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电气特性
3.15
号
1
2
3
4
5
6
7
FLASH存储器的电气特性
表26.闪存编程和擦除电气规范
符号
参数
最小值典型值
1
—
—
—
—
—
—
—
39
48
待定
待定
待定
待定
待定
出厂初始寿命
单位
AVG
2
最大
3
最大
4
—
53
待定
待定
待定
待定
待定
—
100
500
750
900
1300
500
500
5000
5000
5000
7500
s
s
ms
ms
ms
ms
ms
T
dwprogram
*
5
双字（ 64位）程序时间
6
T
pprogram
*
5
页面（128位）的节目时间
6
T
16KPPERASE
*
5
16 KB数据块的预编程和擦除时间
T
48KPPERASE
*
5
48 KB数据块的预编程和擦除时间
T
64KPPERASE
*
5
64 KB数据块的预编程和擦除时间
T
128KPPERASE
*
5
128 KB块预编程和擦除时间
T
256KPPERASE
*
5
256 KB块预编程和擦除时间
2600 15000
注意事项：
1
典型的编程和擦除时间假定在T = 25标称电源值和操作
°C.
这些值是
J
特征值，但未经测试。
2
工厂平均编程和擦除时间是指有效的绩效平均超过> 1024页或块，
并提供工厂产量估计假设< 100编程/擦除周期，标称电源值和
运行在T
J
= 25
°C.
这些值的特点，而不是测试。
3
最大初始编程和擦除在工厂使用的超时限制时间提供指导和办理< 100
编程/擦除周期，标称电源值和运行在T
J
= 25
°C.
这些值在生产测试进行验证。
4
寿命最大编程和擦除时间申请两端的电压，温度和循环产品寿命范围内。这些
值的特点，而不是测试。
5
看到个别规格备注，如图列标题。
6
实际的硬件编程时间。这些不包括软件开销。
表27.闪存模块寿命
价值
号
符号
参数
民
1
2
P / E
P / E
C
C
项目数/擦除每块周期16 KB ， 48 KB ，
100,000
而在整个工作温度范围为64 KB块
1
每块的编程/擦除周期为128 KB和数量
256 KB块在整个工作温度范围内
1
.
1,000
典型值
—
100,000
2
（ TBD）的
最大
—
—
周期
周期
单位
3
最小的数据保存在85 ℃的平均环境
温度
3
与0-1,000 P / E循环块
保持能力
有1,001-10,000 P / E循环块
有10,001-100,000 P / E循环块
20
10
5
—
—
—
—
—
—
岁月
注意事项：
1
工作温度范围为T -40
°C
150
°C.
J
典型的耐力将在25评价
o
C.产品资质进行到最小规格。为
在典型的耐力的定义飞思卡尔的更多信息，请参见工程公告EB619 ，
典型的耐力的非易失性存储器。
2
典型的P / E循环为10万次为128 KB和256 KB的块。有关飞思卡尔的更多信息
典型的耐力的定义，请参见工程公告EB619 ，
典型的耐力非易失性
内存。
3
环境温度的平均值应用的持续时间，以不超过产品的工作温度范围。
MPC5643L微控制器数据手册，第3
飞思卡尔半导体公司
初步-如有更改，恕不另行通知
77
由于从美国国际贸易委员会的命令， BGA封装生产线和部分数字在这里表示目前不提供
飞思卡尔在美国进口或销售前的2010年9月： MPC5643L产品在257 MAPBGA包
