KAD5512P
CLKN
CLKP
SNR CHANGE （ dBFS的）
3
校准
时间
RESETN
校准
BEGINS
ORP
校准
完整
CLKOUTP
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-40
-15
CAL DONE AT
+85°C
CAL DONE AT
-40°C
10
35
CAL DONE AT
+25°C
60
85
温度（℃）
图24.时序校准
图25. SNR性能与温度
15
10
5
0
-5
-10
-15
-40
-15
CAL DONE AT
+85°C
10
35
温度（℃）
CAL DONE AT
+25°C
60
85
CAL DONE AT
-40°C
用户启动的复位
ADC的校准可以在任何时候通过启动
驾驶RESETN引脚拉低了至少一个时钟
周期。开漏驱动器，具有小于0.5毫安
开漏状态，建议使内部高
阻抗上拉至OVDD可以从复位保证出口
状态。既然是这样在上电复位时，SDO ，
RESETN和DNC引脚必须处于正常状态的
校准成功执行。
与KAD5512P的性能变化
的温度变化，电源电压或取样速率。
这些变化的程度，可能需要
重新校准，这取决于系统的性能
要求。最佳的性能将是实现
的环境条件下，重新校准ADC的
在其中工作。
对更小的电源电压变化超过100mV的意志
通常导致小于0.5dBFS的SNR变化
小于3dBc和SFDR变化。
在情况下，采样率不是恒定的，最好
如果该装置被校准以将结果得到的
最高的采样率。由小于降低采样速率
75MSPS通常会导致更小的信噪比的变化比
0.5dBFS和小于3dBc的SFDR变化。
图25和图26示出了温度对效果
SNR和SFDR性能进行标定
在-40℃ ， + 25 ℃， + 85 ℃。每个图显示
SNR / SFDR的整个温度变化后，单
校准，在-40 ° C， + 25 ° C和+ 85°C 。最好的
性能典型地由用户启动的实现
在操作条件下的校准，如前所述。
然而，可以看出与性能漂移
温度不是的功能十分强大
温度下进行校准。全
额定性能上电后可实现
校准无关的操作条件。
SFDR CHANGE （ DBC）
图26. SFDR性能与温度
模拟量输入
ADC内核包含一个全差分输入
（ VINP / VINN ）到采样和保持放大器（SHA ） 。该
理想的满量程输入电压为1.45V ，中心在
0.535V的VCM的电压，如图27 。
当模拟输入是获得最佳性能
差分驱动。所述共模输出电压
VCM ，应采用适当的偏压输入作为
30.通过射频变压器，如图28将
给出最佳噪声和失真性能
宽带和/或高的中频（IF ）
输入。两个不同的变压器输入方案是
在图28和图29所示。
1.8
1.4
1.0
0.6
0.2
0.725V
INP
VCM
0.535V
客栈
图27.模拟输入范围
19
FN6807.4
2010年10月1日
