
在IEEE 1149.1 （JTAG）说明书中。
要选择专用模式，用户需要保留JTAG
在Actel的Designer软件引脚通过检查
在"Device选择Wizard" "Reserve JTAG"盒
（图
1-12).
JTAG管脚符合LVTTL / TTL I / O
说明书中，无论它们是否被用作一个
用户I / O或JTAG I / O 。参阅
"3.3 V LVTTL电
1-13页Specifications"节
有关详细
特定连接的阳离子。
模式
专用（JTAG）
灵活的（用户I / O）
灵活的（JTAG）
TRST引脚
在TRST引脚用作专用边界扫描
复位引脚，当"Reserve JTAG测试Reset"选项
所示选择
图1-12 。
一个内部上拉
电阻TRST管脚在这个永久启用
模式。建议将该引脚连接到GND在
正常操作，以保持在JTAG状态控制器在
测试逻辑复位状态。当JTAG正在被使用，它
可以悬空或者被驱动为高电平。
当"Reserve JTAG测试Reset"选项不可
选择时，该引脚用作常规I / O 。如果未使用
作为一个I / O的设计，它将被配置为三态
输出。
图1-12
设备选择向导
1 -8
v3.2
