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电气和热特性
图11提供的AC测试负载的TDO与MPC755的边界扫描输出。
产量
Z
0
= 50
OV
DD
/2
R
L
= 50
图11. AC测试负载的JTAG接口
图12提供了JTAG时钟输入时序图。
TCLK
VM
t
JHJL
t
TCLK
VM =中点电压（ OV
DD
/2)
VM
VM
t
JR
t
JF
图12. JTAG时钟输入时序图
图13提供了TRST时序图。
TRST
VM
t
TRST
VM =中点电压（ OV
DD
/2)
VM
图13. TRST时序图
图14提供了边界扫描时序图。
TCK
VM
t
DVJH
边界
数据输入
t
JLDV
t
JLDH
边界
数据输出
t
JLDZ
边界
数据输出
输出数据有效
产量
数据
有效
VM
t
DXJH
输入
数据有效
VM =中点电压（ OV
DD
/2)
图14.边界扫描时序图
20
MPC755 RISC微处理器硬件规格
摩托罗拉
