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ADS4126 ， ADS4129
ADS4146 ， ADS4149
SBAS483D - 2009年11月 - 修订2010年4月
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表6. CMOS时序跨越采样频率（低延时关闭）
定时指明相对于输入时钟
采样频率
（ Msps的）
250
230
200
185
170
N+2
t
开始
（纳秒）
民
典型值
最大
1.6
1.1
0.3
0
–1.3
N+3
N+4
N + 10
t
DV
（纳秒）
民
2.5
2.9
3.5
3.9
4.3
典型值
3.2
3.5
4.2
4.5
5.0
N + 11
N + 12
最大
样品N
输入信号
t
A
CLKP
输入时钟
CLKM
CLKOUTM
CLKOUTP
N+1
t
H
DDR LVDS
输出数据
（ DXP DXM ）
,
(2)
t
PDI
10个时钟周期
E
O
E
O
E
O
E
O
E
(1)
t
SU
O
E
O
E
O
E
O
E
O
E
O
N
-
10
N
-
9
N
-
8
N
-
7
N
-
6
N
t
PDI
N+1
N+2
CLKOUT
并行CMOS
t
SU
10个时钟周期
输出数据
N
-
10
N
-
9
N
-
8
(1)
t
H
N
-
1
N
N+1
N
-
7
（1） ADC的延迟在低等待时间模式。在较高的采样频率，叔
DPI
大于1个时钟周期，然后使整体
延时= ADC延迟+ 1 。
（2） E =偶位（ D0 ，D2，D4等）。 O =奇数位（ D1 ， D3 ， D5 ，等） 。
图4.延迟图
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