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25LCXXX
1.0
电气特性
绝对最大额定值
()
V
CC
.............................................................................................................................................................................6.5V
所有输入和输出w.r.t. V
SS
..........................................................................................................-0.6V到V
CC
+1.0V
储存温度................................................................................................................................. -65℃ 155℃
在环境温度bias........................................................................................................... -40 ° C至150℃
(1)
所有的ESD保护pins.......................................................................................................................................... 4千伏
注1 ：
AEC -Q100可靠性测试的目的，在150 ℃下进行操作的设备为1000小时。任何设计，其中
在125 ° C和150 °C时总运行时间将大于1,000小时不保证与 -
Microchip的公司进行事先书面批准
注意：如果运行条件超过上述“绝对最大额定值”，可能会造成永久性损坏
装置。这只是额定和器件运行在超过或任何其他条件超出上述
本说明书中的操作列表表示是不是暗示。暴露在极限条件下的
在相当长时间内可能会影响器件的可靠性。
表1-1：
DC特性
扩展（H）：
分钟。
.7 V
CC
-0.3
-0.3
—
—
V
CC
-0.5
—
—
—
T
A
= -40 ° C至+ 150°C
马克斯。
V
CC
+1
0.3V
CC
0.2V
CC
0.4
0.2
—
±2
±2
7
单位
V
V
V
V
V
V
μA
μA
pF
V
CC
≥
2.7V
V
CC
＆ LT ; 2.7V
I
OL
= 2.1毫安
I
OL
= 1.0毫安
I
OH
= -400
μA
CS = V
CC
, V
IN
= V
SS或
V
CC
CS = V
CC
, V
OUT
= V
SS或
V
CC
T
A
= 25°C ， CLK = 1.0 MHz时，
V
CC
= 5.0V
（注）
V
CC
= 5.5V ; F
CLK
= 5.0 MHz的;
SO =打开
V
CC
= 2.5V ; F
CLK
= 3.0 MHz的;
SO =打开
V
CC
= 5.5V
V
CC
= 2.5V
CS = V
CC
= 5.5V ，输入连接到V
CC
or
V
SS
, 150°C
V
CC
= 2.5V至5.5V
测试条件
DC特性
参数。
号
D001
D002
D003
D004
D005
D006
D007
D008
D009
符号。
V
IH1
V
IL1
V
IL2
V
OL1
V
OL2
V
OH
I
LI
I
LO
C
INT
特征
高级别输入
电压
低电平输入
电压
低电平输出
电压
高电平的输出
电压
输入漏电流
输出漏
当前
内部电容
（所有输入和
输出）
D010
I
CC
读
工作电流
—
—
5
2.5
mA
mA
mA
mA
μA
D011
D012
注意：
I
CC
写
I
CCS
待机电流
—
—
—
5
3
10
此参数是周期性采样，而不是100 ％测试。
2009年Microchip的科技公司
初步
DS22131C第3页
