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DG3157A ， DG3157B
Vishay Siliconix公司
测试电路
V+
逻辑
输入
A
V
O
R
L
50
Ω
C
L
35 pF的
V
SH
V
SL
t
r
＆ LT ; 5纳秒
t
f
＆ LT ; 5纳秒
V+
B
1
B
0
B
1
B
0
VB = VB
0
1
V
O
90 %
S
GND
开关
0V
产量
t
D
t
D
C
L
（包括网络连接夹具和杂散电容）
图4.先开后合做区间
V+
R
根
+
V
根
V
S
= 0 - V+
V+
B
0
或B
1
S
GND
A
V
A
V
OUT
C
L
= 1 nF的
S
On
OUT
关闭
Q=
乘C
L
On
OUT
在依赖于交换机配置：输入极性
通过开关的意识决定的。
图5.电荷注入
V+
10 nF的
10 nF的
V+
V+
B
0
或B
1
S
A
0 V, 2.4 V
S
0 V, 2.4 V
V+
A
计
HP4192A
阻抗
分析仪
或同等学历
F = 1 MHz的
B
0
或B
1
R
L
GND
GND
分析仪
V
A
关断隔离= 20日志V
B
0
/B
1
图6.关断隔离
图7.通道关闭/打开电容
日前，Vishay Siliconix公司维护着全球制造能力。产物可以在几个合格的位置之一来制造。对于硅技可靠性数据
术和封装可靠性的代表资格全部位置的复合材料。对于相关的文件，如包/带图纸，零件标记和可靠性
数据见
http://www.vishay.com/ppg?68628 。
www.vishay.com
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文档编号： 68628
S- 81944 -REV 。 C， 25 - 8 - 08
