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25LCXXX
表1-2：
AC特性
扩展（H）：
分钟。
—
—
100
150
200
250
50
20
30
40
50
—
—
100
150
100
150
50
50
—
—
0
—
—
40
80
40
80
60
160
60
160
—
1,000,000
T
A
= -40 ° C至+ 150°C
马克斯。
5
3
—
—
—
—
—
—
—
—
—
2
2
—
—
—
—
—
—
100
160
—
80
160
—
—
—
—
—
—
—
—
6
—
单位
兆赫
兆赫
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
μs
μs
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ms
V
CC
= 2.5V至5.5V
测试条件
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
—
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
（注1 ）
（注1 ）
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
—
—
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
（注1 ）
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V(Note
1)
2.5V
≤
VCC
≤
4.5V(Note
1)
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V(Note
1)
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V(Note
1)
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
（注2 ）
AC特性
参数。
符号。
号
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
F
CLK
T
CSS
T
CSH
T
惩教署
TSU
T
HD
T
R
T
F
T
HI
T
LO
T
CLD
T
CLE
T
V
T
HO
T
DIS
T
HS
T
HH
T
HZ
T
HV
T
WC
—
特征
时钟频率
CS建立时间
CS保持时间
CS禁用时间
数据建立时间
数据保持时间
CLK上升时间
CLK下降时间
时钟高电平时间
时钟低电平时间
时钟延迟时间
时钟使能时间
时钟输出有效
低
输出保持时间
输出禁止时间
HOLD建立时间
HOLD保持时间
HOLD低到输出
高-Z
高举到输出
有效
内部写周期时间
耐力
东/西页模式， 25 ° C，V
CC
= 5.5V
（注3）
周期
注1 ：
此参数是周期性采样，而不是100 ％测试。
2:
T
WC
开始在CS的后一个有效的写序列的上升沿和结束该内部写入周期时
就完成了。
3:
该参数没有进行测试，但性能可以保证。对于一个具体的估计耐用
应用程序，请参考这可以从我们的网站上获得的Total Endurance模型：
www.microchip.com 。
DS22131C第4页
初步
2009年Microchip的科技公司
